[发明专利]一种用于微型显示器检测的光学成像方法和装置在审

专利信息
申请号: 202310927247.7 申请日: 2023-07-27
公开(公告)号: CN116642670A 公开(公告)日: 2023-08-25
发明(设计)人: 王雷;李渊;欧昌东 申请(专利权)人: 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267 代理人: 胡秋萍
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开一种用于微型显示器检测的光学成像方法和装置,属于微型显示器检测技术领域。本发明通过放大透镜/透镜组成放大十几倍至几十倍的虚像,再通过NED检测镜头对微型显示器画面的放大虚像进行清晰成实像,所述NED检测镜头的入瞳前置,位于放大透镜的出瞳位置,入瞳直径大于放大透镜/透镜组出瞳直径,视场角大于放大透镜/透镜组视场角,实现对整个画面“拍全”的同时能够看清像素点,且成像均匀,进而提升微显示器缺陷检测的精度和准确率。本发明能够应用于尺寸小、分辨率高的微型显示器缺陷检测和/或光学测量。
搜索关键词: 一种 用于 微型 显示器 检测 光学 成像 方法 装置
【主权项】:
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