[发明专利]一种大规模光交换芯片的混合封装结构及验证方法在审

专利信息
申请号: 202310893682.2 申请日: 2023-07-20
公开(公告)号: CN116609897A 公开(公告)日: 2023-08-18
发明(设计)人: 张欢;李佳;黄欣雨;王真真;叶德好;储涛 申请(专利权)人: 之江实验室
主分类号: G02B6/42 分类号: G02B6/42;C23C14/35;C23C14/16;C23C14/18;C23C16/40;C23C16/34;H05K1/18
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 邱启旺
地址: 311121 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种大规模光交换芯片的混合封装结构及验证方法,该封装结构由芯片、转接板芯片和PCB构成;其芯片上有交替连接的植球焊盘和导线;转接板芯片上有交替连接的BGA、倒装焊接焊盘和引线键合焊盘及导线;转接板上的引线键合焊盘用来验证引线键合连通率;芯片和转接板之间通过倒装焊接工艺Flip Chip形成菊花链,并通过PCB上导线扇出以进行导通测试;其转接板和PCB通过BGA形成菊花链,并通过PCB上导线扇出以进行导通测试;该结构有2048个端口,通过线路和结构的设计,最大可以满足256×256规模光交换芯片封装的技术开发和验证,降低光交换芯片电学封装的成本,提高了芯片封装验证效率和设计开发周期。
搜索关键词: 一种 大规模 交换 芯片 混合 封装 结构 验证 方法
【主权项】:
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