[发明专利]一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置

摘要

本发明涉及二极管加工技术领域，具体是涉及一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，包括机架和设置于机架上的视觉检测组件、检测架、检测盘、升降架、卸料槽和导料组件；检测架上设置有安装板，安装板上设置有安装槽；检测盘位于安装槽内，检测盘上设置有多个检测槽，每个检测槽内均设置有夹持组件；升降架上设置有多个贯通槽和贯通槽内的驱动组件；卸料槽上设置有两个卸料口；通过检测组件对于多个被检测件进同步的检测，提高检测的效率，同时通过多个驱动组件能针对检测不合格的被检测件进行独立的驱动，通过升降架对于合格的被检测件进行同步驱动，使得被检测件能更好的分开收集，提高设备对于被检测件的检测效率和分拣效率。