专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]双模式射线检测装置-CN202222860834.2有效
  • 王海鹏;孟德龙;李保磊;徐圆飞;刘念;谷柱 - 北京航星机器制造有限公司
  • 2022-10-28 - 2023-04-18 - B07C5/34
  • 本实用新型涉及一种双模式射线检测装置,属于射线无损检测领域,解决了现有技术检测过程中不能对回转体工件进行单壁透照的问题以及无法实现多模式扫描的问题。检测装置包括射线机立柱、射线机、工件转台、大探测、大探测立柱、小探测悬臂和小探测射线机可俯仰的安装于射线机立柱上,并可沿射线机立柱上下滑动;大探测可俯仰的安装于大探测立柱上,并可沿大探测立柱上下滑动;小探测悬臂与射线机立柱垂直固连,小探测安装于所述小探测悬臂上,并可沿所述小探测悬臂进行上下左右移动,且所述小探测能够深入到所述待检测工件内部进行检测。
  • 双模射线检测装置
  • [发明专利]基于X射线衍射的光子计数探测能量响应标定系统-CN202211370041.0在审
  • 张丽;梁凯超;邢宇翔;陈志强;高河伟;王振天;邓智 - 清华大学
  • 2022-11-03 - 2023-02-24 - G01T1/36
  • 本申请公开了一种基于X射线衍射的光子计数探测能量响应标定系统,包括:X射线源;将X射线形成笔束X射线的笔束准直,晶体样本,笔束X射线照射晶体样本后产生衍射X射线;阻挡笔束X射线透过晶体样本后形成的透射X射线的透射阻挡探测衍射X射线的特征衍射能量的光子计数探测;控制,用于调整X射线源参数筛选到达光子计数探测的预设特征衍射能量,以及控制光子计数探测平移,使得光子计数探测与衍射X射线的衍射角在预设角度范围内连续变化,测量光子计数探测在每个位置的预设特征衍射能量下的探测能量响应,进行光子计数探测能量响应标定。该系统无需依赖仿真建模及数学参数模型,可直接进行探测的能量响应标定。
  • 基于射线衍射光子计数探测器能量响应标定系统
  • [实用新型]一种车辆检测仪探测校准装置-CN202020851467.8有效
  • 奚易堃;常宏 - 北京曼德克环境科技有限公司
  • 2020-05-20 - 2020-12-01 - G01N23/04
  • 本实用新型公开了交通和运输管理部门的无损检测技术领域的一种车辆检测仪探测校准装置,包括设备屏蔽室和射线探测门架,所述设备屏蔽室内设置有射线源装置,所述射线探测门架的内部分别设有射线探测、密封校准板和与所述密封校准板相连接的密封校准板牵引装置,所述射线探测门架的一侧还安装有数据采集处理与控制系统,所述数据采集处理与控制系统通过信号线分别连接射线源装置、射线探测、密封校准板和密封校准板牵引装置,通过校准装置可自动对射线探测进行校准,不需拆下探测单独校准,确保探测长时间准确工作。
  • 一种车辆检测探测器校准装置
  • [实用新型]一种车辆装载物检测仪-CN202021615354.4有效
  • 奚易堃;常宏 - 北京曼德克环境科技有限公司
  • 2020-08-06 - 2021-09-24 - G01V5/00
  • 本实用新型提供了一种车辆装载物检测仪,包括透射射线探测门架、设备屏蔽室、车辆信号触发、数据采集处理与控制系统,以及设置在设备屏蔽室内的射线源、射线预准直、高压供电设备、射线源冷却系统、带屏蔽的射线快门和扇形束准直,所述设备屏蔽室设置在公路上被检车辆的一侧,所述透射射线探测门架内设置有射线低能量探测射线高能量探测,所述射线低能量探测射线高能量探测之间设置有屏蔽材料,所述射线源发射的射线依次穿过射线低能量探测、屏蔽材料与射线高能量探测。本实用新型可利用高能射线对车辆装载物进行透射成像分析和检测,具有检测速度高、成像清晰、部件结构化易组合且不会对环境造成任何污染的优点。
  • 一种车辆装载检测
  • [发明专利]用于X射线相衬断层合成成像的探测和成像系统-CN201580063910.7有效
  • E·勒斯尔 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2015-11-17 - 2021-03-05 - A61B6/02
  • 本发明涉及用于X射线相衬断层合成成像的X射线探测布置(10),用于X射线相衬断层合成成像的线探测(1),用于X射线相衬断层合成成像的成像系统(24),用于X射线相衬断层合成成像的方法,以及用于控制这种布置的计算机程序元件和存储了这种计算机程序元件的计算机可读介质所述X射线探测布置(10)包括若干线探测(1)。每个线探测(1)被配置为在撞击这种线探测(1)的X射线束(2)的至少一部分中探测莫尔图样。每个线探测(1)包括若干探测线(11),其中,每个线探测(1)的宽度W等于莫尔图样的一个周期或整数倍的周期。
  • 用于射线断层合成成像探测器系统

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