[发明专利]基于工业CT图像的叶片壁厚尺寸亚像素级测量方法及系统

摘要

本发明公开一种基于工业CT图像的叶片壁厚尺寸亚像素级测量方法及系统，方法包括获取涡轮叶片待测部位的扫描CT图像；利用像素级边缘检测算法对扫描CT图像中的涡轮叶片的边缘进行提取，得出叶片的粗定位边缘位置；采用基于三次样条插值的亚像素边缘检测算法对粗定位边缘位置的边缘点进行插值处理，得到叶片的亚像素边缘轮廓；利用最小二乘法对亚像素边缘轮廓进行曲线拟合，基于拟合结果对叶片的待测部位的叶片壁厚尺寸进行测量。本发明将像素级边缘检测算法结合基于三次样条插值的亚像素边缘检测算法对CT图像进行处理，将边缘像素点从像素级提升到亚像素级，既保证测量结果的稳定性，也有效实现了对涡轮叶片尺寸的高精度测量。