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[发明专利]基于失效率的过程窗口-CN202180046736.0在审
发明人：蒋爱琴;苏达沙南·拉格纳坦;吉尔·伊丽莎白·弗里曼;王富明;严飞 -专利权人： ASML荷兰有限公司
申请日： 2021-06-17 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本文中描述一种用于基于失效率来确定图案化过程的过程窗口的方法。所述方法包括：(a)获得被印制于衬底上的多个特征；(b)基于指标将所述特征分组为多个组；和(c)基于与特征组相关联的测量数据来产生所述特征组的基础失效率模型，其中，所述基础失效率模型识别与所述特征组的所述失效率相关的所述过程窗口所述方法还包括使用所述基础失效率模型产生用于特定特征的特定于特征的失效率模型，其中，所述特定于特征的失效率模型识别特定于特征的过程窗口，使得所述特定特征的估计失效率低于指定阈值。
基于失效过程窗口

[发明专利]集成电路失效率获取方法-CN202011591485.8在审
发明人：章晓文;林晓玲;高汭 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2020-12-29 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及一种集成电路失效率获取方法，包括：确定集成电路的至少一种本征失效机制；根据至少一种本征失效机制，在待测样品上形成与各本征失效机制相应的测试结构；根据至少一种本征失效机制，确定与各本征失效机制相应的试验方案，试验方案包括多组不同的应力条件；根据试验方案，对多个待测样品上的相应测试结构进行寿命测试试验；根据寿命测试试验，获取与各本征失效机制相应的失效物理模型；根据与各本征失效机制相应的失效物理模型，获取集成电路的失效率本申请能够有效降低获取集成电路失效率的成本有效提高获取的集成电路失效率的准确性。
集成电路失效获取方法

[发明专利]一种仪表系统失效率计算方法及失效率数据库系统-CN202210665418.9在审
发明人：殷卫兵;陈勇;魏晓明;秦龙;刘二平;董伟东;童俊;毕佳宁 -专利权人：北京安稳优自动化技术有限公司
申请日： 2022-06-14 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G06Q10/00 文献下载
摘要：本发明涉及仪表系统失效率技术领域，尤其是指一种仪表系统失效率计算方法，包括仪表系统分类方法、失效率分类方法和失效率数据递推计算方法；仪表系统失效率数据库系统包括失效率数据收集、数据完整性校验、数据质量审核和数据分类，失效率数据收集建设失效数据库，采集失效数据库需要的设备故障数据、维护数据和设备基础数据，形成失效数据的源数据仓库，数据来源首先考虑基于企业现有数据源通过批量或实时采集方式获取。本发明通过将失效率数据库和失效率计算方法相结合，建成仪表失效数据系统平台与智能应用平台，降低设备维护费用。
一种仪表系统失效计算方法数据库

[实用新型]芯片加速软失效率测试装置-CN201020216131.0有效
发明人：李刚;刘云海;冯军宏 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2010-06-04 - 公布日： 2011-03-23 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片加速软失效率测试装置，其包括用于套置于含有芯片的封装结构的罩子、螺杆、放射源和标尺；罩子的下端开口，罩子的上端为设有螺纹孔的顶板；所述螺杆穿套于所述螺纹孔内，所述螺杆的外螺纹与所述螺纹孔的内螺纹相匹配
芯片加速失效测试装置

[实用新型]减少失效率的油量传感器-CN201621305206.6有效
发明人：姚志峰 -专利权人：丹阳亿豪电子科技有限公司
申请日： 2016-12-01 - 公布日： 2017-09-29 - 主分类号： G01F23/22 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种减少失效率的油量传感器，它包括传感器本体，所述传感器本体包括线路板、非磁性立柱和浮子，所述线路板设置在非磁性立柱内，所述线路板上设置有由多个测量节点并联构成的阵列电路，所述测量节点由舌簧管组和一个电阻串联而成本实用新型不仅能够减小其失效率，感应准确，而且能够实现油位信息共享。
减少失效传感器

[发明专利]基于失效模式区分和norm分布的继电保护装置时变失效率估算方法-CN201310118578.2无效
发明人：曹小拐;罗宇航;林睿;邵震;张科峰;任鑫芳;张蔓 -专利权人：中国南方电网有限责任公司超高压输电公司广州局
申请日： 2013-04-03 - 公布日： 2013-07-10 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明公开了基于失效模式区分和norm分布的继电保护装置时变失效率估算方法。采用基于恒定失效率的极大似然估计方法估计偶然失效的失效率λ0；根据获取的基本信息，拟合老化失效数据，求取norm分布中密度函数的参数；根据得到的norm分布密度函数的参数计算老化失效的失效率λ1；计算偶然失效率与老化失效率相等的临界时间t0，则继电保护装置的失效率为以t0为界的分段函数：t0时刻之前，继电保护装置的失效率为恒定失效率λ0，t0时刻之后，继电保护装置的失效率为时变失效率λ1。本发明使继电保护装置失效率更符合一般工业产品的“浴盆曲线”，较之恒定失效率更加准确，对继电保护装置的评估与风险评估提供了更好的基础数据。
基于失效模式区分 norm 分布保护装置估算方法

