专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种紫外CCD花样的矫正方法-CN201410397693.2有效
  • 吴潮;魏建彦;曹莉;裘予雷 - 中国科学院国家天文台
  • 2014-08-13 - 2017-06-06 - G06T5/50
  • 一种紫外CCD花样的矫正方法(1)至少采集5‑10幅窄图像;(2)对采集的窄图像进行处理,去除图像中的本底信号,并将图像合并为一幅图像;(3)从图像中进行成份分离,分离出图像的大尺度成份和小尺度成份;(4)根据上述确定的大尺度成份及小尺度成份,合成不同比率R下的修正图像;(5)利用上述修正图像对任选一幅真实的观测图像进行定标处理,根据定标后得到的观测图像信号确定最优的修正图像及对应的比率R;(6)利用上述确定的最优修正图像对紫外CCD相机的观测图像进行定标处理,完成其花样的矫正处理。
  • 一种紫外ccd花样矫正方法
  • [发明专利]一种绕射多次压制方法及装置-CN201810761485.4有效
  • 吕健飞;梁瑶;武锦程;李宗贤;王佳峰;蓝宝锋 - 北京奥能恒业能源技术有限公司
  • 2018-07-11 - 2020-03-17 - G01V1/36
  • 本发明提供了一种绕射多次压制方法及装置,涉及地震资料多次压制的技术领域,包括在原始地震数据中提取反射波数据,得到反射波数据及不包含所述反射波数据的剩余地震数据;对所述剩余地震数据进行动校正处理,以去除绕射多次,得到校的剩下数据;对所述剩下数据进行反动校正处理,得到数据;将所述数据与所述反射波数据组合,得到压制所述绕射多次之后的目标地震数据,以用于压制反射多次。解决了先压制反射后压制绕射多次波导致的双曲形态被破坏的绕射多次无法被压制的技术问题,达到有效地使绕射多次得到压制,提高压制绕射多次的效率的技术效果。
  • 一种多次压制方法装置
  • [发明专利]一种干式电抗器温升热点预测方法-CN202010384427.1有效
  • 李永建;李星汉;张长庚;陈怡帆;王家俊 - 河北工业大学
  • 2020-05-07 - 2023-05-23 - G06F30/23
  • 本发明公开了一种干式电抗器温升热点预测方法。该方法首先得到干式电抗器模型,并计算实际工况下各层包封绕组的电流激励;建立磁‑热双向耦合模型,考虑温度对材料损耗特性的影响,并依据精度要求设置迭代计算次数;再加载实际工况电流激励,求解包封绕组损耗和星型架涡流损耗;再将电磁损耗按照网格节点耦合至温度作为热源,求解温度分布,并进行双向耦合计算直至达到所设置的迭代计算次数;最后对温度分布进行后处理,确定温升热点。本方法考虑温度对材料损耗特性的影响以及星型架涡流损耗对于包封绕组温升分布的影响,热源分布符合实际工况,能够精确地模拟对流换热过程,实现干式电抗器的温升计算并预测温升热点。
  • 一种干式平波电抗器温升热点预测方法
  • [发明专利]一种太赫兹透射成像系统-CN201510674268.8在审
  • 吴昕;季凡;马传刚;曾明朋;曾大章 - 成都曙光光纤网络有限责任公司
  • 2015-10-13 - 2016-01-20 - G01N21/3586
  • 本申请公开了一种太赫兹透射成像系统,该系统包括太赫兹源、光路准直聚焦装置、扫描振镜、聚焦透镜、载物平台、探测器和图像处理装置。光路准直聚焦装置对太赫兹源所输出的太赫兹进行准直和聚焦,扫描振镜用于对经过准直和聚焦后的太赫兹在预设维度上进行偏转扫描,聚焦透镜用于将从扫描振镜中出射的太赫兹聚焦到待测样品上,载物平台则用于承载待测样品,并驱动待测样品按预设路径进行运动,位于待测样品与载物平台之间的探测器对透射过待测样品的太赫兹进行检测,并输出太赫兹波幅度信息,图像处理装置用于对太赫兹波幅度进行处理,从而最终得到待测样品的太赫兹透射图像
  • 一种赫兹透射成像系统
  • [实用新型]一种太赫兹透射成像系统-CN201520804816.X有效
  • 吴昕;季凡;马传刚;曾明朋;曾大章 - 成都曙光光纤网络有限责任公司
  • 2015-10-13 - 2016-01-27 - G01N21/3586
  • 本申请公开了一种太赫兹透射成像系统,该系统包括太赫兹源、光路准直聚焦装置、扫描振镜、聚焦透镜、载物平台、探测器和图像处理装置。光路准直聚焦装置对太赫兹源所输出的太赫兹进行准直和聚焦,扫描振镜用于对经过准直和聚焦后的太赫兹在预设维度上进行偏转扫描,聚焦透镜用于将从扫描振镜中出射的太赫兹聚焦到待测样品上,载物平台则用于承载待测样品,并驱动待测从样品按预设路径进行运动,位于待测样品与载物平台之间的探测器对透射过待测样品的太赫兹进行检测,并输出太赫兹波幅度信息,图像处理装置用于对太赫兹波幅度进行处理,从而最终得到待测样品的太赫兹透射图像
  • 一种赫兹透射成像系统

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