专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种测量工件台垂向位置的装置-CN201010259190.0无效
  • 林彬;张俊 - 上海微电子装备有限公司
  • 2010-08-20 - 2012-03-14 - G01B9/02
  • 一种测量工件台垂向位置的装置,该装置包括:光源,发射出平行光束;调制光栅,对来自光源的光束进行调制;第一显微物镜,对来自调制光栅的光束进行缩束;工件台;第二显微物镜,对从工件台反射回来的测量光束进行扩束;测量光栅,接收来自第二显微物镜的测量光束;探测器,接收从测量光栅出射的光束,并对其进行测量,得到反射镜的高度。其中,工件台的侧面安装有一个反射镜,该反射镜能将入射平行反射回去,测量光栅上的光栅条纹与入射到测量光栅上的光束条纹成一夹角,两个光栅的周期为光源发出的光束的波长的100倍以上,光束穿过测量光栅后形成莫尔条纹
  • 一种测量工件位置装置
  • [发明专利]光学系统、光学延迟线和OCT装置-CN202010264282.1有效
  • 赖纳·海德曼 - 奥普托斯股份有限公司
  • 2020-04-07 - 2022-09-02 - G02B6/26
  • 一种能够接纳光束(200)的光学系统,该光学系统包括:被配置成反射光束的多个反射器(210a,210b),其中每个反射器被配置成反射入射,使得入射的路径和反射光束的路径彼此平行。每个反射器具有位于入射的路径和反射光束的路径之间的中心的反射中心轴(250a;250b)。至少两个反射器相对于彼此被布置成使得它们相应的反射中心轴不重叠,从而使得光束的路径能够多次通过该至少两个反射器中的至少一个反射器。
  • 光学系统光学延迟线oct装置
  • [发明专利]一种紧凑型哈特曼波前传感器-CN201910929932.7有效
  • 王帅;汤国茂;赖柏衡;杨平;程涛;何星;江炜 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2019-09-29 - 2021-09-21 - G01J9/00
  • 本发明公开了一种紧凑型哈特曼波前传感器,包括孔径分割光学缩束模块阵列、微透镜阵列和相机阵列,孔径分割光束缩束模块阵列对入射进行孔径分割和分孔径缩束,将入射的大尺寸光束分割成阵列式的小尺寸子光束,实现前级孔径分割和缩束;微透镜阵列组对每一个缩束后的子光束进行末端孔径分割,实现对单个子光束的波前斜率采样,相机阵列位于每一个子光束微透镜阵列的焦平面,用于探测每一个子光束经过微透镜阵列的光斑阵列图像,将相机阵列所有光斑阵列图像融合即可得到入射对应完整的全尺寸光斑阵列图像,最终用哈特曼波前传感器复原算法即可从光斑阵列图像中提取全口径波前斜率数据,重建入射的波前相位信息。
  • 一种紧凑型哈特曼波前传感器
  • [实用新型]一种光谱成像用的复色激光光束线斑整形的光学装置-CN202120219968.9有效
  • 刘畅 - 天津科辉光仪测控技术有限公司
  • 2021-01-27 - 2021-12-07 - G02B27/09
  • 本实用新型提供了一种光谱成像用的复色激光光束线斑整形的光学装置,涉及测量仪器技术领域,以解决现有技术中存在的现有的无法针对复色激光,只能针对单色激光,入射口径大小有限定,光束与光学系统同轴度要求高的技术问题本实用新型通过微柱镜组件及柱面镜组件实现对光束的兼容性更宽,装置通用性更强,入射激光光束可以是包含多种波长的复色激光,由于发散角度是和微柱镜组件的距离相关,和入射口径大小无关,和入射波长无关,且入射无需严格同轴,仅不超过光学零件的有效透射面积区域即可,提高了对光束性质的兼容性和通用性。
  • 一种光谱成像激光光束整形光学装置
  • [发明专利]光拾取器和使用其的光学信息再现装置-CN200610142745.7无效
  • 大西邦一 - 日立视听媒介电子股份有限公司
  • 2006-10-30 - 2007-07-04 - G11B7/12
  • 在现有的液晶型彗形像差修正装置中,难以确保用同一修正装置对波长和有效光束直径不同的多种光束,都得到良好的像差修正性能。此外,入射到该像差修正装置的光束,不可避免因入射位置偏离而使像差修正性能大幅度降低。本发明的课题可以改善这些问题。在本发明中,将液晶型彗形像差修正装置的电极图案,从现有公知的图案变更成图1所示的图案,而且根据入射的波长、有效光束直径、彗形像差量、入射的相对入射位置偏离,通过控制施加在各电极部上的电位,可以良好地改善所述各课题
  • 拾取使用光学信息再现装置
  • [发明专利]一种通孔孔壁检测装置和方法-CN202310804546.1在审
