专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学模块-CN201580061601.6有效
  • 中西裕美 - 住友电气工业株式会社
  • 2015-10-27 - 2020-06-16 - H01S5/0683
  • 提供一种光学模块,其实现对从半导体发光器件发射的的强度的高精度调整。光学模块包括形成部件和保护构件。形成部件包括基底构件;安装在基底构件上的半导体发光器件;安装在基底构件上的透镜,透镜被配置为变换从半导体发光器件发射的的光斑尺寸;以及安装在基底构件上的接收器件,接收器件在半导体发光器件的发射方向上布置在半导体发光器件以及透镜之间,且接收器件被配置为直接接收来自半导体发光器件的
  • 光学模块
  • [发明专利]泵浦半导体激光系统-CN200410068118.4无效
  • 李汉培;朴沼渊 - 南京LG同创彩色显示系统有限责任公司
  • 2004-11-12 - 2006-05-17 - G02F1/35
  • 本发明是有关泵浦半导体激光系统的技术。本发明中的泵浦半导体激光系统由如下结构组成:即,将电气信号转换成信号的激光二极管;对上述进行集处理的镜头;将输入的转换成一定的波长,并输出基本波的泵浦半导体;连接在泵浦半导体的下部,并将在泵浦半导体中发生的高热传送到外部的放热板;放行通过镜头被集处理的,并将其入射到泵浦半导体中,而将在泵浦半导体中发生的基本波折射到反射镜上的全反射棱镜;对折射的基本波进行反射和共振处理,并输出共振的反射镜;对共振的基本波进行增幅处理的半波长结晶体
  • 光泵浦半导体激光系统
  • [发明专利]半导体装置及其制造方法-CN201310252029.4有效
  • 高木和久 - 三菱电机株式会社
  • 2013-06-24 - 2014-01-15 - H01S5/22
  • 根据本发明,获得能够使半导体激光器部的振荡的横模稳定化、并且防止频率特性的劣化的半导体装置及其制造方法。在n-InP衬底(1)上集成有半导体激光器部(2)和调制器部(3)。调制器部(3)将从半导体激光器部(2)出射的调制。半导体激光器部(2)具有垂直脊(4),调制器部(3)具有倒台面脊(5)。这样由调制器部(3)和半导体激光器部(2)来改变脊型结构,能够使半导体激光器部(2)的振荡的横模稳定化,并且防止频率特性的劣化。
  • 半导体装置及其制造方法
  • [发明专利]半导体装置及其制造方法-CN201811233288.1在审
  • 林建宏;刘振宇 - 宸鸿光电科技股份有限公司
  • 2018-10-23 - 2020-05-01 - H01L29/786
  • 一种半导体装置及其制造方法在此揭露,其中半导体装置包含半导体岛区与半导体元件。半导体岛区位于基板的第一面上,并包含结晶部分,其是由闪光灯透过罩的透光区域照射半导体岛区所形成。半导体岛区为非晶态或微结晶态。半导体元件的通道位于结晶部分内。通过半导体岛区的图案设计配合罩且/或调节层的图案设计,并以闪光灯照射以进行半导体的结晶化,如此可有效地提高结晶强度的一致性。
  • 半导体装置及其制造方法
  • [发明专利]发光元件和显示装置-CN202111068511.3在审
  • 李久和;丁愚南;孙眩镐 - 乐金显示有限公司
  • 2021-09-13 - 2022-06-07 - H01L33/08
  • 一种发光元件包括:第一n型半导体层;设置在第一n型半导体层上的第一发层;设置在第一发层上的第一p型半导体层;设置在第一p型半导体层上的第二p型半导体层;设置在第一p型半导体层与第二p型半导体层之间的接合层;设置在第二p型半导体层上的第二发层;设置在第二发层上的第二n型半导体层;设置在第二p型半导体层上的p型电极;设置在第一n型半导体层上的第一n型电极;以及设置在第二n型半导体层上的第二n型电极。
  • 发光元件显示装置
  • [发明专利]制造光源的方法-CN201510174114.2在审
  • 金寿成;文盛铉 - 三星电子株式会社
  • 2015-04-13 - 2016-01-27 - H01L21/66
  • 提供了一种制造光源的方法,所述方法包括以下步骤:提供当向其施加电力时发射半导体光源;向半导体光源供应电力;接收半导体光源发射的,并且执行对所接收的的光学性质的第一测量;自第一测量已过去一段时间之后,接收半导体光源发射的并执行对所接收的的光学性质的第二测量;通过比较光学性质的第一测量和光学性质的第二测量的结果来确定半导体光源是否有缺陷;以及通过提供半导体光源的外围部件来构造包括半导体光源的光源,其中,作为确定半导体光源是否有缺陷的结果,所述半导体光源被确定为正常。
  • 制造光源方法

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