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[发明专利]一种X射线吸收谱测量系统-CN202110446563.3在审
发明人：侯华明;周雄;温晓东;杨勇;李永旺 -专利权人：中科合成油技术有限公司
申请日： 2021-04-25 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G01N23/085 文献下载
摘要：本发明涉及一种X射线吸收谱测量系统，该系统包括：X射线源，被配置为通过电子束轰击靶材产生X射线；X射线晶体组，至少包括两个不同类型且可切换使用的X射线晶体，两个X射线晶体对X射线衍射方向垂直，被配置为完成XANES谱测量或EXAFS谱测量；探测器阵列，包括第一X射线面阵探测器和第二X射线面阵探测器，被配置为实现XANES谱测量和EXAFS谱测量的X射线探测，其中，第一X射线面阵探测器和第二X射线面阵探测器的探测面正交设置；信号接收器，被配置为对接收的探测信号进行处理，获得X射线吸收谱测量结果。本发明能保证获得的X射线吸收谱具有较高的能量分辨率，近边吸收谱和远边吸收谱分段优化测量，提高测量效率。
一种射线吸收测量系统

[发明专利]一种架空线路耐张线夹的X射线检测装置及其检测方法-CN202011117459.1有效
发明人：方玉群;崔建业;秦威南;郑宏伟;顾浩;傅卓君;蒋卫东;赵凯美;张帆;朱凯 -专利权人：国网浙江省电力有限公司金华供电公司
申请日： 2020-10-19 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01N23/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种架空线路耐张线夹的X射线检测装置，包括X射线源、探测器和支架，所述X射线源和探测器分别设在支架两端，所述X射线源将X射线照射到探测器上，所述待检测耐张线夹处于探测器表面X射线照射区域，所述探测器两侧设有供检测装置在线路上滑动的滑轮本发明的优点在于，该X射线检测装置可以在线路上进行滑动。另外本发明还展示了一种架空线路耐张线夹的检测方法。
一种架空线路耐张线夹射线检测装置及其方法

[实用新型]探测器阵列及设备-CN200620022987.8无效
发明人：王学武;陈志强;李元景;钟华强;张清军;赵书清 -专利权人：清华大学;清华同方威视技术股份有限公司
申请日： 2006-05-19 - 公布日： 2007-09-12 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：公开了一种探测器阵列，包括：探测穿透被检物体的第一多个部分第一射线和第二射线的第一线阵探测器，其中第二射线和第一射线是交替发射的；以及与所述第一线阵探测器平行设置、探测穿透所述被检物体的第二多个部分的第一射线和第二射线的第二线阵探测器利用所述探测器阵列，能够提高交替双能射线对被检物体的扫描检查效率和材料识别正确率。
探测器阵列设备

[发明专利]辐射成像系统-CN202210172712.6在审
发明人：李俊江;陈志强;陆宏宇;冀利岗;夏炎;刘雄辉;叶青;李砚涛 -专利权人：北京固鸿科技有限公司
申请日： 2022-02-24 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本公开的实施例公开了一种用于工件的辐射成像系统，包括：承载组件，用于承载待检测的工件；射线源组件和探测器组件，所述射线源组件和所述探测器组件分别设置在所述承载组件的两侧，所述射线源组件用于发出射线，所述探测器组件用于接收射线；以及移动组件，所述移动组件设置在所述射线源组件、所述探测器组件和所述承载组件的下侧，所述移动组件用于带动所述射线源组件、所述探测器组件和所述承载组件全向移动。本公开的实施例在所述辐射成像系统中，承载组件、射线源组件和探测器组件通过移动组件可获得多个自由度的运动，方便调整三者的相对位置关系，使得扫描方式更灵活，适应性更强。
辐射成像系统

[发明专利]多功能X射线成像装置-CN201811588689.9在审
发明人：郑健;唐杰;陈安平;袁刚;马昌玉;刘兆邦 -专利权人：苏州斯玛维科技有限公司
申请日： 2018-12-25 - 公布日： 2019-03-08 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明公开了一种多功能X射线成像装置，包括工作站、运动控制器和多功能X射线成像装置本体；多功能X射线成像装置本体包括底座、X射线源位移驱动机构、样品台位移驱动机构、探测器位移驱动机构、X射线源组、样品台及探测器组本发明的多功能X射线成像装置包含两套X射线源和探测器，可根据待测零件密度、零件尺寸及成像分辨率要求自由选择对应的X射线源和探测器组合，X射线源可沿Y轴和Z轴方向进行位置调节，探测器可沿X轴、Y轴和Z轴方向进行位置调节，同时X射线源和探测器在Y轴和Z轴方向可进行位置调整，设备可根据成像需要进行二维摄影、层析成像和断层成像。
探测器位移驱动机构位置调节样品台成像分辨率运动控制器层析成像待测零件断层成像探测器组位置调整自由选择底座二维两套成像工作站摄影

