[发明专利]一种用于芯片测试的收料设备

权利要求书

1.一种用于芯片测试的收料设备，其特征在于，包括：

安装台（100）；

输送组件（200），设置于所述安装台（100）上表面的中间，所述输送组件（200）用于对测试完成的芯片进行输送；

所述输送组件（200）包括安装盘（206），所述安装盘（206）与安装台（100）之间设置有用于对安装盘（206）进行转动的驱动件，所述安装盘（206）的上表面等角度设置有多组芯片放置件，所述芯片放置件包括贯穿槽一（207），所述安装盘（206）上表面靠近贯穿槽一（207）的一侧设置有送料台（208），所述送料台（208）所在的上表面呈斜坡状结构，位于上表面两侧位置均开设有贯穿滑槽（209），所述贯穿滑槽（209）的内壁均套接有导向板（210），两个所述导向板（210）的端部设置有限位板（211），所述限位板（211）的整体均位于贯穿槽一（207）的内部，所述限位板（211）的底部均转动连接有承载板一（212），通过所述承载板一（212）的转动实现对贯穿槽一（207）的通孔开合；

所述承载板一（212）与限位板（211）之间设置有扭簧，两个限位板（211）之间设置有弹性挡带（213），所述贯穿槽一（207）内壁远离弹性挡带（213）的一侧设置有斜向座（214），所述承载板一（212）上表面的一侧均设置有铁片（215），所述斜向座（214）的表面设置有与铁片（215）相对应的电磁铁；

托盘装载件（300），用于对芯片托盘进行输送，所述托盘装载件（300）设置于输送组件（200）的侧边并为其供料；

载带装载件（400），设置于输送组件（200）所在的底部，用于对载带（416）进行输送；

两个推送件（500），分别用于将输送组件（200）上的芯片推送至托盘装载件（300）上的芯片托盘中，和推送至载带装载件（400）上的芯片载带上。

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的收料设备，其特征在于，每组所述限位板（211）上均设置有推板（216），多个所述推板（216）远离限位板（211）的端部设置有调节盘（217），所述调节盘（217）的上表面开设有多个与芯片放置件相对应的贯穿槽二（218），所述调节盘（217）套接有T形柱（219），所述调节盘（217）与安装盘（206）之间设置有多个弹簧一（220），所述调节盘（217）上螺纹连接有螺纹柱（221），且螺纹柱（221）的底端与安装盘（206）转动连接，所述螺纹柱（221）的顶端设置有调节握柄（222），所述调节盘（217）与安装盘（206）之间设置有折叠罩（223）。

3.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的收料设备，其特征在于，所述驱动件包括支撑筒（201），所述支撑筒（201）的顶部与安装盘（206）转动连接，所述支撑筒（201）的内部设置有电机一（202），所述电机一（202）的输出轴设置有蜗杆一（203），所述蜗杆一（203）的一侧啮合连接有蜗轮一（204），通过蜗轮一（204）带动驱动轴（205）在水平方向以支撑筒（201）的中心轴为转轴做旋转驱动，并带动与驱动轴（205）顶端相连的安装盘（206）同步做旋转运动。

4.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的收料设备，其特征在于，所述托盘装载件（300）包括滑轨（301），所述安装台（100）通过滑轨（301）滑动连接有安装座一（302），所述安装台（100）的上表面设置有用于驱动安装座一（302）沿第一方向运动的气缸一（303），所述安装座一（302）的上表面开设有两个滑槽（304），所述安装座一（302）通过滑槽（304）滑动连接有两个支柱（305），两个所述支柱（305）的顶端设置有承载板二（306），所述安装座一（302）上设置有用于驱动承载板二（306）沿第二方向运动的气缸二（313），所述安装座一（302）的一侧设置有用于承载芯片托盘的托盘承载台（314），所述承载板二（306）上设置有用于对芯片托盘进行输送的推料件，所述托盘承载台（314）的一端设置有下料台（315）。