[发明专利]一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置

说明书

本发明涉及二极管加工技术领域，具体是涉及一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，包括机架和设置于机架上的视觉检测组件、检测架、检测盘、升降架、卸料槽和导料组件；检测架上设置有安装板，安装板上设置有安装槽；检测盘位于安装槽内，检测盘上设置有多个检测槽，每个检测槽内均设置有夹持组件；升降架上设置有多个贯通槽和贯通槽内的驱动组件；卸料槽上设置有两个卸料口；通过检测组件对于多个被检测件进同步的检测，提高检测的效率，同时通过多个驱动组件能针对检测不合格的被检测件进行独立的驱动，通过升降架对于合格的被检测件进行同步驱动，使得被检测件能更好的分开收集，提高设备对于被检测件的检测效率和分拣效率。

技术领域

本发明涉及二极管加工技术领域，具体是涉及一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置。

背景技术

发光二极管，简称为LED，是一种常用的发光器件，通过电子与空穴复合释放能量发光，它在照明领域应用广泛，发光二极管可高效地将电能转化为光能，现有的发光二极管在加工组装时，需要对内部的晶片进行检测，来检测晶片成品是否存在质量问题，由于晶片的尺寸较小，现有的检测方式都是人工在显微镜下检测，效率较低，不利于快速检测，中国专利CN217595212U公开了一种发光二极管加工用晶片检测装置，包括检测箱，所述检测箱内贯穿设置有传输带，所述传输带外接驱动机构，所述传输带顶部设置有芯片槽，所述检测箱外顶部设置有电路机箱，所述电路机箱内顶部设置有图像分析系统，所述图像分析系统外部一侧设置有第一检测模块，所述图像分析系统下方一侧设置有第二检测模块；此专利通过设计一个由检测箱、传输带、第一检测模块、第二检测模块、图像分析系统、翻转电机、吸盘以及旋转电机等组件构成的新型芯片检测装置，可实现对发光二极管晶体芯片的连续检测分拣，将不符合工艺要求成品芯片筛选出来，替代了人工手动镜检，提高了检测的效率，有利于发光二极管的高效生产，但是其在检测时只能针对一个发光二极管进行检测，检测效率较低，同时在分拣时也是逐一将发光二极管从传输设备上取出，后续还需将二极管从芯片槽中取出，增加了工作的流程，使得设备整体效率较低。

发明内容

针对上述问题，提供一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，通过检测组件对于多个被检测件进同步的检测，提高检测的效率，同时通过多个驱动组件能针对检测不合格的被检测件进行独立的驱动，通过升降架对于合格的被检测件进行同步驱动，使得被检测件能更好的分开收集，提高设备对于被检测件的检测效率和分拣效率。

为解决现有技术问题，一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，包括机架，机架上设置有视觉检测组件、检测架、检测盘、升降架、卸料槽和导料组件；

检测架位于机架的上方；

检测架的底部设置有安装板，安装板上设置有贯穿与其的安装槽；

检测盘位于安装槽内，检测盘上设置有多个呈矩形整列排布的检测槽，且多个检测槽均贯穿通过检测盘，检测槽用于放置被检测件；

每个检测槽内均设置有用于对被检测件进行限位的夹持组件；

视觉检测组件位于视觉检测组件的顶部，视觉检测组件用于同步对所有检测槽内的被检测件进行检测；

升降架能沿机架的高度方向滑动的位于机架上，且升降架位于机架和检测盘之间，升降架用于同步带动所有夹持组件驱动；

升降架上设置有与检测槽的数量相同且一一对应的贯通槽，每个贯通槽的旁侧还设置有用于带动夹持组件的驱动组件；

卸料槽固定连接于机架上且位于升降架的下方，卸料槽上设置有两个卸料口；

导料组件位于卸料槽内，且导料组件位于两个卸料口之间，导料组件与升降架传动连接，导料组件用于对落入卸料槽内的被检测件进行导向，使得被检测件落入不同的卸料口内。

优选的，检测槽内的设置有两个以其中心点呈中心对称的滑槽，夹持组件包括两个夹持臂，两个夹持臂能相对滑动的位于两个滑槽上，且两个夹持臂的滑动方向相互平行。