[发明专利]一种测试方法有效
| 申请号： | 202310291024.6 | 申请日： | 2023-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN115995260B | 公开（公告）日： | 2023-08-11 |
| 发明（设计）人： | 林旭东 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 | 代理人： | 朱影 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种测试方法，用于对芯片进行测试，测试方法包括：获取多个待测对象中每个待测对象开始输出测试数据的第一时刻；基于多个第一时刻，获得目标时刻；基于目标时刻，对每个待测对象的第一时刻进行补偿，以使每个待测对象输出的全部测试数据的起点均为目标时刻；基于每个待测对象的全部测试数据，分别确定每个待测对象的测试结果。本公开通过获取多个待测对象的第一时刻以及与多个第一时刻相关的目标时刻，基于目标时刻对每个待测对象的第一时刻进行补偿，使得多个待测对象开始输出测试数据的时刻相同，以避免多个待测对象输出测试数据的时刻差异导致的测试结果误判，提高芯片测试准确性、可靠性和芯片良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 方法 | ||
【主权项】：
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