[发明专利]一种宽波段的薄膜光电探测器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202310960732.4 申请日: 2023-08-01
公开(公告)号: CN116845119A 公开(公告)日: 2023-10-03
发明(设计)人: 郝兰众;张博;胡兵;张明聪;刘云杰 申请(专利权)人: 中国石油大学(华东)
主分类号: H01L31/032 分类号: H01L31/032;H01L31/09;H01L31/0224;H01L31/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 266580 山东省青岛市*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开一种宽波段的薄膜光电探测器件及其制备方法。该方法包括:选取SiO2石英为基底;利用直流磁控溅射技术在KBr片上外延生长SnS单晶薄膜;采用无酸剥离技术转移薄膜至SiO2石英基底并在在表面沉积Pd电极,制备出Pd‑SnS‑Pd/SiO2半导体光电探测器件。基于SnS薄膜高光吸收系数,器件对405nm‑1550nm波长范围的激光具有明显的响应,利用SnS材料独特的辐射热效应形成光‑热‑电‑多物理场耦合的高效转换,在器件产生温度差变化,使器件中电流发生相应的变化,实现器件对光的检测,从而拓宽器件的光电探测能力。本发明的光电探测器件具有高响应度和探测率、响应速度快和周期稳定性好等优点;其制备工艺简单、无毒无污染,适于规模化工业生产,具有巨大的应用价值。
搜索关键词: 一种 波段 薄膜 光电 探测 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
暂无信息
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