[实用新型]一种芯片用可调节活动式测试站

权利要求书

1.一种芯片用可调节活动式测试站，包括底座(1)，所述底座(1)上连接有支架(2)，其特征在于，所述支架(2)上设置有能够沿竖直方向上下滑动的上排联动板(5)和下排联动板(6)，所述底座(1)上还设置有能使上排联动板(5)和下排联动板(6)同步运动的驱动机构，所述上排联动板(5)上通过支撑柱(30)连接有呈对称布置的两个上座(11)，所述上座(11)上均安装有上排测试针(3)，所述下排联动板(6)上连接有呈对称布置的两个下座(10)，所述下座(10)上均安装有下排测试针(4)，所述下排联动板(6)上通过一高度调节结构设置有测试座(25)，测试座(25)位于两个下排测试针(4)之间，且测试座(25)能调节测试时芯片受到的压力。

2.根据权利要求1所述的一种芯片用可调节活动式测试站，其特征在于，所述高度调节结构包括弹簧(28)、调整件(26)、限制销(27)和紧固件(29)，所述测试座(25)连接在活动台(24)上，所述活动台(24)通过若干导柱(23)滑动连接在下排联动板(6)上，所述弹簧(28)安装在活动台(24)与下排联动板(6)之间，所述限制销(27)安装在活动台(24)上，所述调整件(26)下端开设有条形孔(26a)，所述下排联动板(6)上开设有连接孔(6a)，所述紧固件(29)依次穿过条形孔(26a)和连接孔(6a)并将活动台(24)和下排联动板(6)相连，所述调整件(26)上端能与限制销(27)相抵靠。

3.根据权利要求1所述的一种芯片用可调节活动式测试站，其特征在于，所述支架(2)上安装有至少一个导套一(16)和至少一个导套二(22)，所述导套一(16)内竖直滑动连接有导杆一(15)，所述导杆一(15)的上端和上排联动板(5)相连，所述导套二(22)内竖直滑动连接有导杆二(21)，所述导杆二(21)的上端和下排联动板(6)相连。

4.根据权利要求3所述的一种芯片用可调节活动式测试站，其特征在于，所述驱动机构包括气缸(14)、驱动杆(7)、传动板一(18)、传动板二(19)、导轮一(8)和导轮二(9)，所述传动板一(18)和传动板二(19)均竖直滑动连接在支架(2)上，所述传动板一(18)的上端和其中一个导杆一(15)的下端相连，所述传动板一(18)的下端开设有呈倾斜的导槽一(18a)，所述导轮一(8)活动设置在导槽一(18a)内，所述传动板二(19)的上端和其中一个导杆二(21)的下端相连，所述传动板二(19)的下端开设有呈倾斜的导槽二(19a)，所述导轮二(9)活动设置在导槽二(19a)内，所述气缸(14)水平安装在支架(2)上，所述气缸(14)的活塞杆端部和驱动杆(7)相连，所述驱动杆(7)还与支架(2)滑动连接，所述导轮一(8)和导轮二(9)均还与驱动杆(7)相连，所述传动板一(18)与支架(2)还具有复位弹簧一(17)，所述传动板二(19)与支架(2)还具有复位弹簧二(20)。

5.根据权利要求1所述的一种芯片用可调节活动式测试站，其特征在于，所述支架(2)上还安装有两个传感器(13)，所述上排联动板(5)和下排联动板(6)上均分布安装有与传感器(13)相配合的感应片(12)。

6.根据权利要求1所述的一种芯片用可调节活动式测试站，其特征在于，所述上座(11)上均通过可拆卸的方式安装有上排测试针(3)，所述下座(10)上均通过可拆卸的方式安装有下排测试针(4)。

7.根据权利要求2所述的一种芯片用可调节活动式测试站，其特征在于，所述调整件(26)的形状为L形。

8.根据权利要求2所述的一种芯片用可调节活动式测试站，其特征在于，所述下排联动板(6)上还开设有与调整件(26)相配合的滑槽(6b)。

9.根据权利要求1所述的一种芯片用可调节活动式测试站，其特征在于，所述底座(1)为可调底座。