[发明专利]一种基于凸分解的凹颗粒形态表征方法及装置

摘要

本发明涉及颗粒形态表征技术领域，公开了一种基于凸分解的凹颗粒形态表征方法及装置，所述方法包括：S1凹颗粒轮廓提取，对凹颗粒高清拍照，通过数字图像处理获得凹颗粒轮廓，并进行标准化处理流程得到最简凹颗粒形态。S2形态预分解，进行德劳内三角剖分，以其作为凹颗粒的形态预剖分线。S3形态优化分解，计算形态凹点权值，建立最优剖分矩阵，以剖分点总权值最大为目标，进行形态优化凸分解。S4形态定量表征，基于凸分解颗粒的面积分布，定义凹颗粒凸分解系数，表征凹颗粒形态特征。本发明在提高形态参数计算效率的同时，实现了凹颗粒不同层次的形态表征，为凹颗粒宏微观力学特性的研究提供参考。