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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]差分像运动大气相干参数测试中的双像点质心提取方法-CN201510447426.6有效
发明人：陈纯毅;杨华民;佟首峰;江伦;赵馨;张雷 -专利权人：长春理工大学
申请日： 2015-07-21 - 公布日： 2017-10-24 - 主分类号： G06T7/66 文献下载
摘要：本发明公开一种差分像运动大气相干参数测试中的双像点质心提取方法。本方法无需人工辅助就能自动地将双像点图像分割成两张单像点图像。针对每张单像点图像，本方法能自动选取单像点的边界框位置，排除那些不被像点覆盖的像素对像点质心提取的影响，以便抑制图像传感器的输出噪声造成的像点质心提取精度降低。本方法把测试过程中提取的双光斑质心坐标实时地保存在测试记录文件中，完成测试后可以在任何时候根据测试记录文件中的数据计算Fried参数值。
差分像运动大气相干参数测试中的双像点质心提取方法

[发明专利]使用相离的双球像与正交消失点标定拋物折反射摄像机-CN201510686898.7在审
发明人：赵越;王亚林 -专利权人：云南大学
申请日： 2015-10-22 - 公布日： 2016-02-24 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种使用相离的双球像与正交消失点标定拋物折反射摄像机的方法。用抛物折反射摄像机拍摄靶标的1幅图像，所述靶标为双球在像平面的投影是相离的，通过像点和其对拓像点的关系获得对拓像点，从而估计该幅折反射图像中双球像的对拓球像，并求解双球像的交点及其对拓球像的交点；在此基础上，根据球像的虚交点与对拓球像的虚交点对应形成的四组虚对拓像点确定正交消失点；最终利用正交消失点对摄像机内参数的约束求解抛物折反射摄像机内参数。
使用双球像正交消失标定拋物折反射摄像机

[发明专利]使用相切的双球像与正交消失点标定拋物折反射摄像机-CN201510686781.9在审
发明人：王亚林;赵越 -专利权人：云南大学
申请日： 2015-10-22 - 公布日： 2016-02-24 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种使用相切的双球像与正交消失点标定拋物折反射摄像机的方法。用抛物折反射摄像机拍摄靶标的两幅图像，所述靶标为像平面上投影相切的双球，在每幅图像中，通过像点和其对拓像点的关系获得对拓像点，从而估计折反射图像中双球像的对拓球像，并求解双球像的实和虚交点与对拓球像的实和虚交点；在此基础上，根据球像的交点与对拓球像的交点对应形成的三组对拓像点确定三组正交消失点，来自于这两幅图像可确定六组正交消失点；最终利用正交消失点对摄像机内参数的约束求解摄像机内参数。
使用相切双球像正交消失标定拋物折反射摄像机

[发明专利]使用双球的相离像与圆环点的像标定拋物折反射摄像机-CN201510709516.8在审
发明人：赵越;王亚林 -专利权人：云南大学
申请日： 2015-10-28 - 公布日： 2016-02-10 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及使用双球的相离像与圆环点的像标定拋物折反射摄像机的方法。用抛物折反射摄像机拍摄双球作为靶标的1幅图像，并且靶标在像平面是相离的。通过该幅折反射图像中球像的虚交点与对拓球像虚交点对应形成的四组虚对拓像点确定摄像机的内参数中的主点；在获得主点的基础上，求解双球在单位视球上的两组平行投影小圆所在平面的消失线，从而确定该平面上圆环点的像，最终利用圆环点的像对摄像机内参数的约束求解其余摄像机内参数。
使用相离像圆环标定拋物折反射摄像机

[发明专利]使用双球的相切像与圆环点的像标定拋物折反射摄像机-CN201510686935.4在审
发明人：王亚林;赵越 -专利权人：云南大学
申请日： 2015-10-22 - 公布日： 2016-01-27 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种使用双球的相切像与圆环点的像标定拋物折反射摄像机的方法。用抛物折反射摄像机拍摄双球为靶标的1幅图像，并且靶标的成像是相切的。通过该幅折反射图像中球像的实和虚交点与对拓球像的实和虚交点对应形成的三组对拓像点确定主点。在获得主点的基础上，求解双球在单位视球上的两组平行投影小圆所在平面的消失线，从而确定该平面上圆环点的像，最终利用圆环点的像对摄像机内参数的约束求解其余摄像机内参数。
使用相切圆环标定拋物折反射摄像机

[发明专利]一种双线型像质计图像处理方法、装置、设备及存储介质-CN202310432344.9有效
发明人：梅健强 -专利权人：天津职业技术师范大学（中国职业培训指导教师进修中心）
申请日： 2023-04-21 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种双线型像质计图像处理方法、装置、设备及存储介质；所述方法包括：根据待处理双丝图像，自动提取双线型像质计的有效区域；基于提取的双线型像质计的有效区域，对双丝图像的灰度值进行逐行累加平均计算；基于所述逐行累加平均计算得到的图像数据，检测像素点的局部极值点，并计算局部极值点所对应的向量长度信息；根据所述向量长度信息计算双丝识别结果，并基于双丝识别结果得到双丝图像的分辨力。
一种双线型像质计图像处理方法装置设备存储介质

