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[发明专利]用于局部地处理皮肤的皮肤处理装置-CN201580018313.2有效
发明人： M·朱纳;J·A·帕勒洛 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2015-04-01 - 公布日： 2019-07-05 - 主分类号： A61N5/06 文献下载
摘要：提供了一种皮肤处理装置(100)，用于用光局部地处理皮肤，皮肤处理装置(100)包括顶端(128)、发光元件(106、108)以及包括光学元件(124)和光学元件定位结构(122)的安全机构。发光元件接收来自发光元件的会聚光束。光学元件构造成用作发散透镜。光学元件定位结构将光学元件定位在安全位置或者在顶端与要被处理的皮肤接触时将光学元件定位在处理位置，并且允许光学元件在这两个位置之间的移动。在安全位置，光学元件布置在光轴上的产生对眼睛安全的光束的位置。在处理位置，光学元件布置在光轴上的产生处理光束的另一个位置。
用于局部处理皮肤装置

[发明专利]衍射光学元件位置色差定光轴方法-CN201210237546.X有效
发明人：段学霆;谢永军;王鹏;李小燕;李华 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2012-07-10 - 公布日： 2012-10-31 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供的衍射光学元件位置色差定光轴方法，能够简单有效地实现对光学系统中衍射光学元件的光轴的确定。该衍射光学元件位置色差定光轴方法，包括以下步骤：（1）使准直光束通过所述衍射光学元件，由观测装置观察经衍射产生位置色差的准直光束不同色光焦点；（2）旋转衍射光学元件，通过观测装置观察不同色光焦点，当旋转的焦点旋转量最小时，保持此时旋转衍射光学元件的旋转位置；（3）此时各焦点所在拟合直线即确定为衍射光学元件的光轴。本发明巧妙地利用了衍射光学元件超长位置色差的特点，通过简便的操作即可确定光学系统中衍射光学元件的光轴。本发明所需装置简单易实现，光轴确定结果精确度高。
衍射光学元件位置色差光轴方法

[发明专利]光学元件保持机构、激光扫描光学装置、图像形成装置以及光学元件保持方法-CN201310189051.9有效
发明人：田岛直树;长坂泰志;松尾隆宏 -专利权人：柯尼卡美能达株式会社
申请日： 2013-05-21 - 公布日： 2013-12-04 - 主分类号： G02B7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种光学元件保持机构、激光扫描光学装置、图像形成装置、以及光学元件保持方法。在将光学元件固定于光学装置的规定位置的光学元件保持机构中，多个抵接部件在上述光学元件的与光轴正交的面的至少三个位置固定上述光学元件，作为上述多个抵接部件中的一个的基点抵接部件配置于规定位置，上述基点抵接部件的前端部相对于上述光学元件的陷入量比其它抵接部件相对于上述光学元件的陷入量大
光学元件保持机构激光扫描装置图像形成以及方法

[发明专利]一种用于极紫外光刻的衍射光学装置-CN201110338089.9无效
发明人：谢常青;辛将;朱效立;刘明 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2011-10-31 - 公布日： 2013-05-08 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种用于极紫外光刻的衍射光学装置，该装置包括：透光衬底；镀在所述透光衬底上表面的不透光薄膜；安装在所述不透光薄膜中心位置的聚焦衍射光学元件，所述聚焦衍射光学元件的个数至少为一个；安装在所述不透光薄膜上，且分布在所述聚焦衍射光学元件周围的调焦衍射光学元件，所述调焦衍射光学元件的个数至少为3个，且其分布位置不在同一直线上；其中，所述不透光薄膜上安装所述聚焦衍射光学元件和所述调焦衍射光学元件的位置，在所述聚焦衍射光学元件和所述调焦衍射光学元件上透光部分的相应位置具有透光孔本发明所公开的衍射光学装置，解决了利用衍射光学元件进行极紫外光刻时，所述聚焦衍射光学元件的焦点寻找困难的问题。
一种用于紫外光刻衍射光学装置

[发明专利]光学元件的界面测量方法和设备-CN202080018726.1在审
发明人：吉莱斯·弗莱斯阔特;西尔万·珀蒂格朗德 -专利权人： FOGALE纳米技术公司
申请日： 2020-03-02 - 公布日： 2021-12-24 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：一种用于测量形成包括称为“参考”光学元件的至少一个光学元件的多个类似光学元件的一部分的待测量光学元件(5)的界面的设备和方法(100)，该方法(100)包括以下步骤：所述参考光学元件和测量光束(11)的相对定位(102)；获取(104)“参考”图像；相对于视场定位(106)待测量光学元件(5)，以允许获取“测量”图像；确定(107)所述待测量光学元件(5)相对于参考光学元件的位置差别；调整(110)所述待测量光学元件(5)的位置，以消除所述位置差别；以及，借助于所述测量光束(11)来测量(112)待测量光学元件(5)的界面。
光学元件界面测量方法设备

