[实用新型]一种芯片用可调节活动式测试站有效
| 申请号： | 202320192924.0 | 申请日： | 2023-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN219512359U | 公开（公告）日： | 2023-08-11 |
| 发明（设计）人： | 丘劭晖;蔡庆鑫;顾燕红 | 申请（专利权）人： | 浙江庆鑫科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司： | 浙江永航联科专利代理有限公司 33304 | 代理人： | 俞培锋 |
| 地址： | 314400 浙江省嘉兴市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种芯片用可调节活动式测试站，包括底座，所述底座上连接有支架，其特征在于，所述支架上设置有能够沿竖直方向上下滑动的上排联动板和下排联动板，所述底座上还设置有能使上排联动板和下排联动板同步运动的驱动机构，所述上排联动板上通过支撑柱连接有呈对称布置的两个上座，所述上座上均安装有上排测试针，所述下排联动板上连接有呈对称布置的两个下座，所述下座上均安装有下排测试针，所述下排联动板上通过一高度调节结构设置有测试座，测试座位于两个下排测试针之间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 调节 活动 测试 | ||
【主权项】：
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