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[发明专利]利用傅里叶变换的全光成像系统的校准-CN201610111899.3有效
发明人： V.南布迪里;K.P.阿加拉文卡特沙劳 -专利权人：株式会社理光
申请日： 2016-02-29 - 公布日： 2019-08-16 - 主分类号： H04N5/225 文献下载
摘要：本发明公开了全光成像系统的校准。全光成像系统包括被细分为超像素的检测器阵列。由全光成像系统的检测器阵列捕获的全光图像被访问。对于一排超像素，选择通过该排的一切片，所选择的切片的傅里叶变换与通过该排的其它切片相比具有更强的基波分量。基于所选择的切片的基波分量的频率来确定该排超像素的间距。基于所选择的切片的旋转来确定该排超像素的旋转。
利用傅里叶变换成像系统校准

[发明专利]全光成像系统的物空间校准-CN201610143154.5有效
发明人： L·孟;L·陆;N·贝达德;K·伯克纳 -专利权人：株式会社理光
申请日： 2016-01-05 - 公布日： 2018-07-13 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：准直物体可调节来产生沿不同传播方向传播的准直光。校准下的全光成像系统捕捉被调节至不同传播方向的物体的全光图像。捕捉的全光图像包括超像素，每个超像素包括子像素。每个子像素捕捉来自相应的光场观看方向的光。基于捕捉的全光图像，校准模块计算哪些传播方向映射至哪些子像素。该映射定义了子像素的光场观看方向。这可用于改善由全光成像系统捕捉的全光图像的处理。
全光子像素捕捉成像系统传播方向图像观看方向校准光场像素校准模块映射定义可调节物空间准直光可用映射准直传播

[发明专利]一种全介质、宽带偏振与相位调控超表面及远场超分辨聚焦器件-CN201911160646.5有效
发明人：陈刚;温中泉;张智海;梁高峰 -专利权人：重庆大学
申请日： 2019-11-23 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G02B5/30 文献下载
摘要：一种全介质、宽带偏振与相位调控超表面及远场超分辨聚焦器件，包括基底和全介质超表面。对于给定方向的线偏振光，通过设置不同快轴方向角的全介质半波片超表面单元，实现出射光偏振调控；对于给定位置处全介质半波片超表面单元，通过设置结构单元快轴方向角为π/2，实现二值相位(0π)调控。采用线偏振光作为入射光束从器件基底一侧垂直入射器件结构，在距离聚焦器件出射面焦距位置处，产生小于光学衍射极限(0.5λ/NA)的聚焦焦斑。该器件是一种全介质超表面聚焦器件，具有透过率高、多功能(偏振转换和光束聚焦)、质量轻和易于集成等优点，可应用于光学聚焦、光束整形和光学显微等领域。
一种介质宽带偏振相位调控表面远场超分辨聚焦器件

[发明专利]一种基于梯度下降算法的全光逻辑异或门及其实现方法-CN202110376898.2有效
发明人：胡小永;龚旗煌;齐慧欣;杜卓晨;杨佳宇 -专利权人：北京大学
申请日： 2021-04-08 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G02F3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于梯度下降算法的全光逻辑异或门及其实现方法。本发明基于梯度下降算法的反向设计为实现的光子器件提供了一个通用的平台，利于实现纳米光子器件的设计与集成；全光逻辑器件是光子集成回路中的重要组成部分，基于线性光学原理实现的全光逻辑异或门具有超快和超低能耗的优势；在极小尺寸范围内实现了全光异或门，有利于实现超紧凑，高集成度的全光集成回路；降低了器件设计的时间，提高了器件的性能，丰富了器件可实现的功能，减小了器件的尺寸，有利于实现超快响应、超低能耗、高集成度的片上全光集成回路；基于反向设计实现的全光集成器件在先进光子电路、全光信息处理、光通信等领域具有广阔的应用前景。
一种基于梯度下降算法逻辑及其实现方法

