[发明专利]芯片验证方法和装置、电子设备和存储介质

摘要

本申请提供了一种芯片验证方法和装置、电子设备和存储介质，其中，该方法包括：获取待验证的目标芯片的多个随机参数；获取与随机参数相对应的随机验证的激励范围；由随机参数的参数属性得到目标半径，将激励范围转换为圆半径为目标半径的均匀圆盘采样的圆空间；从随机参数中选取目标采样点，并获取目标采样点在圆空间中的第一坐标；根据随机参数的参数属性对第一坐标进行转换，得到各个随机参数的均匀分布激励集合。通过本申请，解决了相关技术中存在的依赖人为操作参与到随机激励范围的选取和约束方式的设置时，会增大验证工程师的工作难度和工作量，工作效率降低的问题。