[其他]改进型的双光束X射线测厚仪无效
| 申请号： | 86209739 | 申请日： | 1986-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN86209739U | 公开（公告）日： | 1987-09-16 |
| 发明（设计）人： | 余式正 | 申请（专利权）人： | 冶金工业部自动化研究所 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02 |
| 代理公司： | 冶金专利事务所 | 代理人： | 常贵贞 |
| 地址： | 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种改进型双光束X射线测厚仪，采用标准片代替以往的基准楔进行厚度设定，并能实现被测板材质补偿。该测厚仪中的前置放大器采用微电流放大器和对数放大器相结合的电路，实现偏差指示的线性化。同时在设定光束中设置适当的平衡片，使两束光束完全平衡。从而使之充分发挥了双光束测量方式稳定性高、噪音低的特点，用简单的电路和小的X射线强度，实现高精度的厚度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 改进型 光束 射线 测厚仪 | ||
【主权项】：
1、一种改进型双光束X射线测厚仪，其特征在于：a)、前置放大器采用微电流放大器和对数放大器相结合的电路实现偏差指示的线性化；b)、用标准片代替基准楔进行厚度设定，同时能通过材质补偿电位器实现被测板材质补偿；c)、在设定光束中设置适当厚度的平衡片，使两束光束完全平衡。
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