[发明专利]光拾取装置-CN200610077422.4无效
发明人：桥村淳司 -专利权人：柯尼卡美能达精密光学株式会社
申请日： 2006-01-17 - 公布日： 2006-09-27 - 主分类号： G11B7/135 文献下载
摘要：一种光拾取装置构成为：使得在使用第1对物光学元件时入射到前述第1对物光学元件的光束对前述第1对物光学元件的入射位置和在使用第2对物光学元件时入射到前述第2对物光学元件的光束对前述第2对物光学元件的入射位置在与光轴垂直的方向上处于不同的位置；使得在使用前述第1对物光学元件时入射到前述第1对物光学元件光束的光程和在使用前述第2对物光学元件时入射到前述第2对物光学元件光束的光程不同。
拾取装置

[发明专利]光学元件的制造方法及光学元件成型模具-CN201180010278.1无效
发明人：小椋和幸;釜田善浩 -专利权人：柯尼卡美能达先进多层薄膜株式会社
申请日： 2011-02-03 - 公布日： 2012-11-14 - 主分类号： C03B11/16 文献下载
摘要：为了提供一种能够高精度成型光学元件的光学元件的制造方法，采用一对成型模具、其具有成型备有面对面光学面之光学元件的成型面，成型所述光学元件，光学元件制造方法的特征在于，成型模具备有：成型用该成型模具制造的第1光学元件的成型面；与成型第1光学元件之成型面分开的、成型在调整一对成型模具的相对位置时使用的第2光学元件的成型面；具有以下工序：第1成型工序，采用成型模具成型第2光学元件；测定工序，根据在第1成型工序成型的第2光学元件的透过波前像差，求面对面光学面的相对位置偏离量；相对位置调整工序，根据由测定工序求得的相对位置偏离量，调整一对成型模具的相对位置；第2成型工序，采用经相对位置调整工序调整了相对位置的成型模具，成型第1光学元件。
光学元件制造方法成型模具

[发明专利]旋转平移绝对检测法中确定光学元件中心的装置及方法-CN201510962258.4有效
发明人：刘钰;苗亮;张文龙;马冬梅;金春水 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2015-12-21 - 公布日： 2018-06-22 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：旋转平移绝对检测法中确定光学元件中心的装置及方法，涉及高精度球面面形检测加工领域。该方法为以光学元件外圆为中心做4个标记点；调节光学元件使干涉仪条纹为零条纹；当转台在0度位置时检测光学元件，记录4个标记点的像素位置坐标得到光学元件中心的像素位置坐标(X1，Y1)；旋转转台在0度、90度、180度、270度位置检测光学元件记录4个角度位置下任一标记点的像素位置坐标，得到光学元件被检区域中心的像素位置坐标(X2，Y2)；光学元件外圆中心与被检测区域中心偏离的像素数为(X1‑X2，Y1‑Y2)，用调整机构在X，Y方向上分别共心平移光学元件，使得光学元件被检测区域中心与光学元件中心重合。
光学元件像素位置坐标标记点被检测区域旋转平移检测法条纹球面面形检测平移调整机构角度位置区域中心外圆中心位置检测旋转转台中心偏离中心重合干涉仪像素数转台共心记录外圆检测加工

[发明专利]光扫描装置、中间部件以及图像形成装置-CN201010556905.9无效
发明人：长田礼二 -专利权人：富士施乐株式会社
申请日： 2010-11-12 - 公布日： 2011-08-10 - 主分类号： G02B26/10 文献下载
摘要：本发明提供光扫描装置、中间部件以及图像形成装置，其中，该光扫描装置具有：多个光学元件；壳体，其收纳所述多个光学元件，不具有调整各所述光学元件的位置的调整机构；以及中间部件，其配置在各所述光学元件与所述壳体之间，并具有支撑件和固定件，该支撑件以能够调整各所述光学元件相对于所述壳体的支撑位置的方式支撑各所述光学元件，该固定件在向下述相对位置上调整了各所述光学元件的所述支撑位置的状态下，针对所述壳体固定各所述光学元件和所述支撑件，其中，该相对位置为能够将来自光源侧的光引导至被扫描面的位置。
扫描装置中间部件以及图像形成

[发明专利]光学元件的位置调节装置-CN200710001516.8无效
发明人：桥本安史;高桥利夫 -专利权人：奥林巴斯株式会社;奥林巴斯映像株式会社
申请日： 2007-01-04 - 公布日： 2007-07-11 - 主分类号： G02B7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种光学元件的位置调节装置，该装置具有光束生成部，其具有配置为可使出射光轴相对于光学系统的光轴倾斜的光源；摄像装置，其配置在接受通过了上述光学系统的来自上述光束生成部的光束的位置上；可旋转的保持部件，其保持配置在上述摄像装置和上述光源之间的上述光学系统；位置调节信息计算装置，其用于根据经由上述摄像装置所输出的输出信息，计算在上述光学系统内位置未固定的光学元件的位置调节所需的信息；以及移动装置，其用于使上述光学元件向与上述光学系统的光轴垂直的规定方向移动由此，光学元件的位置调节装置尤其在制造成像性能和偏心精度的要求精度严格的小型光学系统的领域中有用。
光学元件位置调节装置