[发明专利]一种全光控可编程超表面-CN202310576875.5在审
发明人：蒋卫祥;张信歌;孙雅伦;黄志祥;朱秉诚;王俊嘉;张在琛;崔铁军 -专利权人：东南大学;安徽大学
申请日： 2023-05-22 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： H01Q15/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种全光控可编程超表面，属于光微波技术领域，全光控可编程超表面包括多个相同的全光控可编程超表面单元，超表面单元从顶部到底部依次包括光敏材料、表面金属图案、介质基板和金属地。光敏材料的电导率特性随着入射光强度的变化而变化；表面金属图案由对称的矩形环状铜片和矩形铜片组成，矩形铜片位于超表面单元中心，矩形环状铜片和矩形铜片通过光敏材料连接，超表面用于通过改变入射光强度改变光敏材料的电导率特性，进而改变超表面单元的谐振状态，调节超表面的微波反射相位，实现入射光对微波的完全和直接操控。本发明通过将光敏材料集成到微波段超表面，可以同时与入射光场和微波场相互作用，在自由空间实现用光直接调控微波。
一种光控可编程表面

[实用新型]像增强型全光固体超快成像探测器-CN201820203457.6有效
发明人：何凯;田进寿;汪韬;韦永林;徐向晏;卢裕;闫欣;王兴;尹飞;刘虎林;陈萍;温文龙;辛丽伟;王超;王俊锋;赛小锋 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2018-02-02 - 公布日： 2018-09-21 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本实用新型属于超快诊断技术领域，具体涉及一种像增强型全光固体超快成像探测器。该探测器包括外壳以及真空封装在外壳内部的光电阴极和半导体超快探测芯片；外壳的一端设置输入窗口，外壳的另一端设置输出窗口，所述光电阴极位于靠近输入窗口的一端，所述半导体超快探测芯片位于靠近输出窗口的一端；所述光电阴极和半导体超快探测芯片之间设置有一片或者多片微通道板。本实用新型解决了现有的全光固体超快诊断技术探测灵敏度低的技术问题。结合了基于微通道板的微光像增强技术和基于半导体辐射光学效应的全光固体超快成像技术，通过微通道板的倍增功能和全光固体超快探测芯片的高时间分辨特性，可以实现弱光条件下的高时间分辨成像。
全光超快探测光电阴极微通道板芯片半导体本实用新型成像探测器时间分辨输出窗口输入窗口一端设置诊断技术增强型半导体辐射探测灵敏度成像技术光学效应弱光条件外壳内部真空封装微光探测器多片成像倍增

[发明专利]一种将高斯光整形成平顶光的全介质超透镜的制备方法-CN202110100783.0有效
发明人：易飞;陈岩;侯铭铭 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2021-01-26 - 公布日： 2022-02-15 - 主分类号： G02B1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种将高斯光整形成平顶光的全介质超透镜及其制备方法，属于激光光束整形领域，全介质超透镜包括：介质衬底层和超表面结构；超表面结构位于介质衬底层一侧表面上，包括多个超表面柱状结构单元，多个超表面柱状结构单元按照四方晶格周期阵列的方式排列，各超表面柱状结构单元的高度相同。基于高斯光、目标平顶光电场强度振幅分布、全介质超透镜输入面和输出面的电场强度分布对超透镜相位进行优化设计，根据优化设计后的相位设计并制备超透镜。超表面结构大大减小光束整形器件的体积，器件厚度可减小至百微米量级，无需增加其他元件，简化光束整形装置，降低装配精度要求，该超透镜具有相位调控精度高的优势，能够实现连续的相位调控。
一种将高斯光整形平顶介质透镜制备方法