[发明专利]一种多视角垂直底照X射线安检机-CN202010761285.6在审
发明人：李国军 -专利权人：李国军
申请日： 2020-07-31 - 公布日： 2020-10-30 - 主分类号： G01V5/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种多视角垂直底照X射线安检机。采用中部底照宽扇形角X射线源和倒U形透射探测器阵列，中部底照宽扇形角X射线源安装于底座的中间和安检通道的下方部位，X射线源发出的X射线锥束经准直器形成扇形束，然后透过行李，被倒U形透射探测器阵列接收。其中，倒U形透射探测器阵列呈倒U形分布于左侧壁、右侧壁和顶板上，且位于中部底照扇形角X射线源的正上方；每个透射探测器的接受面均与所述中部底照宽扇形角X射线源和所述透射探测器组成的连线垂直，以使所述中部底照宽扇形角X射线源发出的射线垂直入射进入所述透射探测器。本发明采用三面传感探测，安检精度显著提高，解决射线接收面不能与射线完全垂直的问题。
一种视角垂直射线安检

[发明专利]X射线平面探测器的空间分辨率测量装置-CN201610028408.9有效
发明人：杨志文;刘慎业;陈韬;袁铮;李晋;黎宇坤;高扬;余建;董建军 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-01-18 - 公布日： 2018-01-12 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种X射线平面探测器的空间分辨率测量装置，该装置包括X射线发生装置、分辨率板、滤片和X射线平面探测器，分辨率板和X射线平面探测器之间设有针孔，X射线发生装置发出的中心光线依次穿过分辨率板的中心、滤片的中心、针孔、X射线平面探测器的感光面的中心。平移台I驱动分辨率板沿光路方向运动、平移台II驱动针孔沿光路方向运动，以调节针孔成像系统的放大倍数，使分辨率板成像到X射线平面探测器的感光面上，生成被测线对束。本发明的X射线平面探测器的空间分辨率测量装置提高了空间分辨率和测量准确度，降低了分辨率板制作难度，且不损伤X射线平面探测器的感光面。
射线平面探测器空间分辨率测量装置

[实用新型]X射线平面探测器的空间分辨率测量装置-CN201620041084.8有效
发明人：杨志文;刘慎业;陈韬;袁铮;李晋;黎宇坤;高扬;余建;董建军 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-01-18 - 公布日： 2016-07-06 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种X射线平面探测器的空间分辨率测量装置，该装置包括X射线发生装置、分辨率板、滤片和X射线平面探测器，分辨率板和X射线平面探测器之间设有针孔，X射线发生装置发出的中心光线依次穿过分辨率板的中心、滤片的中心、针孔、X射线平面探测器的感光面的中心。平移台I驱动分辨率板沿光路方向运动、平移台II驱动针孔沿光路方向运动，以调节针孔成像系统的放大倍数，使分辨率板成像到X射线平面探测器的感光面上，生成被测线对束。本实用新型的X射线平面探测器的空间分辨率测量装置提高了空间分辨率和测量准确度，降低了分辨率板制作难度，且不损伤X射线平面探测器的感光面。
射线平面探测器空间分辨率测量装置

[发明专利]探测器阵列及设备-CN200610011943.X有效
发明人：王学武;陈志强;李元景;钟华强;张清军;赵书清 -专利权人：清华大学;清华同方威视技术股份有限公司
申请日： 2006-05-19 - 公布日： 2007-11-21 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：公开了一种探测器阵列，包括：第一线阵探测器，用于探测穿透被检物体的至少一个部分的第一射线；第二线阵探测器，与所述第一线阵探测器平行设置，用于探测与所述第一射线交替发射并穿透所述至少一个部分的第二射线。利用所述探测器阵列，能够提高交替双能射线对被检物体的扫描检查效率和材料识别正确率。
探测器阵列设备

[发明专利]Si-PINX射线探测器测量放射性气体测量室-CN201711497081.0有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：中国人民解放军63653部队
申请日： 2017-12-31 - 公布日： 2021-05-28 - 主分类号： G01T1/167 文献下载
摘要：本发明涉及放射性气体测量领域，为Si‑PINX射线探测器测量放射性气体测量室，X射线探测器直接插入气体测量室的罐体，圆柱形X射线探测器外部的O型密封圈压入罐体上设有的圆弧凹槽内；气体测量室的罐盖内侧面扣装PIPS探测器，罐盖外侧面通过螺纹安装有BNC真空接头；两个Si‑PINX射线探测器依次套装有紧固件和O型密封圈，并通过紧固件和O型密封圈插入气体测量室的罐体；进气/出气孔通过快插接头和气路连接；气体测量室的罐体内底面放置密封垫圈本发明避免了对X射线的衰减，提高了探测效率；气体测量室两侧分别安装X射线探测器和PIPS探测器，能用于X射线和β射线符合测量。
si pinx 射线探测器测量放射性气体

