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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一种功能验证方法和装置-CN201510555353.2在审
发明人：肖海 -专利权人：北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2015-09-01 - 公布日： 2016-05-11 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种功能验证方法，包括：制定验证计划；进行功能点覆盖率统计；进行代码覆盖率统计；根据统计的功能点覆盖率和代码覆盖率进行验证计划反标，确定达到制定目标，结束验证。本发明还公开了一种功能验证装置，包括验证计划制定模块，完成芯片要验证的功能点设定及功能点覆盖率设定，进行芯片要验证的代码设定及代码覆盖率设定；功能覆盖率收集模块，统计功能点覆盖率；代码覆盖率统计模块，统计代码覆盖率；验证计划反标模块，将接收的统计的功能点覆盖率和设定的功能点覆盖率进行比较，并标示。采用本发明所示的方法和装置可以进行功能验证的同时，统计验证的覆盖率，提高芯片性能。
一种功能验证方法装置

[发明专利]一种基于遗传算法的覆盖率收敛方法及系统-CN202010668405.8在审
发明人：王颀;冯建宇;张黄鹏;霍宗亮 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2020-07-13 - 公布日： 2020-10-23 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：本发明提供一种基于遗传算法的覆盖率收敛方法，该方法应用于覆盖率驱动验证中，对待测芯片进行功能验证，获得初始功能覆盖率，当初始功能覆盖率小于预设覆盖率时，利用遗传算法修改该一组约束，利用修改后的一组约束分别对待测芯片设计进行功能验证，获得修改后的一组约束分别对应的新的功能覆盖率，选取最大的功能覆盖率，而后利用遗传算法继续对该一组约束进行修改，每一次对一组约束进行修改之后，均利用修改后的一组约束分别对待测芯片设计进行功能验证，获得新的功能覆盖率，选取每一次获得的新的功能覆盖率中最大的功能覆盖率，将所有最大的功能覆盖率与初始功能覆盖率合并，直至达到预设功能覆盖率。
一种基于遗传算法覆盖率收敛方法系统

[发明专利]验证方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质-CN202011605756.0在审
发明人：刘静;高红莉;徐栋磊 -专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日： 2020-12-30 - 公布日： 2021-04-06 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：该验证方法包括：获取第一覆盖率报告，第一覆盖率报告包括对集成电路设计的多个功能模块进行验证而得到的覆盖率信息；基于第一覆盖率报告，确定多个功能模块中每个功能模块的覆盖率子信息；以及根据每个功能模块的覆盖率子信息，生成每个功能模块各自的第二覆盖率报告。该验证方法可以对第一覆盖率报告中的覆盖率信息进行整理得到每个功能模块各自的第二覆盖率报告，从而各个功能模块的验证人员可以分别对功能模块的第二覆盖率报告进行进一步的分析，进而提高覆盖率分析的效率。
验证方法装置电子设备计算机可读存储介质

[发明专利]一种生成覆盖率验证报告的方法和设备-CN202110744712.4在审
发明人：朱旭涛;唐治龙 -专利权人：合肥忆芯电子科技有限公司
申请日： 2021-07-01 - 公布日： 2021-09-21 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请涉及一种生成覆盖率验证报告的方法和设备，方法包括：获取覆盖率文件；遍历所述覆盖率文件，搜索覆盖率文件指示的未覆盖到的功能点信息；根据所述未覆盖到的功能点信息，生成覆盖率验证报告。基于覆盖率文件包含了各种覆盖率信息，以及指示各种覆盖率信息的关键标识信息，通过遍历覆盖率文件，即可搜索出逻辑代码中未覆盖到的覆盖率信息，进而生成覆盖率验证报告；通过对覆盖率验证报告的展示格式进行调整、安排，从而可以生成可读性强的覆盖率验证报告。
一种生成覆盖率验证报告方法设备

[发明专利]PHP代码覆盖率报告的生成方法及装置-CN202010379282.6在审
发明人：李静雪 -专利权人：贝壳技术有限公司
申请日： 2020-05-07 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种PHP代码覆盖率报告的生成方法及装置，其中方法应用于代码覆盖率工具，代码覆盖率工具集成有代码覆盖率分析的功能和代码覆盖率报告生成的功能，代码覆盖率分析的功能被封装为第一任务，代码覆盖率报告生成的功能被封装为第二任务，方法包括：获取被测代码；调用并执行代码覆盖率工具中封装的第一任务，对被测代码进行代码覆盖率分析处理，获得代码覆盖率分析的结果集；调用并执行代码覆盖率工具中封装的第二任务，读取结果集，根据结果集生成代码覆盖率报告本发明实施例提高了代码覆盖率的检测效率。
php 代码覆盖率报告生成方法装置