[发明专利]一种基于非对称超表面的载流子色散型全光开关-CN202111030250.6有效
发明人：文永正;路亚峰;郎光辉;周济;范本勇;吴经欧 -专利权人：北京索通新动能科技有限公司;清华大学
申请日： 2021-09-03 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G02F3/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于非对称超表面的载流子色散型全光开关。该全光开关的基本结构为周期排列的二维非对称半导体颗粒结构单元组成的超表面阵列。在泵浦光的照射下，半导体颗粒材料内部发生载流子色散效应，光生载流子密度的大幅增加使全光开关器件的谐振波长发生偏移，在信号光工作波长附近发生特征频谱的峰‑谷(或谷‑峰)转换。通过该过程，泵浦光束完成了对信号光束的通/断操控，实现了以光控光的全光开关。同时，本发明还提供了一种有效降低全光开关泵浦光强的方法。
一种基于对称表面载流子色散型全光开关

[发明专利]一种基于相变材料的分支波导交互调控超快全光开关-CN202110934195.7在审
发明人：刘富荣;张露露;陈清远;谢轩轩;连阳波 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2021-08-16 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： G02B6/125 文献下载
摘要：一种基于相变材料的分支波导交互调控超快全光开关，属于全光网络应用技术领域。全光开关包括层底、信号光波导、调控光波导和相变材料薄膜。信号光波导与调控光波导交互设计，相变材料薄膜嵌入在光波导交界处。利用调控光波导与相变材料薄膜倏逝场耦合作用，控制光脉冲的能量和数量来改变相变材料薄膜的相态。硫系化合物相变材料薄膜在晶态和非晶态的光学常数存在巨大差异，可以改变信号光的光场传输行为，从而实现了全光开关。本发明利用硫系化合物相变材料的非易失性超快相变(ps‑ns量级)特性，并结合光驱动的超快性，实现全光开关的低损耗、高速度和高消光比特性，结构简单，便于集成，为未来全光网络的发展奠定了基础。
一种基于相变材料分支波导交互调控超快全光开关

[发明专利]一种紫外全介质超透镜组-CN202210067230.4在审
发明人：梁中翥;史晓燕;徐海阳;刘益春;马剑钢;秦正;孟德佳;杨福明;刘华 -专利权人：东北师范大学
申请日： 2022-01-20 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种紫外全介质超透镜，它包括：透明基板、亚波长阵列结构；所述的亚波长阵列结构与透明基板连接；亚波长阵列结构由多个单元结构阵列形成；单元结构的长和宽均小于工作波长。一种紫外全介质超透镜组，还包括两个一种紫外全介质超透镜，分别为：第一全介质超透镜与第二全介质超透镜；第一全介质超透镜与第二全介质超透镜的直径比设计为4:1；第一全介质超透镜与第二全介质超透镜的焦点重合；光线依次经过第一全介质超透镜与第二全介质超透镜后，呈平行光出射；本发明实现了紫外波段单波长超表面透镜，组成的紫外全介质超透镜组，具有缩束功能，并减少了紫外系统的镜片数量，透过率高、能量损失小，加工工艺较简单
一种紫外介质透镜

[发明专利]一种面向超快超分辨全光磁记录的双脉冲激发方法-CN202010636656.8有效
发明人：王思聪;魏琛;李向平 -专利权人：暨南大学
申请日： 2020-07-03 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G11B11/105 文献下载
摘要：本发明公开一种面向超快超分辨全光磁记录的双脉冲激发方法，包括第一激发脉冲和第二调节脉冲，依次先后入射向光磁记录媒介使其被激光脉冲光斑所照射的区域发生全光磁反转；通过精确灵活控制双飞秒激光脉冲间的时间延迟、空间重叠区域以及能量密度比，可在能够实现单脉冲全光磁反转的光磁材料上两脉冲的空间重叠区域内诱导产生磁化场的二次反转，以获得超越衍射极限限制的全光磁记录，这一记录过程发生在几百皮秒(亚纳秒)时间尺度，为超高密度、超快磁存储提供有效的技术手段。
一种面向超快超分辨全光磁记录脉冲激发方法

