[发明专利]一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置

权利要求书

1.一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，包括机架（1），其特征在于，机架（1）上设置有视觉检测组件（31）、检测架（3）、检测盘（33）、升降架（2）、卸料槽（11）和导料组件（13）；

检测架（3）位于机架（1）的上方；

检测架（3）的底部设置有安装板（32），安装板（32）上设置有贯穿与其的安装槽（321）；

检测盘（33）位于安装槽（321）内，检测盘（33）上设置有多个呈矩形整列排布的检测槽（331），且多个检测槽（331）均贯穿通过检测盘（33），检测槽（331）用于放置被检测件；

每个检测槽（331）内均设置有用于对被检测件进行限位的夹持组件（332）；

视觉检测组件（31）位于视觉检测组件（31）的顶部，视觉检测组件（31）用于同步对所有检测槽（331）内的被检测件进行检测；

升降架（2）能沿机架（1）的高度方向滑动的位于机架（1）上，且升降架（2）位于机架（1）和检测盘（33）之间，升降架（2）用于同步带动所有夹持组件（332）驱动；

升降架（2）上设置有与检测槽（331）的数量相同且一一对应的贯通槽（21），每个贯通槽（21）的旁侧还设置有用于带动夹持组件（332）的驱动组件（22）；

卸料槽（11）固定连接于机架（1）上且位于升降架（2）的下方，卸料槽（11）上设置有两个卸料口（111）；

导料组件（13）位于卸料槽（11）内，且导料组件（13）位于两个卸料口（111）之间，导料组件（13）与升降架（2）传动连接，导料组件（13）用于对落入卸料槽（11）内的被检测件进行导向，使得被检测件落入不同的卸料口（111）内。

2.根据权利要求1所述的一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，其特征在于，检测槽（331）内的设置有两个以其中心点呈中心对称的滑槽（3311），夹持组件（332）包括两个夹持臂（3321），两个夹持臂（3321）能相对滑动的位于两个滑槽（3311）上，且两个夹持臂（3321）的滑动方向相互平行。

3.根据权利要求2所述的一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，其特征在于，夹持组件（332）还包括用于同时驱动两个夹持臂（3321）的驱动架（3323），驱动架（3323）能沿机架（1）的高度方向滑动的位于检测槽（331）的下方，驱动架（3323）上设置有两个倾斜设置有导向轴（3324），两个夹持臂（3321）上设置有与导向轴（3324）相互匹配的通孔（3322），导向轴（3324）与通孔（3322）滑动配合，通孔（3322）的轴线与导向轴（3324）的轴线相互平行，驱动架（3323）的中央设置有与检测槽（331）相互匹配的方槽（3325）。

4.根据权利要求3所述的一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，其特征在于，检测槽（331）的下方设置有两个呈竖直状态的导向杆（3312），两个导向杆（3312）的轴线相互平行，两个导向杆（3312）的底部均设置有限位板（3313），驱动架（3323）能滑动的套设于两个导向杆（3312）上。

5.根据权利要求4所述的一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，其特征在于，两个导向轴（3324）上均套设有弹性件（3314），弹性件（3314）位于检测盘（33）与驱动架（3323）之间。

6.根据权利要求3所述的一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，其特征在于，贯通槽（21）上设置有多个向其中心延伸的凸块（211），凸块（211）与驱动架（3323）的方槽（3325）相互匹配，机架（1）上设置有四个均呈竖直状态的导杆（12），四个导杆（12）分别位于卸料槽（11）的四个端角上，升降架（2）能滑动的位于四个导杆（12）上，机架（1）的下方设置有用于带动升降架（2）的直线驱动器（24）。