[发明专利]测量被勘测点坐标的方法和装置无效
| 申请号： | 90109626.1 | 申请日： | 1990-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN1031596C | 公开（公告）日： | 1996-04-17 |
| 发明（设计）人： | 田中政芳;府川晴夫;远藤正光;门胁一郎;端山泰雄 | 申请（专利权）人： | 株式会社索佳 |
| 主分类号： | G01C3/22 | 分类号： | G01C3/22 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 杜日新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量勘测点坐标的方法和设备。视距仪将光传到位于勘测点的反射镜，反射镜在过勘测点直线的两个点上，此两点与勘测点隔开预定距离。视距仪利用从两反射镜位置的反射光，由反射光接收信号和参考信号间的相位差计算视距仪和反射镜间的距离。进而，由反射镜位置的水平平面角和垂直平面角计算勘测点的坐标。最后由两反射镜位置的坐标值计算勘测点的坐标值。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 勘测 标的 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测量勘测点座标的方法，包括如下步骤：光从视距仪传输到设置在勘测点的反射镜，所说的反射镜定位在通过勘测点的直线上的两点上并与勘测点隔开预定的距离；由参考信号和接收信号之间的相位差确定视距仪和反射镜之间的距离，接收信号是由最初从视距仪传出的光再被反射镜反射回视距仪而产生的；由座标系原点、视距仪和反射镜之间的距离、及相对于视距仪和反射镜的水平平面角和垂直平面角来确定反射镜的座标值；及由座标系原点、定位反射镜的两点的座标值，勘测点与两点之一的距离、及所述两点之一与另一点的距离来计算勘测点的座标值。
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