[发明专利]一种全光纤光学频率梳装置-CN201610891787.4在审
发明人：魏志义;王立娜;韩海年;谢阳;庞利辉;张子越;刘文军 -专利权人：中国科学院物理研究所
申请日： 2016-10-12 - 公布日： 2017-01-18 - 主分类号： G02F1/39 文献下载
摘要：本发明提供了一种全光纤光学频率梳装置，涉及激光技术领域。本发明的装置包括超稳光梳源和拍频单元，所述超稳光梳源为掺铒光纤，以提供增益的光梳种子；所述拍频单元由掺镱光纤提供增益；所述超稳光梳源产生的激光通过光纤输入至所述拍频单元后进行放大和分频拍频。本发明提供的一种全光纤光学频率梳装置，采用掺铒和掺镱两种增益光纤混合的方案，充分利用了各自的优点和好处，从而得到了适用于空间的体积小、重量轻、功耗低的高效超稳的全光纤光学频率梳。
一种光纤光学频率装置

[发明专利]一种基于载流子色散效应的谐振超表面全光调制器-CN202210331669.3在审
发明人：文永正;路亚峰;郎光辉;周济;范本勇;吴经欧 -专利权人：北京索通新动能科技有限公司;清华大学
申请日： 2022-03-31 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G02F1/015 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于载流子色散效应的谐振超表面全光调制器，涉及全光信息技术领域，特别是基于半导体材料的光泵浦载流子色散效应，把控制光所携带的信息加载到载波光的振幅之上，实现了控制光对载波光光强的调制。全光调制器的基本结构由二维排列的谐振器、光生载流子功能层、衬底层三个部分组成。在控制光的照射下，光生载流子功能层产生光泵浦载流子色散效应，使谐振超表面的谐振谱线发生偏移，不同光强的控制光产生不同的谐振谱线偏移量，对应于谐振超表面对载波光的不同透射率，从而实现了控制光对透过载波光强度的调制同时，本发明还提供了一种有效降低全光调制器控制光驱动光强的方法。
一种基于载流子色散效应谐振表面调制器

[发明专利]全光固体超快探测芯片、全光固体超快探测器及其探测方法-CN201910594755.1在审
发明人：汪韬;高贵龙;何凯;闫欣;田进寿;李少辉;尹飞;辛丽伟 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2019-07-03 - 公布日： 2019-11-01 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种全光固体超快探测芯片、全光固体超快探测器及其探测方法，解决现有超快诊断设备无法同时具备高时间分辨率、高空间分辨率性能，以及现有电子光学电真空超快诊断设备诊断效果差的问题。其中芯片包括沿入射信号光传输方向依次设置的调制光栅、光学膜系、半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构、第一增透膜、基片及第二增透膜，信号光入射调制光栅，探针光入射第二增透膜；所述光学膜系对信号光进行增透、对探针光进行增反；所述半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构用于探测信号光，并经调制光栅调制，在半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构内部形成与信号光相对应的空间分布图样；所述第一增透膜和第二增透膜对探针光进行增透。
增透膜全光多量子阱结构超快响应探针光信号光调制半导体光栅超快探测诊断设备芯片光学膜探测器入射增透探测高空间分辨率高时间分辨率入射信号光传输方向电子光学光栅调制空间分布探测信号依次设置电真空图样诊断

[实用新型]全光固体超快探测芯片和全光固体超快探测器-CN201921026323.2有效
发明人：汪韬;高贵龙;何凯;闫欣;田进寿;李少辉;尹飞;辛丽伟 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2019-07-03 - 公布日： 2020-04-03 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种全光固体超快探测芯片和全光固体超快探测器，解决现有超快诊断设备无法同时具备高时间分辨率、高空间分辨率性能，以及现有电子光学电真空超快诊断设备诊断效果差的问题。其中芯片包括沿入射信号光传输方向依次设置的调制光栅、光学膜系、半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构、第一增透膜、基片及第二增透膜，信号光入射调制光栅，探针光入射第二增透膜；所述光学膜系对信号光进行增透、对探针光进行增反；所述半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构用于探测信号光，并经调制光栅调制，在半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构内部形成与信号光相对应的空间分布图样；所述第一增透膜和第二增透膜对探针光进行增透。
固体探测芯片探测器

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