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- [发明专利]一种图像下采样方法和系统-CN202211576778.8在审
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陈震中;黄成瑞
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武汉大学
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2022-12-09
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2023-03-17
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G06T3/40
- 本发明针对图像缩放和图像处理领域,公开了一种图像下采样方法和系统。首先通过尺度自适应特征提取模块从高分辨率图像提取尺度相关特征,再根据通过坐标映射得到的采样坐标对尺度相关特征进行重采样,获得多组与低分辨率图像具有相同大小的候选特征。最终通过使用生成的自适应权重对候选特征加权求和获得下采样后的低分辨率图像。本方法提出的图像下采样模型是在现有的基于插值的图像超分辨率重建方法的指导下训练得到的,可以有效解决基于插值的图像下采样方法得到的低分辨率图像通常不能充分适用于现有的图像超分辨率重建方法的问题。
- 一种图像采样方法系统
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