[发明专利]一种纳米硅薄膜的制备方法无效

专利信息
申请号: 92114905.0 申请日: 1992-12-28
公开(公告)号: CN1032659C 公开(公告)日: 1996-08-28
发明(设计)人: 何宇亮 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: C23C16/24 分类号: C23C16/24;C23C16/50
代理公司: 北京市第九专利代理事务所 代理人: 李有浩
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 用等离子化学沉积系统制备纳米硅薄膜的方法,首先启动抽真空系统将反应室内真空度达到2×10-3乇,打开电炉加热,衬底温升到一定温度,将纯度为99.999%的氢气注入反应室内,打开R.F交流电源,保持反应室内为2×10-3乇真空度,通入混合的硅烷气,调整合适的交流电源功率,打开D.C电源,调好直流负偏压值,即开始沉积并结成纳米硅薄膜。
搜索关键词: 一种 纳米 薄膜 制备 方法
【主权项】:
1.一种使用等离子体化学汽相沉积(PECVD)制备纳米硅薄膜的方法,其特征在于采用高氨稀释比的混合硅烷气作为沉积纳米硅薄膜的反应气源,其稀释比为c=SiH4/SiH4+H2=(0.5~2.0)%;同时在使用射频功率电源(R.F)时施加直流功率电源(D.C),其直流负偏压调至200~300V左右。
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