[发明专利]一种光发射器件测试方法在审
| 申请号： | 202310533564.0 | 申请日： | 2023-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN116465606A | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 傅琰;吕利平;顾陈焘 | 申请（专利权）人： | 上海剑桥科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海港慧专利代理事务所(普通合伙) 31402 | 代理人： | 郭嘉莹 |
| 地址： | 201114 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及技术领域，具体地说，涉及一种光发射器件测试方法，包括于测试装置上连接光发射器件，用以对所述光发射器件进行测试；于测试状态下，改变所述光发射器件的工作电流，以分别获取在不同的所述工作电流下所述光发射器件的测试数据；基于所述测试数据判断所述光发射器件受反射光的影响程度；本申请中，对于发光芯片工作电流的改变，其改变的过程时间较短，相较于对温度的改变，其测试效率更高，在短时间内，能够在多个不同的工作电流之间转换；进一步的，以改变工作电流的方式等效改变温度，能够在一定的时间条件下，成倍数的对处于不同工作环境下的光发射器件进行测试，测试结果更为准确和稳定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发射 器件 测试 方法 | ||
【主权项】：
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