[发明专利]具有已改善故障检测覆盖率的制作缺陷分析仪

摘要

一种用于印刷电路板的制作缺陷分析仪，它可以检测元件的引线和印刷电路板之间开路故障。制作缺陷分析仪可以按感应耦合模式或电容耦合模式操作。相同的传感器可用于两种模式，以便使在同一部份的不同引线能用任一种方法测试。本发明还公开了一种使装置可以快速且精确地检测制作缺陷的方法。$＃!

主权项

1．一种用于检测在其上装有多个元件(102)的印刷电路板(100)上的制作缺陷的装置，包括多个用于接收和产生电磁场(310)的传感器(104)，每个传感器装在一个元件上面，每个传感器在第一层(210)上至少有一个螺旋天线元件(215A,215B)，该螺旋天线元件形成第一端点(220A)和第二端点(220C)间的导电通路；至少一个可切换地耦合到每个传感器的信号源(122A,122B)；至少一个测量仪表(114A,114B)，后者可切换地连接到印刷电路板上，用于测量板上的电压信号或电流信号；一个偏流源(112)，可切换地连接到印刷电路板上，用于在板上形成导电回路；和测试控制装置(124)，用于控制把信号源耦合到每个传感器上和把测量仪表连接到印刷电路板上，其中测试控制装置连接多个传感器中的一个，以便使电流在第一端点和第二端点间流动，并测量在印刷电路板和多个传感器之一间的感应耦合的测试信号，其特征在于：每个传感器至少在第二层(212)上有一个螺旋天线元件(217A,217B)，在第二层上的螺旋天线元件形成第三端点(220B)和第四端点(220D)间的导电通路；测试控制装置连接多个传感器中的一个，以便使电流在第一和第二端点之间及第三和第四端点之间流动，并测量在印刷电路板和多个传感器之一间感应耦合的测试信号；和测试控制装置连接多个传感器中的一个，以便防止第一和第二端点之间和第三和第四端点之间的电流流动，并测量印刷电路板和多个传感器之一间电容耦合的测试信号。