[发明专利]测量被勘测点坐标的方法和装置无效
申请号: | 90109626.1 | 申请日: | 1990-12-03 |
公开(公告)号: | CN1031596C | 公开(公告)日: | 1996-04-17 |
发明(设计)人: | 田中政芳;府川晴夫;远藤正光;门胁一郎;端山泰雄 | 申请(专利权)人: | 株式会社索佳 |
主分类号: | G01C3/22 | 分类号: | G01C3/22 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 杜日新 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 勘测 标的 方法 装置 | ||
本发明涉及一种用视距仪测量座标以获得勘测点座标值的方法和用以测量这些座标的装置以及用以读座标值的反射镜装置,此两装置都被用来实现此方法。
通常,勘测点P3的座标值是用下述方法获得的。如图20所示,置于勘测参考点P0处的视距仪a被水平放置,其上装有反射镜b的测杆C垂直放置在勘测点P3上。测杆C上装有管状水准器d,以借此水准器d使测杆10保持在垂直位置。在此条件下,当光由视距仪a传出时,此传输光被反射镜b反射,反射光被光敏元件接收。由光敏元件所接收的输出信号和参考信号之间的相位差,用视距仪a可求得勘测参考点P0和勘测点P3之间的距离。然后,在勘测参考点P0,能通过使V或S方向为X轴或Y轴。或者通过提供一假想的座标系统以使其轴有一参考,或者通过校准在勘测区域的基准点座标系统,用视距仪来求得。相对于视距仪的水平平面角θH和垂直平面角θz。使用上述距离S、水平平面角θH和垂直平面角θz(一天顶角或一仰角),也可求得反射镜的座标值。然后,减去反射镜的高度Ph即可求得勘测点P3的座标值。
图21示出获得勘测点座标值的常规勘测(测量)方法的流程图。
由流程图可见,在进行勘测前,将仪高度Mh和反射镜高度Ph输入包括视距仪的勘测装置。当勘测参考点P0移动时,仪高度Mh被输入,当勘测点P3变化时,反射镜b的高度被输入。
按照上述测量座标的常规方法,测杆C在勘测之前就必须垂直地放置在勘测点P3上,当用三角架取代测杆C时,三角架上的矫平板必须水平放置,此外,每当勘测点P3变化时,必须把反射镜的高度Ph输入勘测装置,然而,此勘测工作是麻烦的。
本发明试图解决这些传统的问题。
为解决上述问题,本发明涉及一种测量座标的方法,它包括如下步骤:
使光从视距仪传输到位于勘测点的反光镜,其中反光镜可定位在两个点上,此两点在通过勘测点的直线上并与勘测点隔开一预定的距离,以便由接收到的信号和参考信号之间的相位差求出视距仪和反射镜之间的距离;接着由反射镜的水平平面角和垂直平面角计算勘测点的座标,每个角都由测距仪测得。计算此两点的座标值以便由此两点的座标值确定勘测点的座标值。
本发明也包括一用以测量座标的装置,此装置包括:位于勘测点的反射镜;视距仪,用以把光传输到反射镜以便由接收到的信号和参考信号之间的相位差以及反射镜的水平平面角和垂直平面角求出视距仪到反射镜的距离;第一计算装置,用以计算两反射镜位置的座标值,两反射镜位于通过测量点的直线上并与勘测点隔开预定的距离;和第二计算装置,用以由两个反射镜位置的座标值计算勘测点的座标值。
本发明还包括在测量座标装置中的用以读取座标的反射镜装置,该装置是如此测量座标的:
从视距仪传输的光线在两个点反射,此两点是在通过勘测点的直线上并与勘测点隔开预定的距离;
由两点中每个点的接收信号与参考信号的相位差求得两个点的距离;
由两个点的水平平面角和垂直平面角求得两个点的各自的座标值;和
由此两点的座标值求得勘测点的座标值,其中用以在此两点处反射来自测距仪的光的反射镜装置设置在支承部件上。
本发明的一种情况是一反射镜设备,其中反射镜装置包括两个镜子,此二镜借助水平支承轴支承在支承部件的两处,以使其可转动,用以调整倾斜度。
本发明可以包括反射镜设备,其中两个反射镜借助水平支承轴安装在支承部件上以使其可转换。
本发明的另一种情况是也可以包括一反射镜设备,其中反射镜装置包括分别设置在支承部件上两处的两个镜子,并且装有用以屏蔽射在两个镜子上的光的光屏蔽部件。
本发明还可包括一反射镜设备,其中光屏蔽部件是罩在二镜上的圆帽。
本发明也可使用一反射镜设备,其中光屏蔽部件是放在两镜前面的光闸。
本发明的又一种情况是包括一反射镜设备,其中反射镜装置包括可在支承部件的两个地方移动支承的单独的镜子。
本发明也可使用反射镜设备,其中单个的镜子固定在用磁装置吸附的位置处。
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