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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]记录和再现全息图形的设备和方法以及其中的空间光调制器-CN200510107604.7无效
发明人：松本一纪;平尾明子;早濑留美子;塚本隆之 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2005-09-29 - 公布日： 2006-05-10 - 主分类号： G11B7/0065 文献下载
摘要：包括：把信息光束和参考光束中至少之一引导到光记录媒体上的记录/再现光学系统；设置在该记录/再现光学系统的光径中并且空间调制经该记录/再现光学系统引导的光束以生成信息光束的空间光调制器；利用用来检测第一不对准的光束检测该记录/再现光学系统和该空间光调制器之间的第一不对准的第一不对准检测单元；以及，根据该第一不对准检测单元检测的该第一不对准来校正该第一不对准的第一不对准校正单元。
记录再现全息图形设备方法以及其中空间调制器

[发明专利]管理不对准存储器组件的重新映射的存储器子系统-CN202010868968.1有效
发明人： L·波尔齐奥;M·迪·帕斯夸;P·帕帕 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2020-08-26 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G06F12/02 文献下载
摘要：本申请案涉及管理不对准存储器组件的重新映射的存储器子系统。一种系统的处理装置接收存取存储器组件中的选定扇区的请求。所述选定扇区与扇区编号相关联。所述处理装置确定与所述选定扇区对应的虚拟块。所述虚拟块与不对准因数及不对准计数器相关联。所述处理装置确定所述不对准计数器是否满足阈值准则。响应于所述不对准计数器满足所述阈值准则，所述处理装置通过将所述扇区编号移位达所述不对准因数产生更新的扇区编号并使用所述更新的扇区编号对所述选定扇区实行所述存取。响应于所述不对准计数器不满足所述阈值准则，所述处理装置更新所述不对准计数器并使用所述扇区编号对所述选定扇区实行所述存取。
管理对准存储器组件重新映射子系统

[发明专利]用于检测和减轻光学系统中的光学损伤的方法和装置-CN201580015330.0有效
发明人：庄司武;J.德林卡德;A.泰亚吉 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2015-03-18 - 公布日： 2019-07-26 - 主分类号： H04N13/296 文献下载
摘要：根据本文中的教导的一个方面，一种方法和装置在机器视觉系统的运行时操作期间检测机器视觉系统中的机械不对准，并且基于检测到的不对准来补偿图像处理，除非检测到的不对准过多。可通过基于它们来确定最坏情况误差来检测过多不对准。如果最坏情况误差超过定义极限，则机器视觉系统过渡至故障状态。故障状态可包括中断危险机器的操作或执行一个或多个其它故障状态操作。在检测到的不对准之中的是用于成像的单独相机内的内部不对准以及相机之间的相对不对准。该方法和装置还可执行焦点的运行时验证，并响应于检测到不足的聚焦质量而使机器视觉系统过渡至故障状态。
用于检测减轻光学系统中的光学损伤方法装置

[发明专利]用于晶圆键合对准补偿的方法和系统-CN201880000756.2有效
发明人：郭帅 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2018-05-16 - 公布日： 2019-11-08 - 主分类号： H01L21/60 文献下载
摘要：公开了一种用于晶圆键合对准补偿的方法。该方法包括：键合包括位于第一对晶圆上的多个键合对准标记对的第一对晶圆；基于对至少两个键合对准标记对的测量来第一次分析第一对晶圆之间的平移不对准和旋转不对准；基于第一次分析来控制晶圆位置调整模块以补偿在键合第二对晶圆期间的平移不对准和旋转不对准；基于对多个键合对准标记对的测量来第二次分析第一对晶圆之间的平均跳动不对准；以及基于第二次分析来控制晶圆变形调整模块以补偿在键合第三对晶圆期间的跳动不对准。
晶圆不对准键合对准标记平移调整模块对准补偿晶圆键合分析跳动测量晶圆位置变形

