[发明专利]依再现信息中记录轨迹给出相位补偿的光学信息存储装置无效

专利信息
申请号: 99123531.2 申请日: 1999-11-10
公开(公告)号: CN1268741A 公开(公告)日: 2000-10-04
发明(设计)人: 西本英树 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G11B7/125 分类号: G11B7/125;G11B11/10;G02B27/28
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 马浩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 再现 信息 记录 轨迹 给出 相位 补偿 光学 存储 装置
【说明书】:

本发明一般涉及一种光学信息存储装置,更具体地说,涉及用来在形成于记录介质上的纹间表面与沟纹两者上面记录光学信号并从该记录介质再现被记录的光学信号的光学信息记录与再现装置。

光盘作为存储介质受到关注,成为多媒体近代快速发展的核心,它通常被容纳在一个为实际使用随着光盘盒提供的盒式壳体(cartridgecase)中。该光盘盒(cartridge)被装载至光盘驱动装置中,以便通过一光学拾取器(光学头)从/向该光盘执行数据(信息)的读出/写入。

力图实现减小尺寸的现代光盘驱动装置由一固定光学组件以及一可动光学组件组成,固定光学组件包括:一激光二极管模件,一用于反射及透射激光束的偏振分束器,以及一用于从光盘接收反射光的光检测器;可动光学组件包括:一滑座以及一带有物镜和装在该滑座上的光束提升反光镜的光学头。该滑座可借助于音圈马达沿着一对导轨在该光盘的径向移动。

从固定光学组件的激光二极管模件发射的写入功率激光束首先由准直透镜准直,其次由偏振分束器传送,然后被光学头的光束提升反光镜反射,最后由物镜聚焦在光盘上,由此将数据写到光盘上。另一方面,通过将读出功率的激光束照射到光盘上来完成数据的读出。来自光盘的反射光首先由物镜准直,然后被偏振分束器反射,最后由光检测器进行检测,由此将所检测的光信号转换成电信号。

在光盘的基板上许多沟纹按同心状或螺旋状形成,以引导待照射到基板上的激光束。在任何相邻的一个个沟纹之间限定的平坦部分称为纹间表面。在现有技术的一般光盘中,不是纹间表面就是沟纹被作为其上记录有信息的记录轨迹来使用。然而,要考虑的现代重要技术课题是通过使用纹间表面与沟纹这两者作为记录轨迹来提高记录密度,因而要减小轨迹的间距。在这方面,为实现此课题的各种方法已被提出。

在作为光盘驱动装置一个类型的磁-光盘驱动装置中,通过使读出功率的激光束照射在磁-光盘上及用现有技术中公知的方法对从该磁-光盘反射的反射光的P偏振光分量与S偏振光分量进行差动检测,再记录在磁-光盘上的磁-光信号。按照这种方式,磁-光信号必须通过对反射光的P偏振光分量及S偏振光分量进行差动检测实现最佳再现。然而,各单个磁-光盘驱动装置的光学元件有不同特性,这在每个磁-光盘驱动装置中在反射光的P偏振光分量与S偏振光分量之间造成相位差。此外,记录介质之间类型的差别也会造成类似的相位差。

图1为表示在64 MB(兆比特)磁-光盘及1.3GB(千兆比特)磁-光盘中相位差与载噪比(CNR)之间关系的曲线。如从图1中明显看出的那样,在每个640MB磁-光盘与1.3GB磁-光盘中存在有一给出CNR最大值的相位差。同时图1的曲线进一步表示,在记录密度更高的1.3GB磁-光盘中CNR对相位差更不敏感,但1.3GB磁-光盘有一个问题,磁-光(MO)信号大幅度地起伏。

图2为表示在640MB磁-光盘及1.3GB磁-光盘中相位差与MO起伏/MO幅度之间关系的图形。MO起伏意味着在盘回转一次中MO信号的包络线的波动起伏。这样的MO起伏示于图3中。MO起伏在以一定限幅电平削减MO信号当中引起抖动的恶化。从图2明显看出,在1.3GB磁-光盘中MO起伏随相位差的改变陡峭地发生变化。因此,相位差必须调整以取得最佳的再现信号质量。

此外,在用于在记录介质的纹间表面与沟纹两个方面记录信息的磁-光盘驱动装置中,每个轨迹的宽度小于在该记录介质上构成的光斑的直径,致使被该光斑所覆盖的轨迹极大地受到来自相邻轨迹交叉干扰的影响。于是,这种纹间表面/沟纹记录方法有这样的问题,从任何相邻的沟纹或纹间表面反射的不希望的光成分增加,引起连带的相位差以及再现光偏振状态的总变化。结果,信息不能从该磁-光记录介质上良好地再现。

图4为表示在执行纹间表面再现与沟纹再现当中相位差与CNR之间关系的图形。从图4中清楚地看出,在纹间表面读出与沟纹读出的每一种情况下CNR随相位差的改变而发生变化,在每种情况下存在有一个给出最大CNR的最佳相位差。因此,需要对在纹间表面读出与沟纹读出的每一种情况下再现光的偏振光分量进行相位补偿,由此取得P偏振光分量与S偏振光分量之间的最佳相位差。例如,日本专利公开Nos9-282730、9-282733和10-134444公开了用于对在纹间表面再现与沟纹再现之间再现光的偏振光分量之间的相位差进行切换(switch)的技术。但是,每项技术都要利用复杂的光学系统。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通株式会社,未经富士通株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/99123531.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top