[发明专利]一种用于微型显示器检测的光学成像方法和装置在审
申请号: | 202310927247.7 | 申请日: | 2023-07-27 |
公开(公告)号: | CN116642670A | 公开(公告)日: | 2023-08-25 |
发明(设计)人: | 王雷;李渊;欧昌东 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267 | 代理人: | 胡秋萍 |
地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种用于微型显示器检测的光学成像方法和装置,属于微型显示器检测技术领域。本发明通过放大透镜/透镜组成放大十几倍至几十倍的虚像,再通过NED检测镜头对微型显示器画面的放大虚像进行清晰成实像,所述NED检测镜头的入瞳前置,位于放大透镜的出瞳位置,入瞳直径大于放大透镜/透镜组出瞳直径,视场角大于放大透镜/透镜组视场角,实现对整个画面“拍全”的同时能够看清像素点,且成像均匀,进而提升微显示器缺陷检测的精度和准确率。本发明能够应用于尺寸小、分辨率高的微型显示器缺陷检测和/或光学测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 微型 显示器 检测 光学 成像 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司,未经武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310927247.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种电池浆料搅拌方法及搅拌装置
- 下一篇:燃气锅炉热回收的蓄能除霜装置