[其他]改进型的双光束X射线测厚仪无效
| 申请号： | 86209739 | 申请日： | 1986-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN86209739U | 公开（公告）日： | 1987-09-16 |
| 发明（设计）人： | 余式正 | 申请（专利权）人： | 冶金工业部自动化研究所 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02 |
| 代理公司： | 冶金专利事务所 | 代理人： | 常贵贞 |
| 地址： | 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 改进型 光束 射线 测厚仪 | ||
【权利要求书】：
1、一种改进型双光束X射线测厚仪，其特征在于：
a)、前置放大器采用微电流放大器和对数放大器相结合的电路实现偏差指示的线性化；
b)、用标准片代替基准楔进行厚度设定，同时能通过材质补偿电位器实现被测板材质补偿；
c)、在设定光束中设置适当厚度的平衡片，使两束光束完全平衡。
2、根据权利要求1所述的测厚仪，其特征在于前置放大器中的两个微电流放大器F1和F2分别把上部电离室电流i1和下部电离室的电离电流i2之差△i＝i1－i2，以及i2加以放大，然后通过对数放大器求得i2和i2的对数差，用这种电路来保证前置放大器零点的稳定性。
3、根据权利要求1所述的测厚仪，其特征在于厚度设定电路设置一组设定精度调整电位器，能对标准片的公差进行修正，而且互不发生影响。
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