专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]减少网络拥塞的方法及设备-CN201110027945.9无效
  • 余剑声;陈乾业 - 杭州华三通信技术有限公司
  • 2011-01-26 - 2011-05-11 - H04L12/56
  • 本发明公开了一种减少网络拥塞的方法及设备,该方法包括:网络设备向存储设备转发客户端的数据读或数据写请求,并在检测到网络状态满足拥塞条件时,在所述数据读或数据写请求中添加拥塞标识;所述存储设备根据所述数据读或数据写请求中携带的拥塞标识,在向所述客户端发送的响应报文中添加拥塞标识;所述客户端根据所述响应报文中携带的拥塞标识,降低向所述存储设备的报文发送速率。本发明实施例中,由网络设备判断是否发生网络拥塞,并在发生网络拥塞时能够迅速通知客户端降低向所述存储设备的报文发送速率,解决网络拥塞的过程简单,效率高。
  • 减少网络拥塞方法设备
  • [实用新型]减少聚合物沉积的设备-CN201922202771.X有效
  • A·恩古耶;X·常;S·劳夫;J·A·肯尼 - 应用材料公司
  • 2019-12-04 - 2020-06-09 - H01J37/32
  • 本公开的实现方式提供了一种衬底支撑组件。本公开的实现方式提供了一种用于静电吸盘的工艺配件。在一个实现方式中,提供了一种衬底支撑组件。所述衬底支撑组件包括静电吸盘,所述静电吸盘具有形成在所述静电吸盘的上部分中的第一凹陷。工艺配件包围所述静电吸盘。所述工艺配件包括内环和设置在所述内环的径向外侧的外环。所述外环包括形成在上环的上部分中的第二凹陷。所述内环定位在所述第一凹陷和所述第二凹陷内并由所述第一凹陷和所述第二凹陷支撑。所述内环的上表面和所述外环的上表面是共面的。
  • 减少聚合物沉积设备
  • [实用新型]减少卷簧磨损的生产设备-CN202121575519.4有效
  • 张幸福;都建民;刘江辉;胡宝莲 - 新乡辉簧弹簧有限公司
  • 2021-07-12 - 2022-04-26 - B21F35/00
  • 本实用新型公开了一种减少卷簧磨损的生产设备,弹簧成型机的机座上设置有固定端板,固定端板的中间安装有供料芯轴,固定端板的正面绕供料芯轴间隔设置有限位装置、弯折模组和剪切刀头,弯折模具包括上模和下模,且以供料芯轴为中心上下对称滑动设置在固定端板上剪切刀头、上模和下模均与固定设置在固定端板上的气缸活塞杆固定连接;本实用新型在现有弹簧成型机的基础上,增加限位装置、弯折模组和剪切刀头,通过之间的配合,实现卷簧的自动弯制及截断操作,完成卷簧的自动制作,减少卷簧的磨损
  • 减少磨损生产设备
  • [实用新型]减少去胶残留的去胶设备-CN202222430649.X有效
  • 张康 - 成都奕斯伟系统集成电路有限公司
  • 2022-09-14 - 2023-01-10 - B08B3/02
  • 本实用新型公开了一种减少去胶残留的去胶设备,包括多组第一喷淋机构、第二喷淋机构,第二喷淋机构高压喷淋的剥离液完全覆盖基板的整个宽度。本申请以高压喷淋代替气刀,无需使用气体,并且也可以减少排气量,从而减少成本;本申请无风刀进气,因此排气抽风量大大减少减少了能耗,亦减少内部气流扰动;本申请由于采用高压喷淋的方式,无较大的气流扰动,不会出现现有技术中的相邻独立腔体之间相互污染的情况
  • 减少残留设备
  • [发明专利]减少试剂测试设备的假阳性-CN201480008764.3在审
  • C.T.齐默尔;G.W.莱因黑默 - 西门子医疗保健诊断公司
  • 2014-02-12 - 2015-11-25 - C40B60/12
  • 公开了方法和系统,包括试剂分析器,所述试剂分析器包括:测试分析机构,例如光学成像系统,其构造为读取与试剂结合的样本的第一样品以及没有与所述试剂结合的样本的第二样品,所述试剂构造为与感兴趣的被分析物存在的样品反应,并且输出一个或多个第一信号,其表示所述测试分析机构读取所述第一和第二样品;以及处理器,其接收所述一个或多个第一信号,并且执行逻辑,以响应于所述处理器确定所述感兴趣的被分析物存在于所述第一样品中,分析所述第二样品。所述处理器可执行逻辑,以利用一个或多个比率算法并将所述算法的结果与表示期望颜色的预定值相比较,来分析所述第二样品。
  • 减少试剂测试设备阳性

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