[发明专利]一种测试方法

权利要求书

1.一种测试方法，其特征在于，用于对芯片进行测试，所述测试方法包括：

获取多个待测对象中每个所述待测对象开始输出测试数据的第一时刻；

基于多个所述第一时刻，获得目标时刻；

基于所述目标时刻，对每个所述待测对象的所述第一时刻进行补偿，以使每个所述待测对象输出的全部测试数据的起点均为所述目标时刻；

基于每个所述待测对象的所述全部测试数据，分别确定每个所述待测对象的测试结果；

其中，所述基于多个所述第一时刻，获得目标时刻，包括：

将多个所述第一时刻的平均值作为所述目标时刻；或者，

将多个所述第一时刻的中位数作为所述目标时刻；或者，

将多个所述第一时刻中的最大值或者最小值作为所述目标时刻。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述获取多个待测对象中每个所述待测对象开始输出测试数据的第一时刻，包括：

以第一预设时长作为一个采集周期，采集每个所述待测对象的输出数据，每个所述采集周期中，每间隔第二预设时长作为一个采样点，分别获取每个所述待测对象开始输出所述测试数据的所述采样点的时刻作为所述第一时刻。

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

按照时间先后顺序，对多个所述第一时刻进行排序，将除排序为第一的所述第一时刻之外的其余所述第一时刻分别与排序为第一的所述第一时刻作差，将差值大于第三预设时长的所述第一时刻对应的所述待测对象舍弃；

其中，所述第三预设时长小于所述第一预设时长。

4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述基于多个所述第一时刻，获得目标时刻，包括：

基于被保留的多个所述第一时刻，获得所述目标时刻，其中，被保留的每个所述第一时刻与排序为第一的所述第一时刻之间的差值小于或等于所述第三预设时长。

5.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

确定所述差值大于所述第三预设时长的所述第一时刻对应的所述待测对象的所述测试结果为测试失败。

6.根据权利要求1至5任一项所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述目标时刻，对每个所述待测对象的所述第一时刻进行补偿，包括：

获取每个所述待测对象的所述第一时刻与所述目标时刻之间的差值的绝对值；

获取所述目标时刻和每个所述第一时刻的先后顺序；

根据所述先后顺序和所述差值的绝对值，对每个所述待测对象的第一时刻进行补偿。

7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述先后顺序和所述差值的绝对值，对每个所述待测对象的第一时刻进行补偿，包括：

当所述目标时刻位于所述第一时刻之前，在所述第一时刻的基础上减去所述差值的绝对值，作为所述待测对象输出的所述全部测试数据的起点。

8.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述先后顺序和所述差值的绝对值，对每个所述待测对象的第一时刻进行补偿，包括：

当所述目标时刻位于所述第一时刻之后，在所述第一时刻的基础上加上所述差值的绝对值，作为所述待测对象输出的所述全部测试数据的起点。

9.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述基于每个所述待测对象的全部测试数据，分别确定每个所述待测对象的测试结果，包括：

所述待测对象的所述全部测试数据与输入数据相同，则确定所述待测对象的测试结果为测试通过；

所述待测对象的所述全部测试数据与所述输入数据不同，则确定所述待测对象的测试结果为测试失败。