[发明专利]利用等离子体处理大面积衬底基片的系统无效

专利信息
申请号: 96196235.6 申请日: 1996-07-02
公开(公告)号: CN1192788A 公开(公告)日: 1998-09-09
发明(设计)人: 陈聪 申请(专利权)人: 陈聪
主分类号: C23C16/00 分类号: C23C16/00;C23F1/02
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 邵伟
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一个用于处理大面积衬底基片的等离子体系统(10)。在一个实施例中,该系统包括多个射频等离子体源(40),它们被可拆卸地连接在处理腔(14)的射频可透过的窗(26)上。源的数量和分布是可以变化的,以提供处理衬底基片所需要的尺寸大小和均匀性的等离子体场。许多等离子体探针(74),例如朗谬尔探针、法拉弟凹坑和光学传感器被放置在腔内,并与等离子体源以电连接的方式,调节各个源所产生的射频场,以保持所需要的场的均匀性程度。
搜索关键词: 利用 等离子体 处理 大面积 衬底 系统
【主权项】:
1、一种利用等离子体处理衬底基片的系统,所说的系统包括:一个真空腔,在所说的腔的表面上有多个射频可透过的窗;一个射频发生器;至少两个等离子体源,每个所说的等离子体源都与所说的射频发生器电连接,并被并置于所说的许多射频可透过的窗中相应的一个上。
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