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[发明专利]强度关联量子成像显微镜-CN200810037531.2无效
发明人：韩申生;张鹏黎;龚文林;沈夏 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2008-05-16 - 公布日： 2008-10-08 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：一种强度关联量子成像显微镜，其特点是包括一脉冲光源，该脉冲光源发出的光束被分束器分成透射光束和反射光束，所述的透射光束方向依次是待测物体、物臂成像透镜和物臂探测器构成的物臂，所述的反射光束方向依次是虚拟平面、参考臂成像透镜和参考臂探测器构成参考臂，所述的物臂探测器和参考臂探测器分别经第一数据采集卡和第二数据采集卡接计算机，该计算机具有强度关联运算软件，该计算机通过同步信号发生器分别与所述的脉冲光源、物臂探测器和参考臂探测器相连，所述的参考臂成像透镜具有高数值孔径。本发明通过增加参考臂成像透镜的数值孔径即可以获得高分辨率的图像。
强度关联量子成像显微镜

[实用新型]强度关联量子成像显微镜-CN200820058514.2无效
发明人：韩申生;张鹏黎;龚文林;沈夏 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2008-05-16 - 公布日： 2009-03-04 - 主分类号： G01N13/16 文献下载
摘要：一种强度关联量子成像显微镜，其特点是包括一脉冲光源，该脉冲光源发出的光束被分束器分成透射光束和反射光束，所述的透射光束方向依次是待测物体、物臂成像透镜和物臂探测器构成的物臂，所述的反射光束方向依次是虚拟平面、参考臂成像透镜和参考臂探测器构成参考臂，所述的物臂探测器和参考臂探测器分别经第一数据采集卡和第二数据采集卡接计算机，该计算机具有强度关联运算软件，该计算机通过同步信号发生器分别与所述的脉冲光源、物臂探测器和参考臂探测器相连，所述的参考臂成像透镜具有高数值孔径。本实用新型通过增加参考臂成像透镜的数值孔径即可以获得高分辨率的图像。
强度关联量子成像显微镜

[实用新型]半导体吸收式光纤温度检测装置-CN200920019688.2有效
发明人：王哲;周忠;魏玉宾;刘统玉 -专利权人：山东微感光电子有限公司
申请日： 2009-03-30 - 公布日： 2009-12-30 - 主分类号： G01K11/32 文献下载
摘要：一种半导体吸收式光纤温度检测装置，其组成包括光源控制及信号处理单元、参考光源、参考光探测器、参考光耦合器、测量光源、测量光探测器、测量光耦合器、双光源耦合器、传感耦合器、波分复用器、参考探测器、检测探测器本检测装置的感温探头采用全光学部件，传输采用光纤光缆，极大地提高了抗干扰能力，特别是装置引入了参考光源及光源探测器，大大减少了光源强度变化及光纤连接损耗等外界因素对测量精度的影响，提高了系统的探测距离和稳定性
半导体吸收光纤温度检测装置

[发明专利]包括主动的再调整的回归干涉仪-CN201980025503.5有效
发明人： A·肯斯 -专利权人：布鲁克光学有限公司
申请日： 2019-04-18 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：中的至少一个回归反射器运动，以便改变干涉仪臂(13、14)之间的光学的光程差；用于相干的参考光的参考光源(5)；用于可用光(21)的输出端；以及参考光探测器(19)，其特征在于，参考光探测器(19)具有至少三个探测器面(19a‑19d)，其中第一对探测器面(19a、19b)的探测器面沿第一方向(ER)排列，并且第二对探测器面(19a、19c)的探测器面沿第二方向(ZR)排列，并且第一方向(ER)、第二方向(ZR)和参考光(17)在参考光探测器(19)上的中间的传播方向线性独立，并且干涉仪布置结构(1)此外具有：‑用于参考光(17)的会聚元件(18)，所述会聚元件设置在分束器(8)和参考光探测器(19)之间，以用于对来自分束器(8)的参考光(17)聚焦；‑至少两个促动器(9、10)，以用于在至少两个自由度方面改变两个由干涉仪臂(13、14)往回反射的并且在分束器(8)上再次叠加的参考光子光束(11、12)之间的横向的切变；‑以及调节电子装置(38)，以用于依赖于在参考光探测器(19)的探测器面(19a‑19d)上的信号(Sa‑Sc)操控促动器(9、10)。
包括主动再调整回归干涉仪

[发明专利]强度关联远场无透镜成像装置-CN200910195346.0有效
发明人：韩申生;龚文林;张鹏黎;沈夏 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2009-09-08 - 公布日： 2010-05-05 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：一种强度关联远场无透镜成像装置，特点是该装置包括热光源、沿该热光源发出的光束的前进方向设有分光棱镜，在该分光棱镜的透射光束方向依次是置于远场的待测物体和位于该待测物体反射方向的点探测器；在该分光棱镜的反射光束方向是置于远场的参考光路面探测器，所述的点探测器和参考光路面探测器的输出端同时连接执行数据采集和进行强度关联运算的计算机，所述的热光源、点探测器和参考光路面探测器同时由一个同步信号发生器同步触发控制同时工作。通过对物光路和参考光路探测器记录的强度信息进行关联运算，可获得待测物体的实空间像。
强度关联远场无透镜成像装置

