[发明专利]一种基于点云配准的缺陷检测方法、装置以及设备在审

专利信息
申请号: 202310945958.7 申请日: 2023-07-31
公开(公告)号: CN116664575A 公开(公告)日: 2023-08-29
发明(设计)人: 陈宇;黄泽麟;何俊霖 申请(专利权)人: 厦门微图软件科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/33;G06T7/64;G01N21/88
代理公司: 厦门仕诚联合知识产权代理事务所(普通合伙) 35227 代理人: 陈蓓蓓
地址: 361000 福建省厦门市*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种基于点云配准的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,其包括:获取工业产品的标准CAD设计图,并转为点云,得到第一点云数据;获取生产产品的深度图,并转为点云,得到第二点云数据,其中,所述生产产品为通过相机拍摄生产线上的实际产品;确定所述第二点云数据的缺陷点云;根据包围盒计算所述缺陷点云的缺陷信息,根据检测阈值对所述缺陷信息进行过滤,得到目标缺陷。能够实现快速检测出小批量、多种类的工业产品缺陷,更好地满足产品快速更新换代的生产需求,实现自动化精细检测的目标。
搜索关键词: 一种 基于 点云配准 缺陷 检测 方法 装置 以及 设备
【主权项】:
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