[发明专利]适用于软件测试的覆盖率统计方法、装置及存储介质-CN202111315208.9在审
发明人：叶威力;林炳河 -专利权人：稿定（厦门）科技有限公司
申请日： 2021-11-08 - 公布日： 2022-10-28 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供一种适用于软件测试的覆盖率统计方法、装置及存储介质，包括：分别对待测软件运行单元测试用例和功能测试用例的过程进行监测生成第一单元覆盖率文件和第一功能覆盖率文件，所述单元测试用例和功能测试用例预先设置；基于源码信息文件对所述第一单元覆盖率文件和第一功能覆盖率文件进行矫正生成第二单元覆盖率文件和第二接口覆盖率文件；对所述第二单元覆盖率文件和第二接口覆盖率文件合并生成总覆盖率统计文件。本发明提供的技术方案，能够完整的进行项目覆盖率监测，并且在进行覆盖率监测时能够与源码进行比对，对监测的覆盖率进行修正，提高了覆盖率监测的精度，使得待测软件的测试效果的精确度有所保障。
适用于软件测试覆盖率统计方法装置存储介质

[发明专利]芯片验证方法、装置、系统、电子设备及存储介质-CN202310396013.4有效
发明人：李爽;张亚林 -专利权人：北京燧原智能科技有限公司
申请日： 2023-04-14 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：该方法包括：获取被测芯片的所有功能覆盖点中各功能覆盖点与输入激励之间的映射关系；基于映射关系、预先编写的测试用例模板和输入激励的约束文件，生成每个功能覆盖点各自对应的测试用例以及用于确定覆盖率的功能覆盖率代码；利用所有测试用例，对各功能覆盖点进行测试，并利用功能覆盖率代码实时确定功能覆盖率代码输出的覆盖率；实时检测覆盖率是否大于等于预设阈值，并在大于等于预设阈值的情况下，确定对所有功能覆盖点完成验证。本申请运行所有测试用例，即可覆盖所有的功能覆盖点，避免了重复抽取的情况，从而在提高验证效率的前提下，还能提高覆盖率。
芯片验证方法装置系统电子设备存储介质

[发明专利]验证芯片设计的方法-CN201410691966.4有效
发明人：吕明 -专利权人：三星半导体（中国）研究开发有限公司;三星电子株式会社
申请日： 2014-11-25 - 公布日： 2015-03-25 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：所述方法包括：(A)根据需要验证的芯片设计确定功能覆盖项以及测试代码；(B)基于测试代码随机测试功能覆盖项，以获得每次随机测试结束时的累计功能覆盖率；(C)在累计功能覆盖率没有达到预定值的情况下，根据已完成的各次随机测试对应的测试结束时间和累计功能覆盖率计算累计功能覆盖率的收敛时间；(D)根据累计功能覆盖率的收敛时间更新功能覆盖项和/或测试代码，然后基于更新的功能覆盖项和/或测试代码返回执行步骤(B)，其中，所述累计功能覆盖率是累计的已测试完的功能覆盖项占全部功能覆盖项的百分比。
验证芯片设计方法

[发明专利]一种功能覆盖率测试度量系统和方法-CN200610153890.5有效
发明人：易敏;王进成;程智辉 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2006-09-14 - 公布日： 2007-02-21 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：一种功能覆盖率测试度量系统和方法。该系统包括总线功能单元(3)、激励单元(2)、主控台(1)、结果分析单元(4)、以及验证用例功能覆盖率统计单元(5)，用于通过所述分析结果，计算出验证用例中的各个度量要素参数的功能覆盖得分，并根据所述各个度量要素参数的功能覆盖得分得到验证用例的功能覆盖率；被测对象功能覆盖率统计单元(6)，用于通过所述分析结果，计算出被测对象的各个测试层的功能覆盖得分，得到被测对象的功能覆盖率。本发明还提供一种功能覆盖率度量的测试方法，能够在EDA工具中实现，并可以对验证用例和被测对象功能覆盖率进行自动统计。
一种功能覆盖率测试度量系统方法

[发明专利]覆盖率处理方法、装置及电子设备-CN202210551342.7在审
发明人：王正 -专利权人：北京爱芯科技有限公司
申请日： 2022-05-18 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种覆盖率处理方法、装置及电子设备，应用于加速器该方法包括：确定设计文档中对应的待验证功能；获取所述设计文档中针对所述待验证功能的时序逻辑和组合逻辑；基于所述时序逻辑和所述组合逻辑生成覆盖率测试用例；运行所述覆盖率测试用例，得到覆盖率结果；显示所述覆盖率结果。本申请通过运行覆盖率测试用例，从而能够评估运行在加速器上的覆盖率测试用例对应的覆盖率，以此来评估覆盖率测试用例的质量。
覆盖率处理方法装置电子设备

