[发明专利]一种用于芯片测试的收料设备有效

专利信息
申请号: 202310884595.0 申请日: 2023-07-19
公开(公告)号: CN116605639B 公开(公告)日: 2023-09-12
发明(设计)人: 陶雪峰;王沛;赵鸣;姜豪 申请(专利权)人: 江苏海纳电子科技有限公司
主分类号: B65G47/80 分类号: B65G47/80;B65B15/04;B65G47/82
代理公司: 苏州吴韵知识产权代理事务所(普通合伙) 32364 代理人: 明进武
地址: 214000 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种用于芯片测试的收料设备,属于芯片测试技术领域,包括:安装台;输送组件,设置于所述安装台上表面的中间,所述输送组件用于对测试完成的芯片进行输送;托盘装载件,用于对芯片托盘进行输送,所述托盘装载件设置于安装台上表面的一侧;载带装载件,用于对载带进行输送,所述载带装载件设置于安装台上表面的另一侧;两个推送件,用于分别将输送组件上的芯片推送至托盘装载件上的芯片托盘中或载带装载件上的芯片载带上。由此,能够通过输送组件对芯片进行定位并输送至托盘装载件或载带装载件的上方,在推送件的推动下将芯片装载至托盘装载件或载带装载件上,有效的降低了设备的空间占用率,也提升了对芯片的装载效率。
搜索关键词: 一种 用于 芯片 测试 设备
【主权项】:
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