  • 蔡金锋;刘天军 - 生益电子股份有限公司
  • 2023-06-30 - 2023-08-15 - G01N21/954
  • 本发明公开了一种通孔孔壁检测装置和方法,该通孔孔壁检测装置包括光源、透光孔、光线调节机构、反射镜、角度调节机构和光接收模块;透光孔用于限制入射线的尺寸;光线调节机构用于将透光孔的尺寸调节至小于待检测通孔的孔径;反射镜用于对经由透光孔进行限制后的入射线进行反射;角度调节机构用于调节反射镜对入射线进行反射的反射角度;光接收模块用于接收反射光线,并生成检测图像。本发明在待检测通孔两侧分别设置反光镜和光接收模块,通过光线调节机构和角度调节机构调节入射线的光束尺寸和反射镜的反射,使入射线入射至孔壁,实现对待检测通孔孔壁的有效检测,结构简单,便于操作,具有较高的检测效率和检测准确度
  • 一种通孔孔壁检测装置方法
  • [发明专利]适用于多种光盘格式的光学头装置-CN97121176.0有效
  • 朴寿韩 - 三星电子株式会社
  • 1997-10-23 - 2003-01-22 - G11B7/12
  • 一种用于不同光盘记录格式的光学头装置,包括一光源,其具有两个相邻排列的垂直腔表面发射激光器,其发射具有不同波长和不同辐射的光;一物镜,用于将光源发射的光聚焦在记录媒体的记录表面上;一光检测器,用于通过接收记录媒体的反射光来检测信息信号和误差信号;一偏振光束分光器,位于光源和物镜之间的光路上,用于改变入射的路径;一波片,位于物镜和偏振光束分光器之间的光路上,用于转换入射的偏振分量。
  • 适用于多种光盘格式光学装置
  • [发明专利]光学系统-CN200780022335.1有效
  • 研野孝吉;中村绅 - 奥林巴斯株式会社
  • 2007-05-15 - 2009-07-01 - G02B17/08
  • 本发明涉及用于对具有360°全方位(全周)视场的图像进行拍摄、或以360°全方位(全周)视场对图像进行投影的小型的耀光少且分辨率好的光学系统,具有前组(10)和后组(20),该前组(10)具有绕中心轴(1)旋转对称的2个反射面(11、12),该后组(20)绕中心轴旋转对称并拥有正屈光度,包括配置在入射瞳(6Y)相反侧的第1反射面(11)和配置在第1反射面(11)相同侧的第2反射面(12),在第1反射面(11)的外周与第2反射面(12)的外周之间配置有包含中心轴的剖面内的入射瞳(6Y),从远方入射光束(2)依次经过前组(10)和后组(20)成像在像面(30)的偏离中心轴的位置上,在包含中心轴的剖面内,入射瞳(6Y)位于偏离中心轴的位置上,在与包含中心轴的面正交且包含该光束的中心光线的平面内,入射瞳(6Y)位于中心轴上,后组(20)由至少2组构成。
  • 光学系统
  • [发明专利]光学扫描设备以及使用该光学扫描设备的图像形成设备-CN200710085684.X有效
  • 富冈雄一;山胁健 - 佳能株式会社
  • 2007-03-06 - 2007-09-12 - G02B26/10
  • 本发明涉及一种能够优选地修正fθ特性、像场弯曲以及其他像差的紧凑的光学扫描设备,以及使用该光学扫描设备的图像形成设备,该光学扫描设备包括:入射学系统(LA),用于将光束从光源(1)引导至偏转器(4);以及成像光学系统(LB),用于将光束引导至扫描表面(7),其中满足θ1<θ3以及θ2<θ3的扫描视场区域存在于有效扫描视场区域中,其中在主扫描截面中并且对于扫描视场θ1,θ2表示入射到包含在成像光学系统中且最接近扫描表面的光学元件上的光束的主光线与成像光学系统的光轴之间的,并且θ3表示来自该光学元件的光束的主光线与光轴之间的
  • 光学扫描设备以及使用图像形成
  • [发明专利]全内反射式椭偏成像装置和成像方法-CN200510117696.7无效
  • 靳刚;王战会;陈艳艳;孟永宏 - 中国科学院力学研究所
  • 2005-11-08 - 2007-05-16 - G01N21/21
  • 本发明的全内反射椭偏成像装置,包括:光源、起偏器、滤波装置、补偿器、检偏器、透镜、位于入射的光路上使光源所发出的光形成扩展的准直光准直系统、待测样品、棱镜和位于待测样品的反射光路上的CCD或CMOS探测器,CCD或CMOS探测器对扩展探测光束照射样品上的所有点同时进行成像测量。本发明的方法,包括:将一准直的单色入射形成偏振光,将该光束形成为扩展的探测光束,然后将该光束入射α照射至待测样品;对扩展的探测光所照射区域的所有点的反射光束同时进行CCD或CMOS成像测量。
  • 反射式椭偏成像装置方法

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