[发明专利]管理不对准存储器组件的重新映射的存储器子系统-CN202210871765.7在审
发明人： L·波尔齐奥;M·迪·帕斯夸;P·帕帕 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2020-08-26 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： G06F12/02 文献下载
摘要：本申请案涉及管理不对准存储器组件的重新映射的存储器子系统，其包括：存储器组件，其包括多个扇区；及处理装置，其与所述存储器组件操作地耦合以实行包括以下步骤的操作：接收存取所述多个扇区中的选定扇区的请求，所述选定扇区与扇区编号相关联；确定与所述选定扇区对应的虚拟块，所述虚拟块与不对准因数及不对准计数器相关联；确定所述不对准计数器是否满足阈值准则；响应于所述不对准计数器满足所述阈值准则，通过将所述扇区编号移位达所述不对准因数产生更新的扇区编号
管理对准存储器组件重新映射子系统

[发明专利]管理不对准存储器组件的重新映射的存储器子系统-CN202210869196.2在审
发明人： L·波尔齐奥;M·迪·帕斯夸;P·帕帕 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2020-08-26 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G06F12/02 文献下载
摘要：本申请案涉及管理不对准存储器组件的重新映射的存储器子系统，其包括：存储器组件，其包括多个扇区；及处理装置，其与所述存储器组件操作地耦合以实行包括以下步骤的操作：接收存取所述多个扇区中的选定扇区的请求，所述选定扇区与扇区编号相关联；确定与所述选定扇区对应的虚拟块，所述虚拟块与不对准因数及不对准计数器相关联；确定所述不对准计数器是否满足阈值准则；以及响应于所述不对准计数器不满足所述阈值准则，使用所述扇区编号对所述选定扇区实行所述存取
管理对准存储器组件重新映射子系统

[发明专利]轴向不对准检测系统-CN202280005160.8在审
发明人：艾库特·卡拉汗 -专利权人：马基纳显示器工业和贸易有限公司
申请日： 2022-03-02 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： B30B9/32 文献下载
摘要：本发明还包括：至少一个传感器，该至少一个传感器在废金属剪切机上定位成使得该至少一个传感器面向在截切机(10)上指定的传感器参考点(40)，以遵循切割轴线(e)，在切割操作期间检测轴向不对准(k)并发送信号
轴向对准检测系统

[发明专利]用于在光学通信模块的组装期间执行视觉辅助被动对准的方法及系统-CN201310153951.8有效
发明人：彭国汉 -专利权人：安华高科技通用IP(新加坡)公司
申请日： 2013-04-28 - 公布日： 2013-11-13 - 主分类号： G02B27/62 文献下载
摘要：本发明提供视觉辅助被动对准系统及方法，所述视觉辅助被动对准系统及方法在将光学器件系统安装于电路板的上部表面上的过程期间检测所述光学器件系统的倾斜不对准，并移除倾斜不对准以确保所述光学器件系统的透镜与安装于所述电路板的所述上部表面上的光电子装置精确地对准
用于光学通信模块组装期间执行视觉辅助被动对准方法系统

[发明专利]用于光敏装置的透镜对准方法及设备以及其实施系统-CN200880102624.7无效
发明人：马克·E·塔特尔 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2008-08-05 - 公布日： 2010-07-14 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：将不对称地定位的透镜与半导体装置一起使用，所述半导体装置包含不对称地定位于其表面上的光学活性区。所述透镜的光轴与所述光学活性区的中心对准。可制造半导体装置及透镜的晶片级组合件，将其与对准于所述不对称地放置的光学活性区上方的所述不对称地放置的透镜互相紧固，且对其进行单一化以形成封装，例如图像传感器封装。本发明还揭示相关方法以及并入有具有不对称地放置的光学活性区及经对准透镜的装置的系统。
用于光敏装置透镜对准方法设备以及实施系统

[发明专利]用于视频质量评估的方法和系统-CN200480017214.4有效
发明人：亚历山大·琼·布雷;大卫·斯内登·汉兹;达米安·巴亚尔;安德鲁·戈登·戴维斯 -专利权人：英国电讯有限公司
申请日： 2004-06-04 - 公布日： 2006-07-26 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：一种用于自动视频质量评估的方法和系统，其减少了基准和测试序列之间的子场/帧不对准的不利影响。更具体地，本发明通过将测试视频场/帧的子场/帧单元分别与基准视频场/帧的子场/帧单元进行匹配，来将不对准降为要进行处理的子场/帧水平。使用明显小于视频场/帧尺寸的匹配单元尺寸使得能够有效地跟踪瞬态子场/帧不对准。
用于视频质量评估方法系统

