[发明专利]采用交叉线的镁锂合金图像晶粒计数方法及系统在审
申请号: | 202310260339.4 | 申请日: | 2023-03-10 |
公开(公告)号: | CN116563209A | 公开(公告)日: | 2023-08-08 |
发明(设计)人: | 杨胜军;唐颂;潘海朗 | 申请(专利权)人: | 深圳南芯智控技术有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/13 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙岗区园山街道保安*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种采用交叉线的镁锂合金图像晶粒计数方法及系统,该方法先提取镁锂合金图像上的所有晶界和各个晶界之间的交叉点,再将所有晶界交叉点用直线连接,根据直线(交叉线)产生的交叉点计算图像中晶粒的数量。首先,采用显微镜摄像头采集镁锂合金表面的图像,采用卷积方法提取图像中所有晶界交叉点,采用Canny算子提取图像中所有晶界(边缘线),采用霍夫变换直线检测方法提取所有边缘直线。然后按顺序将图像中各个晶界交叉点与不相邻(不在同一晶界的两端)的其他晶界交叉点用直线连接,采用卷积方法提取这些直线(交叉线)产生的交叉点,将提取的交叉点进行聚类,将属于同一晶粒的交叉点存入同一数组。最后统计数组的数量值,求得的数量值为图像中的晶粒数量。本发明方法简单、实现容易,降低了晶粒计数的计算复杂性。 | ||
搜索关键词: | 采用 交叉 合金 图像 晶粒 计数 方法 系统 | ||
【主权项】:
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