[发明专利]酒精浓度遥测装置-CN201810390162.9在审
发明人：高慧;王辉;谢亮;张邦宏 -专利权人：中国科学院半导体研究所;中国科学院大学
申请日： 2018-04-26 - 公布日： 2018-09-11 - 主分类号： G01N21/39 文献下载
摘要：在该酒精浓度遥测装置中，在控制模块的控制下，探测激光器发出的探测光束依次扫过三个目标检测波，由分束装置分为两束‑探测光束和参考光束：探测光束经由集光器、待测气体环境，在反射装置处被反射，重新经由待测气体环境后，由集光器反射至检测探测器处，由检测探测器进行光电转换，得到探测信号；参考光束被传输至参考探测器，由参考探测器进行光电转换，得到参考信号；数据处理模块，用于采集包括三个目标检测波长的探测信号和参考信号，
酒精待测气体浓度遥测探测光束参考探测器参考光束光电转换目标检测探测信号水汽集光器探测器反射数据处理模块探测激光器反射装置分束装置酒精气体控制模块同步检测检测波长采集传输吸收

[发明专利]辐射检查系统-CN202111668939.1在审
发明人：樊旭平;宋全伟;史俊平;何远;孟辉 -专利权人：同方威视科技（北京）有限公司;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2021-12-30 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： G01V5/00 文献下载
摘要：本公开涉及一种辐射检查系统，包括：辐射源，具有加速器靶点；和探测器臂，包括臂体和多个探测器模块，多个探测器模块沿臂体的长度方向在臂体上排布，每个探测器模块包括电路板和安装在电路板上的多个探测器晶体，每个探测器模块中的多个探测器晶体的安装方向相互平行，并且沿电路板上的参考直线排布且相对于参考直线呈预设夹角，多个探测器模块对应至少两种不同的预设夹角。
辐射检查系统

[实用新型]辐射检查系统-CN202123437499.7有效
发明人：樊旭平;宋全伟;史俊平;何远;孟辉 -专利权人：同方威视科技（北京）有限公司;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2021-12-30 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G01V5/00 文献下载
摘要：本公开涉及一种辐射检查系统，包括：辐射源，具有加速器靶点；和探测器臂，包括臂体和多个探测器模块，多个探测器模块沿臂体的长度方向在臂体上排布，每个探测器模块包括电路板和安装在电路板上的多个探测器晶体，每个探测器模块中的多个探测器晶体的安装方向相互平行，并且沿电路板上的参考直线排布且相对于参考直线呈预设夹角，多个探测器模块对应至少两种不同的预设夹角。
辐射检查系统

[发明专利]一种多点反射式光电气体传感器探头及光电气体检测装置-CN201910918811.2有效
发明人：刘统玉;宁雅农;金光贤;王兆伟;李艳芳;胡杰;孟辉;石智栋 -专利权人：山东微感光电子有限公司;济宁安然智能科技有限公司;丹东中科智安光电科技有限责任公司
申请日： 2019-09-26 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本发明公开了一种多点反射式光电气体传感器探头及光电气体检测装置，采用了双探测器和参考气室，该多点反射式光电气体传感器探头包括探头本体、设置在探头本体内的光路模块、以及嵌入在光路模块中的光源、分光镜、螺旋式多点光反射光路、信号探测器、参考气室和参考探测器；光源发出平行光束，平行光束经过分光镜，一部分光束被反射入螺旋式多点光反射光路，经过螺旋式多点光反射光路反射后到达信号探测器；另一部分光束被反射入参考气室，经过参考气室后被参考探测器接收
一种多点反射光电气体传感器探头检测装置

[发明专利]一种多源光谱总有机碳原位传感器光路结构及其使用方法-CN202111088509.2有效
发明人：毕卫红;李煜;付广伟;李喆;孙建成;张保军 -专利权人：燕山大学
申请日： 2021-09-16 - 公布日： 2022-08-16 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种多源光谱总有机碳原位传感器光路结构及其使用方法，属于海水水质在线监测技术领域，所述光路结构为倒“凹”字型结构，包括光源固定平板、分束镜固定平板、参考光路探测器固定平板、透射测量光路探测器固定平板、90°方向探测器固定平板和水流通路；光源固定平板、分束镜固定平板、参考光路探测器固定平板处于同一平面；水流通路位于90°方向探测器固定平板的正上方；光源固定平板、参考光路探测器固定平板、透射测量光路探测器固定平板和90°方向探测器固定平板上均设有用于固定光源和光探测器的若干个通孔。本发明能够增强光学传感器稳定性，提高测量灵敏度和准确度，减少浊度对光谱法测量总有机碳的影响。
一种光谱有机原位传感器结构及其使用方法