[发明专利]使用XY地层响应的比较来修正在不对准情况下的交叉分量的感应测量-CN200780019511.6无效
发明人： M·B·拉比诺维奇;L·A·塔巴罗弗斯基;B·H·科雷;L·M·佩雷格里 -专利权人：贝克休斯公司
申请日： 2007-04-05 - 公布日： 2009-06-10 - 主分类号： G01V3/00 文献下载
摘要：根据多个频率下的正交分量信号来估计多分量感应测井工具的发射器和接收器天线之间的不对准角度。可供选择的，在不使用选择的交叉分量的情况下反演测量结果。使用模型来预测选择的交叉分量的值。根据选择的交叉分量的预测值和实际值来估计不对准角度。可供选择的，利用在多个转动角度下进行的测量，来估计发射器天线和第二接收器天线之间的不对准角度。
使用 xy 地层响应比较修正对准情况交叉分量感应测量

[发明专利]半导体器件及其制造方法-CN99103223.3无效
发明人：小室雅宏 -专利权人：日本电气株式会社
申请日： 1999-03-26 - 公布日： 1999-10-13 - 主分类号： H01L21/027 文献下载
摘要：由此,通过使用一个方框标记可同时测量字线方向上的不对准值和位线方向上的不对准值。当在由字线和位线形成的＃形结构的布线之间形成电容触点时,通过使用用于自动重叠测量的方框标记进行。结果,可以缩短测量X方向(字线)和Y方向(位线)上的不对准值和分析测量结果的所需的时间。
半导体器件及其制造方法

[发明专利]用于斜齿轮的挠性销-CN200980000327.6无效
发明人： E·C·哈尔贝克;M·T·查特 -专利权人：剪式风能科技公司
申请日： 2009-01-13 - 公布日： 2010-06-16 - 主分类号： F16H1/28 文献下载
摘要：在不增加部件或不磨损面的情况下，建立一种与由倾覆力矩和其它齿轮力造成的不对准相等或相对的抵消再对准。对于销元件，各截面的主轴线非竖直地定向的一个或多个不同或变化的横截面，利用在两个平面中引起挠曲的切向力和径向力正确地补偿由斜齿轮力引起的不对准，从而保持啮合对准与使用正齿轮和传统挠曲销时相同。
用于齿轮挠性销

[发明专利]X射线成像系统的使用和校准-CN201911419668.9在审
发明人：彼得·迈克尔·伊迪克;比朱·雅各布 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2019-12-31 - 公布日： 2020-07-21 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本公开涉及在成像过程期间实时确定X射线焦点的位置，以及使用所述焦点位置来确保所述焦点与高长宽比探测器元件的对准或校正焦点不对准，从而减轻图像伪影。另选地，可应用先前确定的焦点位置与测量数据之间的函数关系来解决或校正所获取的数据中的焦点不对准。
射线成像系统使用校准

[发明专利]双眼头戴式显示器的激光对准-CN201280037917.8有效
发明人：谢尔盖·布林;巴巴克·阿米尔帕尔维兹 -专利权人：谷歌公司
申请日： 2012-07-12 - 公布日： 2017-06-23 - 主分类号： G02B27/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种双眼头戴式显示器，其包含框架、右显示器及左显示器、对准传感器及控制系统。所述右显示器及所述左显示器向用户显示右图像及左图像且安装到所述框架。所述对准传感器包含安装成接近所述右显示器或所述左显示器中的一者的第一激光源及安装成与所述第一激光源相对且接近所述右显示器或所述左显示器中的相对者的第一光检测器阵列。所述第一对准传感器经安装以测量归因于所述框架围绕一个或一个以上旋转轴的变形的所述右显示器与所述左显示器之间的不对准且产生指示所述不对准的信号。所述控制系统耦合到所述对准传感器以接收所述信号且至少部分地基于所述信号而计算所述不对准。
双眼头戴式显示器激光对准

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