[发明专利]一种基于瑞利分布的继电保护装置时变失效率估算方法-CN201310502897.3有效
发明人：宋璇坤;刘颖;薛安成;邹国辉;肖智宏 -专利权人：国家电网公司;国网北京经济技术研究院;国网天津市电力公司
申请日： 2013-10-23 - 公布日： 2014-01-08 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于瑞利分布的继电保护装置时变失效率估算方法，其包括以下步骤：1）获取继电保护装置失效数据，并判断所得失效数据是偶然失效还是老化失效；2）当失效模式为偶然失效时，采用恒定失效率的估算方法估算偶然失效率3）当失效模式为老化失效时，采用时变失效率的估算方法估算老化失效率4）估算继电保护装置整体时变失效率λ(t)＝λ₀+λ₁(t针对不同失效模式采用不同的方法进行继电保护装置时变失效率的估计，本发明可以广泛用于继电保护装置的失效率估算中。
一种基于瑞利分布保护装置失效估算方法

[发明专利]多芯片组件（MCM）可靠性预计模型-CN201110259416.1在审
发明人：任艳 -专利权人：工业和信息化部电子第五研究所
申请日： 2011-09-05 - 公布日： 2012-05-02 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种多芯片组件(MCM)可靠性预计模型，它包括外贴元器件失效率部分、基板基本失效率部分、组装互连失效率部分及封装失效率部分，根据基板失效率、外贴元器件失效率、组装互连失效率、封装失效率的关系，再考虑环境因子和质量因子对产品可靠性的影响，得出产品失效率。本发明解决了国内对MCM产品的可靠性进行预计的难题，为MCM产品的失效率水平和可靠性预计提供了依据。
芯片组件 mcm 可靠性预计模型

[发明专利]一种继电保护装置可靠性评估方法、装置及相关设备-CN202310801044.3在审
发明人：张少凡;李妍红;高强;蔡燕春;王莉;秦绮蒨;汪华;马志宾;张敏;区燕敏;杨咏梅;蒋雨晨 -专利权人：广东电网有限责任公司广州供电局
申请日： 2023-06-30 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： H02H7/22 文献下载
摘要：本申请公开了一种继电保护装置可靠性评估方法、装置及相关设备，该方法包括：获取继电保护装置中各硬件模块的失效率，并基于此，确定硬件误动失效率和硬件拒动失效率；获取系统运行中的累积错误次数，并基于继电保护装置中的初始故障概率、故障减少率系数和累积错误次数，确定软件误动失效率和软件拒动失效率；基于硬件误动失效率、硬件拒动失效率、软件误动失效率以及软件拒动失效率，确定继电保护装置的系统误动失效率和系统拒动失效率。本申请从硬件、软件及系统的维度，去收集相应的运行数据，最终估算得到继电保护装置的系统误动失效率和系统拒动失效率，从而实现了对继电保护装置的可靠性评估。
一种保护装置可靠性评估方法装置相关设备

[发明专利]SLD器件可靠性评估方法-CN201510330182.3有效
发明人：史典阳;李海军;聂国建;任艳;周军连;于迪 -专利权人：工业和信息化部电子第五研究所
申请日： 2015-06-15 - 公布日： 2017-10-20 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种SLD器件可靠性评估方法，包括获取SLD器件内管芯的基本失效率和温度系数，并将管芯的基本失效率和温度系数的乘积转换为管芯的失效参数；获取SLD器件内光纤焊点的耦合失效率，生成光纤焊点的失效参数；获取SLD器件内制冷器的基本失效率，生成制冷器的失效参数；获取SLD器件内热敏电阻的基本失效率和温度系数，并将热敏电阻的基本失效率和温度系数的乘积的2倍转换为热敏电阻的失效参数；将管芯的失效参数、光纤焊点的失效参数、制冷器的失效参数和热敏电阻的失效参数转换为SLD器件的失效参数；根据SLD器件的失效参数进行可靠性评估。
sld 器件可靠性评估方法

