[发明专利]半导体陶瓷和使用该半导体陶瓷的半导体陶瓷元件无效

专利信息
申请号: 98121544.0 申请日: 1998-10-21
公开(公告)号: CN1093106C 公开(公告)日: 2002-10-23
发明(设计)人: 川瀬洋一;中山晃庆;上野哲;石川辉伸;新见秀明 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: C04B35/50 分类号: C04B35/50;H01C7/04
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 白益华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了一种半导体陶瓷,其常数B在升高温度下保持在约4000K或更高以减少电能损耗,常数B在低温下降至低于4000K以避免电阻不必要的增加;以及使用该半导体陶瓷的半导体陶瓷元件。所述半导体陶瓷由氧化钴镧作为主组分,至少一种Li、Na、K、Rb、Cs、Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Ni、Cu和Zn的氧化物作为次要组分形成。所述半导体陶瓷元件是用该半导体陶瓷和形成于其上的电极来制造。
搜索关键词: 半导体 陶瓷 使用 元件
【主权项】:
1.一种半导体陶瓷,包括(a)氧化钴镧作为主组分和(b)至少一种选自Li、Na、K、Rb、Cs、Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Ni、Cu和Zn的元素的氧化物,所述氧化物(b)的含量按其元素计约为0.001-1摩尔%。
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