[实用新型]一种X射线荧光光谱仪-CN201621073180.7有效
发明人：秦敏;易龙涛;韩悦;张爽;刘志国 -专利权人：北京师范大学
申请日： 2016-09-22 - 公布日： 2017-04-26 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种X射线荧光光谱仪，其包括X射线管，用于发出X射线；样品台，用于放置待检测样品；会聚透镜，设置在X射线管和样品台之间，X射线管发出的X射线经会聚透镜出射到样品台；探测器，探测来自样品台上的样品的X射线；平行束透镜，设置在样品台和探测器之间，来自样品的X射线经平行束透镜到达探测器；摄像头，用于获取样品图像；样品台位置调节装置，用于在至少三维方向上调节样品台的位置，样品台固定于样品台位置调节装置上；探测器位置调节装置，用于在至少三维方向上调节探测器的位置，探测器固定于探测器位置调节装置上。
一种射线荧光光谱仪

[发明专利]复合探测器、体层成像系统及方法-CN201810487026.1在审
发明人：吴涛 -专利权人：北京达影科技有限公司
申请日： 2018-05-21 - 公布日： 2018-10-16 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：本发明涉及一种复合探测器，用于接收射线并将所述射线转换为电信号用以生成影像，其特征在于，包括若干拼接的探测器，所述拼接探测器之间设置间隙。本发明还提供一种体层成像系统和体层成像方法。而本发明将小尺寸的探测器按照预定设计进行拼接，能够替代整块全景探测器进行射线探测。还公开了使用该‑复合探测器的成像系统及方法。
探测器复合探测器成像系统拼接体层射线探测射线转换整块种体成像射线影像全景替代

[发明专利]X射线探测台和X射线成像设备-CN200810009090.5有效
发明人：吕永;于爱民 -专利权人： GE医疗系统环球技术有限公司
申请日： 2008-01-25 - 公布日： 2009-07-29 - 主分类号： A61B6/02 文献下载
摘要：本发明实现一种X射线探测台，它不需要平衡由X射线探测器产生的载荷的衡重体；和一种具有该X射线台的X射线成像设备。一种X射线探测台，包括X射线探测器、直立支柱和升降装置，而且还包括平衡机构，其中，该直立支柱支承该X射线探测器以便可以移动，且该升降装置用于通过皮带沿着该支柱来提升和降低该X射线探测器，而且该平衡机构通过发条弹簧向该皮带施加力，该力平衡由该X射线探测器产生的载荷。该平衡机构具有金属丝、轮和发条弹簧，该金属丝的一端在与该X射线探测器相对的侧部配接到该皮带上，该轮卷起该金属丝的另一端，且该发条弹簧向该轮施加卷绕扭矩。
射线探测成像设备

[发明专利]高压X射线衍射仪-CN202010919793.2在审
发明人：郝雷明;张晓;李奇尧 -专利权人：合肥优纳珂科技有限公司;北京爱森伯特科技有限公司
申请日： 2020-09-04 - 公布日： 2020-11-13 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明公开了高压X射线衍射仪，包括X射线发生器、X射线聚焦镜、针管、显微镜、X射线探测器、面探测器和样品调节台，所述X射线聚焦镜设置于X射线发生器上，所述针管一端设置于X射线聚焦镜上，所述针管的另一端为锥型结构，所述面探测器位于针管一侧，且位于X射线发生器发射的X射线的传输方向上，所述针管的锥型端朝向面探测器，所述样品调节台位于针管和面探测器之间，所述显微镜位于样品调节台的一侧。本发明能够用于高压粉末或单晶X射线衍射；可以保证样品到面探测器的距离不变，获得的衍射数据更加可信；可以保证照射在样品上的X射线尺寸最小，避免光斑过大，照射在封垫上；调节通过电动控制完成，实验人员远离X射线辐照
高压射线衍射

[实用新型]高压X射线衍射仪-CN202021924917.8有效
发明人：郝雷明;张晓;李奇尧 -专利权人：合肥优纳珂科技有限公司;北京爱森伯特科技有限公司
申请日： 2020-09-04 - 公布日： 2021-01-05 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本实用新型公开了高压X射线衍射仪，包括X射线发生器、X射线聚焦镜、针管、显微镜、X射线探测器、面探测器和样品调节台，所述X射线聚焦镜设置于X射线发生器上，所述针管一端设置于X射线聚焦镜上，所述针管的另一端为锥型结构，所述面探测器位于针管一侧，且位于X射线发生器发射的X射线的传输方向上，所述针管的锥型端朝向面探测器，所述样品调节台位于针管和面探测器之间，所述显微镜位于样品调节台的一侧。本实用新型能够用于高压粉末或单晶X射线衍射；可以保证样品到面探测器的距离不变，获得的衍射数据更加可信；可以保证照射在样品上的X射线尺寸最小，避免光斑过大，照射在封垫上；调节通过电动控制完成，实验人员远离X射线辐照。
高压射线衍射