[发明专利]考虑重复单元相关性的系统失效率非线性估计方法-CN201710454591.3在审
发明人：陶俊;李昕;曾璇;周电 -专利权人：复旦大学
申请日： 2017-06-15 - 公布日： 2019-01-04 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本方法属于集成电路技术领域，涉及考虑重复单元相关性的系统失效率非线性估计方法，具体涉及一种考虑重复单元失效事件相关性的全系统失效率非线性快速估计方法，其包括步骤：估计低阶同步失效率；构造同步失效率的非线性模型，并根据已得到的低阶同步失效率，计算模型稀疏；根据非线性模型计算高阶同步失效率；和采用基于查找表的误差修正算法，根据同步失效率，估计全系统的失效率。经实验证实，应用本发明的方法，能够在进行系统性能的分析时充分考虑重复单元失效的相关性，并通过建立系统失效率的非线性模型，在不增加测试和计算成本的前提下，有效提高失效率的估计精度。
失效率非线性模型非线性估计系统失效率全系统低阶集成电路技术误差修正算法测试和计算计算模型建立系统快速估计系统性能查找表高阶稀疏应用分析

[发明专利]一种计及芯片影响的设备可靠性确定方法及系统-CN202210954669.9在审
发明人：李伟;舒治淮;刘宇;李仲青;薛安成;王文焕;张晓莉;夏烨;孟江雯;景子洋 -专利权人：中国电力科学研究院有限公司;国家电网有限公司;华北电力大学
申请日： 2022-08-10 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种计及芯片影响的设备可靠性确定方法及系统，包括：基于历史数据进行统计分析，确定不同阶段的第一设备失效率；基于不同阶段的第一设备失效率，确定不同阶段的第一板卡失效率；基于所述第一设备失效率、第一板卡失效率和第一芯片失效率确定协变量函数；基于目标设备厂家采用的芯片，确定第二芯片失效率；基于目标设备厂家的板卡设计工艺和制造工艺能力，确定第二板卡失效率；基于所述第二芯片失效率、第二板卡失效率和协商变量函数确定目标设备厂家的第二设备失效率，以基于第二设备失效率进行设备可靠性评估。
一种芯片影响设备可靠性确定方法系统

[发明专利]多芯片组件的可靠性预测方法-CN201210313440.3有效
发明人：黄智伟;任艳;翟芳;周军连 -专利权人：工业和信息化部电子第五研究所
申请日： 2012-08-29 - 公布日： 2012-12-12 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：一种多芯片组件的可靠性预测方法，包括步骤：获取基板失效率λ基板、外贴元器件失效率λ外贴元器件、互连失效率λ互连、封装失效率λ封装及组装系数π组装、设计系数π设计、质量控制系数π质量控制、环境系数π环境；根据基板失效率λ基板、外贴元器件失效率λ外贴元器件、互连失效率λ互连、封装失效率λ封装及组装系数π组装、设计系数π设计、质量控制系数π质量控制、环境系数π环境确定多芯片组件的可靠性预计失效率λP。本发明结合多芯片组件MCM的特点，综合考虑基板、外贴元器件、互连、封装的失效率，及组装、实际、质量控制及环境的系数，根据这些失效率和系数综合确定多芯片组件的可靠性预计失效率，实现对多芯片组件可靠性的准确预测
芯片组件可靠性预测方法

[发明专利]元器件失效率预计方法、装置、计算机设备及存储介质-CN202010045849.6在审
发明人：胡湘洪;于迪;聂国健;杨云;李欣荣 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2020-01-16 - 公布日： 2020-06-12 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本申请涉及一种元器件失效率预计方法、装置、计算机设备及存储介质。所述元器件失效率预计方法在传统的失效率预计模型基础上引入了所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比，从而建立所述元器件失效率预计模型。本申请实施例所述元器件失效率预计方法将传统的元器件失效率预计模型按照所述诱发应力类型拆分为更为精细的预计步骤，使得所述待测试元器件组的失效率更加符合所述待测试元器件组的实际使用情况。解决了传统数理统计预计模型失效率与实际失效率具有较大的预计偏差的技术问题，达到了达到减小所述预计失效率与实际失效率预计偏差的技术效果。
元器件失效预计方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]用于确定信号链的最大残余失效率的方法-CN201410019802.7有效
发明人：于长淼;施京毅;苏剑 -专利权人：大陆泰密克汽车系统（上海）有限公司
申请日： 2014-01-16 - 公布日： 2014-04-23 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于确定汽车安全完整性等级评估中信号链的最大残余失效率的方法，其中，所述信号链指评估中信号流经的路径，通过以下步骤确定其最大残余失效率：对于无法获知其失效模式和相应的失效率的元件，获得其对应的PPM值，其中，PPM值为该元件在指定时段内指定数量中的坏件量；利用所获得的元件的PPM值，获得该元件的计次失效率；针对每个上述元件，获得其与安全相关的所有失效模式中的最小诊断识别率，进而获得该元件的最大诊断未识别率；基于该元件的计次失效率与其最大诊断未识别率，获得该元件与安全相关的所述最大残余失效率；对已知失效模式及失效率的其余元件，获得其与安全相关的残余失效率；结合上述元件的最大残余失效率及其余元件的残余失效率，获得整个信号链的残余失效率的最大值。
用于确定信号最大残余失效方法

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