[发明专利]使用双球的相交像及圆环点的像标定拋物折反射摄像机-CN201510686991.8在审
发明人：王亚林;赵越 -专利权人：云南大学
申请日： 2015-10-22 - 公布日： 2016-02-03 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种使用双球的相交像及圆环点的像标定拋物折反射摄像机的方法。用抛物折反射摄像机拍摄靶标的1幅图像，通过该幅折反射图像中球像的实和虚交点与对拓球像的实和虚交点对应形成的四组对拓像点确定主点；在获得主点的基础上，求解双球在单位视球上的两组平行投影小圆所在平面的消失线，从而确定该平面上圆环点的像，最终利用圆环点的像对摄像机内参数的约束求解其余摄像机内参数。
使用相交圆环标定拋物折反射摄像机

[实用新型]一种带编号的像控点测量标识-CN202021856314.9有效
发明人：罗东山;贾鹏;金计伟;李相庭;许崇良;王鹏;刘文龙;李锋;张小鹏;彭志杰;方竹兵;王戈松 -专利权人：西安长庆科技工程有限责任公司;中国石油天然气集团有限公司
申请日： 2020-08-31 - 公布日： 2021-05-14 - 主分类号： G01C11/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种带编号的像控点测量标识，至少包括大白色标识板、小白色标识板、套槽、单卡槽、双卡槽和数字镂空板，所述的大白色标识板、小白色标识板套槽和单卡槽连接成一个矩形框体，其中套槽与大白色标识板平行设置，单卡槽与小白色标识板平行设置，所述的双卡槽与单卡槽平行设置，所述的双卡槽的两端分别与大白色标识板和套槽连接；所述的数字镂空板卡在套槽与大白色标识板之间。本实用新型提供的带编号的像控点测量标识，从航空摄影测量相片中能够准确地识别出像控点的测量点位和编号，从而提高像控点内业转刺的精度和效率。
一种编号像控点测量标识

[发明专利]双平面下流程自适应的骨骼结构空间重建方法及装置-CN202210839458.0在审
发明人：张猛;蔡宗远 -专利权人：上海涛影医疗科技有限公司
申请日： 2022-07-18 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G06T17/00 文献下载
摘要：本发明公开一种双平面下流程自适应的骨骼结构空间重建方法，应用于双平面X射线成像系统，包括以下步骤：获取在第一成像平面内预设的感兴趣点；基于所述感兴趣点和第一X射线光源在第二成像平面内形成参考线；基于所述参考线在所述第二成像平面内获取所述第一成像平面内的所述感兴趣点在所述第二成像平面内的对应感兴趣点；基于所述第一成像平面内的所述感兴趣点和所述第二成像平面内的所述感兴趣点在三维坐标系中确定对应的关键点的三维坐标；重复上述步骤以确定多个关键点的三维坐标，以实现骨骼结构重建。
平面流程自适应骨骼结构空间重建方法装置

[发明专利]利用分离球像的双接触定理标定针孔摄像机的方法-CN202211183213.3在审
发明人：卓庆丰;赵越 -专利权人：云南大学
申请日： 2022-09-27 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： G06T7/80 文献下载
摘要：本发明提供了一种利用分离球像的双接触定理标定针孔摄像机的方法，三个球为标定物的靶标。在求解针孔摄像机内参数的过程中，仅利用含三个分离球像的1幅图像，摄像机的5个内参数即恢复。首先，使用最小二乘法拟合分别获得三个球像方程。在获得三个球像方程的基础上，恢复两两球像对应的实公共弦。基于双接触定理得，两分离球像的实公共弦与对应支撑平面的影消线共点。根据广义特征值分解，则从两球像方程得到其对应的实公共弦。而且，实公共弦的交点是影消点。三个影消点两两连结恢复每个球像对应支撑平面的影消线。影消线与对应球像联立，即恢复三对独立的圆环点的像的约束。将绝对二次曲线的像Cholesky分解再求逆，内参数矩阵被唯一的确定。
利用分离接触定理标定针孔摄像机方法

