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- [发明专利]传输线插入损耗的估计-CN200780026017.2有效
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F·林德奎斯特
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艾利森电话股份有限公司
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2007-05-08
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2009-07-22
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H04B3/48
- 对客户传输线的线插入损耗(IL(f))的估计。对于多个不同的参考传输线,在实验室中利用双端线测试在多个频率处测量插入损耗,从而给出插入损耗值(L11…L14,…L51…L54)。对于相同的参考传输线,执行单端实验室测试,从而为每个传输线给出一个校准量(PV1…PV5),所述校准量表示远端TDR反射的振幅。如每个频率(f1…f4)的一条直线(Lf1…Lf4)所示,形成了损耗值(L11、L54)与校准量(PV1…PV5)之间的关系。对未知的客户传输线执行现场单端线测试,从而给出校准量(PVX)。针对不同的频率(f1…f4),插入损耗(IL′;(f))被确定为值(LX1…LX4)。能够经由线卡或通过连接至传输线来测量校准量(PV1…PV5;PVX)。对于一个传输线,能够根据传输线的终端阻抗来建立不同的关系。准确的客户传输线插入损耗得以生成。
- 传输线插入损耗估计
- [发明专利]一种QFN封装外壳插入损耗测试方法-CN202111502440.3在审
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刘俊永
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中国电子科技集团公司第四十三研究所
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2021-12-09
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2022-04-15
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G01R27/26
- 本发明提供一种QFN封装外壳插入损耗测试方法,在QFN封装外壳的加工版图上提取复制两次高频I/O传输线的图形和结构并设计测试陪片,使两个高频I/O传输线的图形和结构互为镜像进行串联;将测试陪片与QFN封装外壳采用同样的材料工艺且同版图同批次进行加工制作;使用插入损耗数值检测仪器通过连接组件分别连接制作好的测试陪片上的传输线的两端进行插入损耗值检测;再将插入损耗检测值除以2得到单个QFN封装外壳的高频I/O传输线的插入损耗数值。本发明利用QFN封装外壳整版阵列批量生产的工艺特点和两根同质传输线串联插入损耗翻倍的特性,复制两次QFN封装外壳的高频I/O传输线并镜像串联制作成测试陪片,以其作为插入损耗的测试样本,无需引入其他结构,
- 一种qfn封装外壳插入损耗测试方法
- [发明专利]一种基于区块链和物联网的数据传输信号检测系统-CN202110463447.2在审
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卢卫征
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卢卫征
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2020-08-03
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2021-08-24
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H04B17/382
- 本发明公开了一种基于区块链和物联网的数据传输信号检测系统,该系统包括传输信号定向传输区域测量模块、传输信号等待反馈确认模块、回应信号损耗差值分析模块、传输信号优先路径标记模块和物联网服务平台,传输信号定向传输区域测量模块用于网络内部定向传输信道中的传输信号值进行监测,传输信号等待反馈确认模块用于发送方进行回应信号等待确认,回应信号损耗差值分析模块用于对回应信号损耗值进行分析,传输信号优先路径标记模块用于对传输型号选择的传输信道进行优先接入,物联网服务平台用于对所有模块进行协调和数据获取,旨在对当前信号传输的信道进行参数检测,在当前信道信道质量差时智能化切换最优信道进行信号传输。
- 一种基于区块联网数据传输信号检测系统
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