[发明专利]使用介电常数间接测量的测量设备-CN99813524.0无效
发明人：克洛德·洛奈;达尼埃尔·勒雷斯塔;帕斯卡尔·霍尔达纳;威廉·庞奇罗里 -专利权人：克洛德·洛奈;达尼埃尔·勒雷斯塔;帕斯卡尔·霍尔达纳;威廉·庞奇罗里
申请日： 1999-10-21 - 公布日： 2001-12-12 - 主分类号： G01F23/26 文献下载
摘要：本发明涉及使用间接介电常数测量的一个测量设备,其特征在于它包括分别构成测量探测器(100)和参考探测器(200)的二个导电体、用于提供控制幅值直流电压的电源装置(300)、包含电容切换系统(530)的积分器级(500)和用于以控制的频率循环限定一系列二顺序的控制装置(400),二个顺序一个第一顺序,在此期间电源装置(300)被连接至测量探测器(100)以在测量探测器(100)和参考探测器(200)之间施加一个电场并在测量探测器(100)上累积电荷,然后是第二顺序,在此期间,电源装置(300)与测量探测器(100)分断而且后者连接于积分级(500)的求和点以在积分器级(500)中传递电荷并由此在输出端获得表示测量探测器(100)和参考探测器(200)之间存在的介电常数的信号。
使用介电常数间接测量设备

[实用新型]一种基于球面漫反射的便携式近红外检测装置-CN201621461128.9有效
发明人：高燕祥;魏艺;李志坚 -专利权人：广东星创众谱仪器有限公司
申请日： 2016-12-29 - 公布日： 2017-07-25 - 主分类号： G01N21/359 文献下载
摘要：本实用新型公开的一种基于球面漫反射的便携式近红外检测装置，包括LED光源、准直透镜、窄带滤光片、半透半反镜、折射棱镜、标准反射球、探测窗，以及样品探测器、参考探测器、电路板；其中LED光源、准直透镜、窄带滤光片、半透半反镜及折射棱镜处于同一直线光路，半透半反镜将光路分为水平光路和垂直光路折射棱镜将水平光路折射至探测窗，直接照射样品，形成样品通道，之后由样品探测器对样品通道的漫反射信号进行采集；同时垂直光路直接到达标准反射球，形成参考通道，之后参考探测器对参考通道的漫反射信号进行采集；样品探测器、参考探测器将采集的漫反射信号传输至电路板。
一种基于球面漫反射便携式红外检测装置

[发明专利]测量光学元器件反射率与透射率的装置和方法-CN202011003266.3在审
发明人：李大伟;胡晨璐;刘晓凤;赵元安;连亚飞;邵建达 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2020-09-22 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种测量光学元器件反射率与透射率的装置和方法，包括锁相放大器、激光器、斩波器、楔形片、测试光路探测器、空测光路探测器微调平台、参考光路探测器、参考光路探测器微调平台、样品夹具及测试光路探测器微调平台。本发明方法可通过锁相放大器得到参考信号值、空测时参考光与测试光的信号差值以及有样品时参考光与测试光的信号差值，由此计算出光学元器件的反射率与透射率。
测量光学元器件反射率透射率装置方法

[发明专利]干涉仪位移测量系统及方法-CN202011293860.0有效
发明人：孙国华;高晓良;徐蕾 -专利权人：北京华卓精科科技股份有限公司
申请日： 2020-11-18 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种干涉仪位移测量系统及方法，其中的系统包括：测量光经第一偏振分光棱镜、第一1/4波片、第一分光棱镜、光波导组件以及反射装置的处理后，返回第一光电探测器和第二光电探测器中；参考光经第二偏振分光棱镜、第二1/4波片、第二分光棱镜以及反射镜的处理后，返回至第一光电探测器和第二光电探测器中；第一光电探测器根据处理后的测量光和参考光形成测量信号，第二光电探测器根据处理后的测量光和参考光形成参考信号；根据测量信号和参考信号确定待检测物体的位移信息
干涉仪位移测量系统方法

[发明专利]一种二氧化硫气体传感器及其温湿度修正方法-CN201810205272.3在审
发明人：顾芳;何鹏翔;黄亚磊;陈帅东;王丽阳;夏伟祥 -专利权人：南京信息工程大学
申请日： 2018-03-13 - 公布日： 2018-06-22 - 主分类号： G01N21/3504 文献下载
摘要：本发明公开了一种二氧化硫气体传感器及其温湿度修正方法，该二氧化硫气体传感器包括红外光源、光学气室、红外双光路滤光片阵列、红外探测器阵列；光学气室上设有进气口和出气口；红外光源设于光学气室的头端；红外双光路滤光片阵列、红外探测器阵列依次设于光学气室的尾部；红外双光路滤光片阵列包括探测滤光片和参考滤光片；红外探测器包括与探测滤光片、参考滤光片一一对应的二氧化硫气体探测器和参考探测器；二氧化硫气体探测器和参考探测器均采用热电偶阵列，该热电偶阵列采用三个热电偶呈正三角形排列，且在冷端采用冷端补偿器。本发明能有效消除温漂对探测器本身的影响，提高了探测器的灵敏度，集成化程度高。
二氧化硫气体探测器气室滤光片阵列双光路传感器红外探测器阵列参考滤光片参考探测器热电偶阵列探测滤光片红外光源湿度修正进气口红外探测器冷端补偿器三角形排列出气口集成化灵敏度热电偶冷端头端温漂