[发明专利]采用交叉线的镁锂合金图像晶粒计数方法及系统在审

专利信息
申请号: 202310260339.4 申请日: 2023-03-10
公开(公告)号: CN116563209A 公开(公告)日: 2023-08-08
发明(设计)人: 杨胜军;唐颂;潘海朗 申请(专利权)人: 深圳南芯智控技术有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市龙岗区园山街道保安*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种采用交叉线的镁锂合金图像晶粒计数方法及系统,该方法先提取镁锂合金图像上的所有晶界和各个晶界之间的交叉点,再将所有晶界交叉点用直线连接,根据直线(交叉线)产生的交叉点计算图像中晶粒的数量。首先,采用显微镜摄像头采集镁锂合金表面的图像,采用卷积方法提取图像中所有晶界交叉点,采用Canny算子提取图像中所有晶界(边缘线),采用霍夫变换直线检测方法提取所有边缘直线。然后按顺序将图像中各个晶界交叉点与不相邻(不在同一晶界的两端)的其他晶界交叉点用直线连接,采用卷积方法提取这些直线(交叉线)产生的交叉点,将提取的交叉点进行聚类,将属于同一晶粒的交叉点存入同一数组。最后统计数组的数量值,求得的数量值为图像中的晶粒数量。本发明方法简单、实现容易,降低了晶粒计数的计算复杂性。
搜索关键词: 采用 交叉 合金 图像 晶粒 计数 方法 系统
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳南芯智控技术有限公司,未经深圳南芯智控技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310260339.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top