[发明专利]一种无人机摄影测量与雷达扫描双用标靶像控点-CN201811267479.X在审
发明人：李秋实;栾佳艺;韩丹;邹勇;张广衡;郑闯;廉建尧;张有博 -专利权人：东北林业大学
申请日： 2018-10-29 - 公布日： 2019-01-25 - 主分类号： G01C15/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种无人机摄影测量与雷达扫描双用标靶像控点，包括中心块、翼板和像控布，所述翼板与所述中心块可拆卸连接，所述像控布固定连接在所述翼板的下方；所述翼板为四个，四个所述翼板形成一垂直交叉的十字型，位于同一直线上的两个所述翼板上设有相同颜色的反光条且不同于另一直线上的两个所述翼板上的反光条的颜色，所述翼板两侧的所述像控布设为不同颜色，从而使本发明可作为摄影拍摄和雷达扫描的双用标靶像控点，减少了像控点布置的工作量和测量数据的处理量
翼板雷达扫描标靶双用摄影测量反光条中心块可拆卸连接测量数据垂直交叉同一直线处理量十字型布设工作量拍摄摄影

[发明专利]一种基于双中性点矢量的天空偏振三维定姿方法-CN201611078923.4有效
发明人：郭雷;乐丽;钱建强;张霄;王岩;杨健 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2016-11-30 - 公布日： 2019-08-20 - 主分类号： G01C21/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于双中性点矢量的天空偏振三维定姿方法。首先，利用偏振图像传感器获取像空间坐标系下双中性点矢量w₁、w₂，再根据中性点模型获取地理系下双中性点矢量U₁、U₂，最后以双中性点矢量建立坐标系，通过在像空间坐标系和地理系下的正交坐标基的转换，实现传感器的三维姿态解算。
中性点矢量三维定姿偏振像空间坐标系地理系传感器天空模型获取偏振图像正交坐标姿态解算自主导航无辐射无源三维转换

[实用新型]一种无人机摄影测量与雷达扫描双用标靶像控点-CN201821758627.3有效
发明人：栾佳艺;邹勇;李秋实;韩丹;张广衡;郑闯;廉建尧;张有博 -专利权人：东北林业大学
申请日： 2018-10-29 - 公布日： 2019-04-26 - 主分类号： G01C15/06 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种无人机摄影测量与雷达扫描双用标靶像控点，包括中心块、翼板和像控布，所述翼板与所述中心块可拆卸连接，所述像控布固定连接在所述翼板的下方；所述翼板为四个，四个所述翼板形成一垂直交叉的十字型，位于同一直线上的两个所述翼板上设有相同颜色的反光条且不同于另一直线上的两个所述翼板上的反光条的颜色，所述翼板两侧的所述像控布设为不同颜色，从而使本实用新型可作为摄影拍摄和雷达扫描的双用标靶像控点，减少了像控点布置的工作量和测量数据的处理量
翼板雷达扫描标靶双用本实用新型摄影测量反光条中心块可拆卸连接测量数据垂直交叉同一直线处理量十字型布设工作量拍摄摄影

[发明专利]利用双平面镜装置中的圆周运动求解摄像机内参数的方法-CN201410458088.1有效
发明人：赵越;张小芬 -专利权人：云南大学
申请日： 2014-09-11 - 公布日： 2017-04-05 - 主分类号： G06T7/70 文献下载
摘要：本发明涉及利用双平面镜装置中的圆周运动求解摄像机内参数的方法。该装置由两个平面镜与一个针孔摄像机组成，空间点连同其在平面镜中的反射像点在空间同一个圆上。拍摄包括物体及其在平面镜中的四个反射成像的三幅图像，从图像上提取特征点，拟合曲线方程。利用反射点组关于平面镜的对称性质及曲线在特征点处的切线性质得到圆心的像，再利用极点极线的关系得到像平面上的消失线，即无穷远直线的像。消失线与曲线的交即为圆环点的像，建立圆环点的像关于绝对二次曲线像的六个约束方程，线性求解摄像机的内参数。
利用平面镜装置中的圆周运动求解摄像机参数方法

[发明专利]一种基于IPI聚焦像和离焦像的宽尺寸粒子场测量方法-CN201810879183.7在审
发明人：吕且妮;徐捷;尉小雪 -专利权人：天津大学
申请日： 2018-08-03 - 公布日： 2018-12-14 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于IPI聚焦像和离焦像的宽尺寸粒子场测量方法。该方法是采用双路IPI系统，在小散射角区域，记录粒子垂直偏振光的离焦条纹图，在大散射角区域，记录粒子散射光的聚焦两点像，提取所采集的条纹图的条纹数N和聚焦两点像间距Δl，计算得到粒子尺寸大小，该双路系统可测的最小粒径和最大粒径值本发明设计的这种结合IPI聚焦像和离焦像的测量方法，具有原理简单、测量精度高、实用性强等特点，可用于宽尺寸范围的粒子场测量，如喷雾粒子场、气溶胶粒子场等。
聚焦离焦像粒子尺寸粒子测量散射角条纹图点像测量精度高垂直偏振光粒子场测量粒子散射光气溶胶粒子喷雾粒子双路系统最大粒径最小粒径条纹记录可用离焦双路采集

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