[发明专利]一种测试方法

说明书

本公开提供了一种测试方法，用于对芯片进行测试，测试方法包括：获取多个待测对象中每个待测对象开始输出测试数据的第一时刻；基于多个第一时刻，获得目标时刻；基于目标时刻，对每个待测对象的第一时刻进行补偿，以使每个待测对象输出的全部测试数据的起点均为目标时刻；基于每个待测对象的全部测试数据，分别确定每个待测对象的测试结果。本公开通过获取多个待测对象的第一时刻以及与多个第一时刻相关的目标时刻，基于目标时刻对每个待测对象的第一时刻进行补偿，使得多个待测对象开始输出测试数据的时刻相同，以避免多个待测对象输出测试数据的时刻差异导致的测试结果误判，提高芯片测试准确性、可靠性和芯片良率。

技术领域

本公开涉及半导体技术领域，尤其涉及一种测试方法。

背景技术

芯片在制造出厂之前需要进行一系列测试，例如可靠性测试、老化测试、读写能力测试等。在进行读写测试时，由于芯片在制造过程中受到的制程工艺等因素的影响，不同的芯片读出数据所需的时间具有一定的差异，测试设备如果在同一时刻对多个芯片进行测试容易造成误判，导致芯片的良率较低。

发明内容

以下是对本公开详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

本公开提供了一种测试方法，用于对芯片进行测试，所述测试方法包括：

获取多个待测对象中每个所述待测对象开始输出测试数据的第一时刻；

基于多个所述第一时刻，获得目标时刻；

基于所述目标时刻，对每个所述待测对象的所述第一时刻进行补偿，以使每个所述待测对象输出的全部测试数据的起点均为所述目标时刻；

基于每个所述待测对象的所述全部测试数据，分别确定每个所述待测对象的测试结果。

本公开一些实施例中，所述获取多个待测对象中每个所述待测对象开始输出测试数据的第一时刻，包括：

以第一预设时长作为一个采集周期，采集每个所述待测对象的输出数据，每个所述采集周期中，每间隔第二预设时长作为一个采样点，分别获取每个所述待测对象开始输出所述测试数据的所述采样点的时刻作为所述第一时刻。

本公开一些实施例中，所述测试方法还包括：

按照时间先后顺序，对多个所述第一时刻进行排序，将除排序为第一的所述第一时刻之外的其余所述第一时刻分别与排序为第一的所述第一时刻作差，将差值大于第三预设时长的所述第一时刻对应的所述待测对象舍弃；

其中，所述第三预设时长小于所述第一预设时长。

本公开一些实施例中，所述基于多个所述第一时刻，获得目标时刻，包括：

基于被保留的多个所述第一时刻，获得所述目标时刻，其中，被保留的每个所述第一时刻与排序为第一的所述第一时刻之间的差值小于或等于所述第三预设时长。

本公开一些实施例中，所述测试方法还包括：

确定所述差值大于所述第三预设时长的所述第一时刻对应的所述待测对象的所述测试结果为测试失败。

本公开一些实施例中，所述基于多个所述第一时刻，获得目标时刻，包括：

将多个所述第一时刻的平均值作为所述目标时刻。

本公开一些实施例中，所述基于多个所述第一时刻，获得目标时刻，包括：

将多个所述第一时刻的中位数作为所述目标时刻。

本公开一些实施例中，所述基于多个所述第一时刻，获得目标时刻，包括：

将多个所述第一时刻中的最大值或者最小值作为所述目标时刻。