[发明专利]差动电容测量电路及多量程电容测量仪无效

专利信息
申请号: 88106571.4 申请日: 1988-10-06
公开(公告)号: CN1009031B 公开(公告)日: 1990-08-01
发明(设计)人: 黄松明 申请(专利权)人: 黄松明
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 清华大学专利事务所 代理人: 廖元秋
地址: 北京市清华*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种差动电容测量电路及多量程电容测量仪属于电工电子测量方法及装置,本发明主要采用了若干个CMOS开关和被测电容,参考电容一起组成了一个充放电桥路,用一个电荷测量电路测量两个电容的放电电流的幅值之差。该电路特点是所需元件少,成本低廉,测量精度高,稳定性好,对杂散电容影响的抑制能力强,该仪器的多量程测量靠改变频率和电阻值十分容易实现,可以提供的测量频率范围从约500Hz到2MHz,可以测量差动电容及绝对电容。
搜索关键词: 差动 电容 测量 电路 多量 测量仪
【主权项】:
1.一种能抑制杂散电容影响的差动电容测量电路,由两个以上半导体开关和被测电容,参考电容一起组成一个充放电桥路及电桥测量电路构成,其特征在于所说桥路中被测电容的第一极板与参考电容的第一个极板的相接点,通过所说的第一个半导体开关与该电荷测量电路相连,被测电容的第二个极板通过上述第二个半导体开关,与两个极性相反的电源电压分别相连,参考电容的第二个极板通过第三个半导体开关与上述两个电源电压分别相连。使上述两电压中的一个对被测电容充电,另一个对参考电容充电;使被测电容和参考电容分别对所说两个电压中与自身充电电压不同的那一个放电,使被测电容与参考电容与电荷测量线路相连的一端在充电时处于地电位,放电时处于虚地电位,用电荷测量电路测量被测电容与参考电容的放电电流之差。在测量绝对电容时,可省去参考电容及上述第三个半导体开关。
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