[发明专利]光束特性评价方法和其评价装置及其写入单元调整装置有效

专利信息
申请号: 98117250.4 申请日: 1998-06-25
公开(公告)号: CN1208867A 公开(公告)日: 1999-02-24
发明(设计)人: 尾崎绅一;阿部克志;高桥伸公 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G03G13/04 分类号: G03G13/04;G03G15/043;G01D5/30
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 黄剑锋
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开一种光束特性评价方法和其评价装置及其写入单元调整装置,光束特性评价方法的特性在于通过使对被扫描面进行线性扫描用的束光光源在与扫描过程中的单点发光相对应的扫描时间内发光的方式,对光束所需要的特性进行评价,其可正确地对光束直径或光束形状进行评价。
搜索关键词: 光束 特性 评价 方法 装置 及其 写入 单元 调整
【主权项】:
1.一种光束特性评价方法,其特性在于通过使对被扫描面进行线性扫描用的束光光源在与扫描过程中的单点发光相对应的扫描时间内发光的方式,对所要求的光束特性进行评价。
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