[发明专利]芯片验证方法、装置及服务器-CN202111154318.1在审
发明人：朱佳齐;黄运新 -专利权人：深圳大普微电子科技有限公司
申请日： 2021-09-29 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请实施例涉及芯片技术领域，公开了一种芯片验证方法、装置及服务器，该芯片验证方法，包括：获取功能覆盖率模型；根据功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点；根据所有需要覆盖的功能点，生成回归文件，其中，回归文件包括：所有功能点的测试用例；基于回归文件，进行回归测试；统计功能覆盖率，以确认功能覆盖率满足预设要求。通过利用功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点，并生成回归文件，该回归文件包括所有功能点的测试用例，以进行回归测试，本申请实施例能够减少迭代次数，并且，能够满足预设要求的功能覆盖率，提高芯片验证的效率
芯片验证方法装置服务器

[发明专利]一种快速收敛的覆盖率驱动验证方法-CN201710716457.6在审
发明人：常迎辉;付长英;沈贵元;周永川;曾明;赵月明 -专利权人：中国电子科技集团公司第五十四研究所
申请日： 2017-08-21 - 公布日： 2017-12-15 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种快速收敛的覆盖率驱动验证方法，属于集成电路设计技术领域。它包括制定验证计划、搭建覆盖率驱动的验证平台、嵌入断言、运行测试向量仿真、分析覆盖率和反复迭代测试等步骤。本发明采用新型的覆盖率驱动验证平台，验证平台增加了功能覆盖率的反馈机制，能够根据每次仿真后的覆盖率值来控制下一次的随机变量的生成，通过记录当前的功能覆盖信息，并据此来约束随机变量的生成，以减少随机种子的重复配置，避免功能点的过度覆盖，从而快速达到覆盖率收敛的目的。
一种快速收敛覆盖率驱动验证方法

[发明专利]一种寄存器功能验证方法及相关装置-CN202310802435.7在审
发明人：方敏杰;孟晓;李冬梅;车胜 -专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日： 2023-06-30 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种寄存器功能验证方法及相关装置，其中，寄存器功能验证方法包括：搭建验证环境，创建所述验证环境内的各个寄存器模块，形成具有层次关系的寄存器模型，设置寄存器功能覆盖率参数，其中，所述寄存器功能覆盖率参数包括覆盖率范围，所述覆盖率范围通过所述层次关系表达；利用测试案例对所述覆盖率范围内的各个所述寄存器模块的寄存器进行寄存器属性测试，获取属性测试文档和所述覆盖率范围内的覆盖率信息。本申请实施例所提供的寄存器功能验证方法及其相关装置，可以提高寄存器的验证效率。
一种寄存器功能验证方法相关装置

[发明专利]对芯片进行功能覆盖率模型验证的方法和装置-CN201711243042.8在审
发明人：耿介 -专利权人：青岛海信电器股份有限公司
申请日： 2017-11-30 - 公布日： 2018-03-30 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种对芯片进行功能覆盖率模型验证的方法和装置。本发明对芯片进行功能覆盖率模型验证的方法，包括从芯片的统一电源管理格式UPF文件中提取用于描述电源策略的UPF指令；根据所述UPF指令确定电源状态表，所述电源状态表包括多个电源状态，每个电源状态由各个电源域的目标开关状态组成；根据所述电源状态表生成功能覆盖率模型对应的文件；使用逻辑设计的层次结构中各个电源域的实际开关状态实例化所述功能覆盖率模型对应的文件，对所述芯片进行功能覆盖率模型验证，并生成所述芯片的功能覆盖率报告。本发明实施例可以实现无需人工参与，自动化生成功能覆盖率模型，有效提高验证效率。
芯片进行功能覆盖率模型验证方法装置

[发明专利]一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试方法和系统-CN202211092427.X有效
发明人：易敏;魏明;成民;杨云召;申传强;张挺;易天浩 -专利权人：济南新语软件科技有限公司
申请日： 2022-09-08 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试方法和系统，涉及芯片验证、软件测试技术领域，方法包括：构建变量组合时间序列功能覆盖率结构并将其作为随机约束；确定变量组合时间序列功能覆盖率结构中每个变量的每个取值范围的随机种子；按变量组合时间序列功能覆盖率结构的时间序列顺序获取一个时间点作为当前时间点；从变量组合时间序列功能覆盖率结构中获取每个变量当前时间点下的取值段，组成当前时间点下的变量组合结构；针对当前时间点下的变量组合结构本发明基于变量组合时间序列功能覆盖率结构以及随机测试算法，高效实现变量组合时间序列功能覆盖率的测试目标。
一种基于变量组合时间序列功能覆盖率测试方法系统

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