[发明专利]电荷耦合器件及图像传感器在审

专利信息
申请号: 202310670320.7 申请日: 2023-06-07
公开(公告)号: CN116705818A 公开(公告)日: 2023-09-05
发明(设计)人: 孙德明 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: H01L27/148 分类号: H01L27/148
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 闫洁;黄健
地址: 201210 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本申请提供一种电荷耦合器件及图像传感器,涉及半导体技术领域,用于解决抗晕效果较差的技术问题,该电荷耦合器件包括衬底、存储单元组和抗晕结构,存储单元组包括两列存储单元,两列存储单元之间设有抗晕结构;每列存储单元包括设置在衬底内的N型埋层,抗晕结构包括设置在衬底内且位于相邻N型埋层之间的N型掺杂区、连接在N型埋层和N型掺杂区之间的第一掺杂层;第一掺杂层的导电类型为N型,且第一掺杂层的掺杂浓度低于N型埋层和N型掺杂区的掺杂浓度。第一掺杂层作为N型埋层和N型掺杂区之间的电子势垒,使N型埋层中存储电子,并作为N型埋层满阱后电子的溢出通道,使多出的电子可以溢出到N型掺杂区,起到较好的抗晕效果。
搜索关键词: 电荷耦合器件 图像传感器
【主权项】:
暂无信息
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