[发明专利]依再现信息中记录轨迹给出相位补偿的光学信息存储装置无效
申请号: | 99123531.2 | 申请日: | 1999-11-10 |
公开(公告)号: | CN1268741A | 公开(公告)日: | 2000-10-04 |
发明(设计)人: | 西本英树 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G11B7/125 | 分类号: | G11B7/125;G11B11/10;G02B27/28 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 马浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一用于将入射光束射在具有由作为轨迹的纹间表面与沟纹组成的记录表面的记录介质上并对从其反射的光束得到的再现信号进行检测的光学信息存储装置。它包括设置在反射光束光路中的相位平板,可在第一与第二位置之间倾斜,且在第一位置该相位平板向反射光束提供为检测来自纹间表面信号所需的第一相位补偿量,及在第二位置该相位平板向反射光束提供为检测来自沟纹信号所需的第二相位补偿量;以及用于倾斜该相位平板的驱动机构。 | ||
搜索关键词: | 再现 信息 记录 轨迹 给出 相位 补偿 光学 存储 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于将入射光束照射在具有由作为轨迹的纹间表面与沟纹组成的记录表面的记录介质上,并对从所述记录介质反射的反射光束得到的再现信号进行检测的光学信息存储装置,其包括:一设置在所述反射光束光路中的相位平板,致使其可在一第一位置与一第二位置之间倾斜,且在该第一位置上所述相位平板向所述反射光束提供为检测来自所述纹间表面的信号所需的第一相位补偿量,以及在该第二位置上所述相位平板向所述反射光束提供为检测来自所述沟纹的信号所需的第二相位补偿量;以及一用于使所述相位平板倾斜的驱动器。
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