[发明专利]一种用于微型显示器检测的光学成像方法和装置在审
| 申请号： | 202310927247.7 | 申请日： | 2023-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN116642670A | 公开（公告）日： | 2023-08-25 |
| 发明（设计）人： | 王雷;李渊;欧昌东 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267 | 代理人： | 胡秋萍 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 微型 显示器 检测 光学 成像 方法 装置 | ||
1.一种用于微型显示器检测的光学成像方法，其特征在于，包括：
利用放大透镜/透镜组获取微型显示器画面的放大虚像；
再利用NED检测镜头对微型显示器画面的放大虚像进行清晰成实像；
所述NED检测镜头的入瞳前置，位于放大透镜的出瞳位置，入瞳直径大于放大透镜/透镜组出瞳直径，视场角大于放大透镜/透镜组视场角。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述清晰成实像的具体操作如下：
调节NED检测镜头对焦到无穷远，以模拟人眼；
再调节放大透镜/透镜组与微型显示器的间距，或者，调节放大透镜/透镜组的焦距，以使得清晰成实像。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述清晰成实像的判据为：微型显示器画面虚像的1个像素在成像后不低于2个像素。
4.如权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，还包括：
拍摄虚像的成像，得到虚像成像的图片；
根据虚像成像的图片，进行缺陷检测和/或光学测量。
5.一种用于微型显示器检测的光学成像装置，其特征在于，包括：依次设置的放大透镜/透镜组和NED检测镜头；
所述微型显示器位于放大透镜/透镜组的焦距内，以使得微型显示器画面在放大透镜/透镜组成放大的虚像；
所述NED检测镜头的入瞳前置，位于放大透镜的出瞳位置，入瞳直径大于放大透镜/透镜组出瞳直径，视场角大于放大透镜/透镜组视场角，用于对微型显示器画面的放大虚像进行清晰成实像。
6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述清晰成实像的判据为：微型显示器画面虚像的1个像素在成像后不低于2个像素。
7.如权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括：
距离调节机构，用于调节光学成像组件的工作距离；
对焦机构，用于调节光学成像组件的对焦距离；
变焦机构，用于调节放大透镜/透镜组的焦距。
8.如权利要求5至7任一项所述的装置，其特征在于，还包括：
图像获取模块，被配置为获取微型显示器画面虚像成像的图片，所述虚像成像的图片进一步用于微型显示器的缺陷检测和/或光学测量。
9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述图像获取模块为面阵相机、面阵亮度计或者面阵色度计。
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