[发明专利]芯片验证方法和装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种芯片验证方法，用于实现均匀分布激励，其特征在于，所述方法包括：

获取待验证的目标芯片的多个随机参数；

获取与所述随机参数相对应的随机验证的激励范围；

由所述随机参数的参数属性得到目标半径，将所述激励范围转换为圆半径为所述目标半径的均匀圆盘采样的圆空间；

从所述随机参数中选取目标采样点，并获取所述目标采样点在所述圆空间中的第一坐标；

根据所述随机参数的所述参数属性对所述第一坐标进行转换，得到各个所述随机参数的均匀分布激励集合。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述由所述随机参数的参数属性得到目标半径，将所述激励范围转换为圆半径为所述目标半径的均匀圆盘采样的圆空间，包括：

根据所述参数属性确定所述随机参数之间的关联性或独立性；

根据所述关联性或所述独立性确定所述目标半径；

利用所述目标半径确定所述激励范围对应的转换范围；

基于所述转换范围生成所述圆空间。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述关联性或所述独立性确定所述目标半径，包括：

在每个所述随机参数的参数属性均为独立性的情况下，根据每个所述随机参数的激励范围，确定所述目标半径。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述关联性或所述独立性确定所述目标半径，包括：

在任意两个所述随机参数之间存在关联性的情况下，根据所述随机参数之间的线性关系，确定所述目标半径。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述关联性或所述独立性确定所述目标半径，包括：

在有三个以上的所述随机参数之间存在关联性的情况下，分别将各个随机参数设置为主参数，将除了当前作为主参数的随机参数之外的其他随机参数作为次参数，得到次参数集合；

获取所述主参数与所述次参数集合之间的线性关系；

根据所述线性关系，确定所述目标半径。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述从所述随机参数中选取目标采样点，包括：

根据所述目标半径和当前均匀分布随机数，得到随机采样发生器；

利用所述随机采样发生器对所述随机参数进行处理，获取到多个实现了均匀采样的所述目标采样点。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述随机参数的所述参数属性对所述第一坐标进行转换，得到各个所述随机参数的均匀分布激励集合，包括：

根据所述参数属性确定所述随机参数之间的关联性或独立性；

根据所述关联性或所述独立性对所述第一坐标进行转换，得到各个所述随机参数的所述均匀分布激励集合。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据所述关联性或所述独立性对所述第一坐标进行转换，得到各个所述随机参数的所述均匀分布激励集合，包括：

在每个所述随机参数的参数属性均为独立性的情况下，选取所述目标采样点在第一坐标轴下的坐标值或第二坐标轴下的坐标值；

利用所述坐标值结合所述随机参数的所述激励范围，得到所述均匀分布激励集合。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据所述关联性或所述独立性对所述第一坐标进行转换，得到各个所述随机参数的所述均匀分布激励集合，包括：

在任意两个所述随机参数之间存在关联性的情况下，根据所述目标采样点的坐标值与所述目标半径之间的第一关系，确定所述目标采样点是否落在圆空间的目标半径范围内；

根据所述目标采样点与所述目标半径范围的第二关系，确定对应的处理操作；

根据所述处理操作，确定各个所述随机参数的所述均匀分布激励集合。