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- [发明专利]用于生成样本的频率校正的高光谱图像的方法-CN202080019570.9有效
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R·哈里格;S·吕特约翰
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布鲁克光学有限公司
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2020-03-04
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2022-11-29
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G01N21/35
- 本发明涉及一种用于求取用于校正具有IR探测器的FTIR测量装置的校正量函数kF(x,y)的方法，所述IR探测器包括多个传感器元件，所述多个传感器元件分别位于一个位置(x,y)处，用于求取校正量函数的方法包括下述步骤：a)用IR探测器的传感器元件记录参考样本的干涉图IFGRxy；b)通过对至少四个传感器元件的参考样本的干涉图进行傅立叶变换来计算参考样本的光谱Rxy；c)通过将每个在步骤b)中计算的参考样本的光谱Rxy与参考样本的比较数据集进行比较来计算校正量kxy；d)使用在步骤c)中计算的校正量kxy确定校正量函数kF(x,y)。借助根据本发明的方法可独立于传感器元件的位置有效地校正在具有扩展的探测器的FTIR光谱仪中出现的频移。
- 用于生成样本频率校正光谱图像方法
- [发明专利]红外显微镜-CN202010179107.2有效
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R·哈里格;S·吕特约安
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布鲁克光学有限公司
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2020-03-13
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2022-10-04
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G02B21/06
- 本发明涉及一种红外显微镜，它具有用于产生准直的红外输入光束(26)的红外光源(1)、在光阑平面(27)中有效地限制光束的元件(8)、样品位置(15)、带有红外传感器(19a)的红外探测器(19)、探测器光阑(19b)、用于将准直的红外输入光束(26)聚焦到样品位置(15)上的第一光学装置和用于将样品位置(15)成像到红外传感器(19a)上的第二光学装置，其特征在于，有效地限制光束的元件(8)处于准直的红外输入光束(26)中，并且所述第一光学装置和第二光学装置使探测器光阑开口成像到输入光束平面中，对于探测器光阑开口在输入光束平面中的图像的面积A1和准直的红外输入光束(26)在输入光束平面中的横截面的面积A2适用：0A1/A2≤1。利用根据本发明的红外显微镜可以确保多元红外探测器的所有传感器元件仅接收来自准直的红外源的红外辐射。同时，避免了干扰性影响，如渐晕和散射。
- 红外显微镜
- [发明专利]包括主动的再调整的回归干涉仪-CN201980025503.5有效
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A·肯斯
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布鲁克光学有限公司
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2019-04-18
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2021-12-03
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G01B9/02
- 本发明涉及一种干涉仪布置结构(1)，具有：用于可用光(3)的输入端；分束器(8)；用于建立两个干涉仪臂(13、14)的两个回归反射器(15、16)；驱动装置(24)，其用于使所述回归反射器(15、16)中的至少一个回归反射器运动，以便改变干涉仪臂(13、14)之间的光学的光程差；用于相干的参考光的参考光源(5)；用于可用光(21)的输出端；以及参考光探测器(19)，其特征在于，参考光探测器(19)具有至少三个探测器面(19a‑19d)，其中第一对探测器面(19a、19b)的探测器面沿第一方向(ER)排列，并且第二对探测器面(19a、19c)的探测器面沿第二方向(ZR)排列，并且第一方向(ER)、第二方向(ZR)和参考光(17)在参考光探测器(19)上的中间的传播方向线性独立，并且干涉仪布置结构(1)此外具有：‑用于参考光(17)的会聚元件(18)，所述会聚元件设置在分束器(8)和参考光探测器(19)之间，以用于对来自分束器(8)的参考光(17)聚焦；‑至少两个促动器(9、10)，以用于在至少两个自由度方面改变两个由干涉仪臂(13、14)往回反射的并且在分束器(8)上再次叠加的参考光子光束(11、12)之间的横向的切变；‑以及调节电子装置(38)，以用于依赖于在参考光探测器(19)的探测器面(19a‑19d)上的信号(Sa‑Sc)操控促动器(9、10)。本发明提供一种基于回归反射器的干涉仪布置结构，利用其可以保证较高的可评估的并且较稳定的可用光强度。
- 包括主动再调整回归干涉仪
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