[发明专利]镜筒-CN200510125763.X无效
发明人：野村博 -专利权人：宾得株式会社
申请日： 2005-12-01 - 公布日： 2006-06-07 - 主分类号： G02B7/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种镜筒，其包括：构成拍摄光学系统一部分的径向缩回光学元件，其可以在位于拍摄光学系统的光轴上的拍摄位置和位于偏离光轴位置的径向缩回位置之间移动；用于向拍摄位置偏置该径向缩回光学元件的偏置装置；和围绕平行于该光轴延伸的转动轴转动的摆动构件，该摆动构件克服偏置装置的偏置力来推动径向缩回光学元件以将径向缩回光学元件移动到径向缩回的位置；以及径向缩回光学元件和摆动构件，其互相定位使得当径向缩回光学元件从拍摄位置移动到径向缩回位置时，摆动构件的每一单位旋转角的径向缩回光学元件的移动量减少。
镜筒

[发明专利]使用连续运动扫描和时间插值的主动对准-CN201380026472.8有效
发明人：安德烈·比 -专利权人：自动化工程机械公司
申请日： 2013-04-12 - 公布日： 2018-04-06 - 主分类号： G02B7/00 文献下载
摘要：用于将诸如透镜的第一光学元件与诸如图像传感器的第二光学元件主动对准的方法和设备使用连续扫描，即使没有来自光学元件之一的同步信号。在扫描期间，收集关于被扫描的光学元件的计时位置信息，并且然后，诸如通过针对一组位置‑时间对拟合曲线以估计在被扫描的光学元件的位置和时间之间的关系。然后可以使用该关系来估计当获取图像数据或其他对准质量指示的数据采样时的被扫描的光学元件的位置。根据这种对准质量‑位置数据，可以确定最佳对准位置，并且，可以然后将被扫描的光学元件定位在所确定的对准位置处。
使用连续运动扫描时间主动对准

[发明专利]镜筒-CN200510125762.5无效
发明人：野村博 -专利权人：宾得株式会社
申请日： 2005-12-01 - 公布日： 2006-06-07 - 主分类号： G02B7/04 文献下载
摘要：本发明提供了一种镜筒，其包括构成拍摄光学系统的一部分的径向缩回光学元件，其可以在拍摄光学系统的光轴上的拍摄位置和偏离光轴位置的径向缩回位置之间移动；围绕平行于该光轴延伸的旋转轴转动的摆动构件，该摆动构件与径向缩回光学元件相连，使得通过其中的向前旋转将径向缩回光学元件从拍摄位置移动到径向缩回的位置，并通过其中的向后旋转将径向缩回光学元件从径向缩回的位置移动到拍摄位置；以及缩回位置支撑装置，其用于当摆动构件进一步向前转动时，在缩回位置保持径向缩回光学元件，即便在径向缩回光学元件从拍摄位置达到径向缩回位置之后也是如此。
镜筒

[实用新型]一种异形光学元件的对位装置-CN202123108407.0有效
发明人：徐群辉;何才君;解杰;周仁;刘风雷 -专利权人：浙江水晶光电科技股份有限公司
申请日： 2021-12-08 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：本申请提供一种异形光学元件的对位装置，涉及光学设备技术领域，包括：上料机构、调节机构、进出机构和对位机构，所述上料机构用于将异形光学元件从治具的料盒中取出并放置在所述调节机构上，所述调节机构对所述异形光学元件定位和调节位置，所述对位机构将所述异形光学元件从所述调节机构上取出，并将所述异形光学元件放置在所述进出机构上的底板的目标位置。能够将多个异形光学元件依次放置到底板对应位置，高效、精准地完成批量异形光学元件的对位，为后续工序加工做好对位准备，提升产品加工效率，自动将异形光学元件贴合到底板相应位置上，从而节约材料和人工成本。
一种异形光学元件对位装置

[发明专利]控制装置、光学装置、摄像装置以及光学装置的控制方法-CN201910270063.1有效
发明人：柿本雄 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2019-04-04 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： H04N5/225 文献下载
摘要：本发明涉及控制装置、光学装置、摄像装置以及光学装置的控制方法。该控制装置用于该光学装置，该光学装置包括可移动光学元件、可不断旋转的操作环以及被构造为驱动光学元件的驱动器。当检测到操作环的操作开始时，驱动控制器将操作环的旋转位置和光学元件的位置分别设置为环基准位置和光学元件基准位置。驱动控制器根据利用操作环从环基准位置的操作量和光学元件基准位置而计算出的光学元件的驱动量，来控制驱动器。
控制装置光学摄像以及方法

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